離子減薄制樣技術(shù)屬于離子束加工的范疇。其方法是用高能離子束轟擊樣品表面、高能離子與樣品表面原子發(fā)生彈性碰撞、樣品表面原子能量增大至高于該原子的逸出功時,便飛離樣品,這樣就使樣品表面不斷失去原子——減...
查看詳情離子減薄制樣技術(shù)屬于離子束加工的范疇。其方法是用高能離子束轟擊樣品表面、高能離子與樣品表面原子發(fā)生彈性碰撞、樣品表面原子能量增大至高于該原子的逸出功時,便飛離樣品,這樣就使樣品表面不斷失去原子——減...
查看詳情摘要使用徠卡 EM RES102,使您的樣品具備的靈活性,具有輕薄、清潔、拋光、切割的坡度和結(jié)構(gòu)。的離子束研磨系統(tǒng)結(jié)合了在一個單工作臺面單元上制備TEM、SEM和LM樣品的特點。各種樣品架可以進(jìn)行多元化應(yīng)用。除了高能量的離子銑工藝,徠卡EM RES102也可適于采用低離子...
在線詢價摘要 PIPS II 精密離子減薄儀包含了 WhisperLok®,能對減薄樣品進(jìn)行準(zhǔn)確定位。10英寸觸摸屏簡單易用,提高對減薄區(qū)域的精度控制和減薄過程的可重復(fù)性。
在線詢價摘要 TEM Mill 作為采用技術(shù)制造的精密離子研 磨及拋光系統(tǒng),提供可靠、高性能的樣品制備 能力,能夠為透射電鏡制備滿足電子束穿透的 大面積薄區(qū)樣品,同時具備緊湊、精確以及高 穩(wěn)定性的優(yōu)點。
在線詢價摘要設(shè)備介紹離子減薄儀(PrecisionIonPolishingSystem),為整套TEM樣品制備的道工序,經(jīng)氬離子減薄的樣品可在TEM下直接觀察,入射角可以從10至-10,制樣速度快,能夠以最小的耗費制備出高質(zhì)量的TEM樣品;儀器操作方便快捷;配備了低能量離子槍功能...
在線詢價摘要Leica EM RES102 通過離子槍激發(fā)獲得離子束,以一定入射角度對樣品進(jìn)行轟擊,以去除樣品表面原子,從而實現(xiàn)對樣品的離子束加工。Leica EM RES102主要功能為:對無機薄片樣品進(jìn)行離子減薄,使得薄片樣品可被透射電子穿過,從而適宜TEM透射電子顯微鏡觀察...
在線詢價摘要Leica EM RES102 多功能離子減薄儀 2018/06/20 Leica EM RES102 多功能離子減薄儀通過離子槍激發(fā)獲得離子束,以一定入射角度對樣品進(jìn)行轟...
在線詢價摘要 使用徠卡 EM RES102多功能離子減薄儀,使您的樣品具備的靈活性,具有輕薄、清潔、拋光、切割的坡度和結(jié)構(gòu)。的離子束研磨系統(tǒng)結(jié)合了在一個單工作臺面單元上制備TEM、SEM和LM樣品的特點。
在線詢價摘要 關(guān)鍵詞:RIE、RIBE、反應(yīng)離子束刻蝕、CAIEB、化學(xué)輔助離子束刻蝕、過渡金屬、磁性材料、MRAM、GMR、TMR、Pt、Cu、TeGe、PZT型號:MU700S;產(chǎn)地:歐洲
在線詢價摘要 LeicaEMRES102通過LeicaEMRES102通過離子槍激發(fā)獲得離子束,以一定入射角度對樣品進(jìn)行轟擊,以去除樣品表面原子,從而實現(xiàn)對樣品的離子束加工
在線詢價摘要Leica EM RES102 多功能離子減薄儀通過離子槍激發(fā)獲得離子束,以一定入射角度對樣品進(jìn)行轟擊,以去除樣品表面原子,從而實現(xiàn)對樣品的離子束加工。Leica EM RES102主要功能為:對無機薄片樣品進(jìn)行離子減薄,使得薄片樣品可被透射電子穿過,從而適宜TEM透...
在線詢價摘要 關(guān)鍵詞:RIE、RIBE、反應(yīng)離子束刻蝕、CAIEB、化學(xué)輔助離子束刻蝕、過渡金屬、磁性材料、MRAM、GMR、TMR、Pt、Cu、TeGe、PZT型號:MU450;產(chǎn)地:歐洲
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