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產(chǎn)品介紹：
美國Rtec公司變焦式三維形貌儀是微納米級質(zhì)量保證的光學(xué)三維粗糙度輪廓儀，其原理是采用目前世界的自動變焦（Focus-Variation）技術(shù)。該技術(shù)將小景深的光學(xué)系統(tǒng)與垂直掃描*地結(jié)合在一起。
產(chǎn)品特點：
 

• 能夠同時測量表面形貌和粗糙度
• 能夠測量小半徑和小角度
• 能夠測量超過80°的斜面
• 可獲得真實的表面顏色信息
• 具有較高的測量速度
• 適用于苛刻環(huán)境下的檢測（有噪音或振動）
• 提供360°的形狀和粗糙度測量
• 不同表面表征的檢測（光滑表面或粗糙表面，樣品無需專門處理）
• SPIP專業(yè)數(shù)據(jù)分析軟件

 產(chǎn)品參數(shù)：

• 垂直分辨率：10nm
• 水平光學(xué)分辨率：300nm
• 水平取樣距離：90nm
• zui大掃描高度：22mm
• zui大掃描面積：10000mm²

 
產(chǎn)品應(yīng)用：
    該儀器的應(yīng)用領(lǐng)域覆蓋了薄膜/涂層、光學(xué)元器件、金屬、紙、聚合物、生物材料、陶瓷、磁介質(zhì)和半導(dǎo)體等幾乎所有的材料領(lǐng)域。可測透明、半透明，高漫反射、低反射率，拋光、粗糙材料等（金屬、玻璃、木頭、合成材料、光學(xué)材料、塑料、涂層、涂料、漆、紙、皮膚、頭發(fā)、牙齒…）

 

• 曲率半徑
• 三維和二維成像
• 薄膜厚度
• 臺階高度
• 孔洞深度
• 表面形貌測量
• 粗糙度測量
• 表面紋理測量
• 面積和體積的測量與分析