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用于化學(xué)機(jī)械拋光的研究和開發(fā)的各個方面
•測試和開發(fā)各種不同的微粒,材料,濃度,氧化劑,抑制劑等的拋光液
•測試和開發(fā)不同的材料,溝槽形狀,尺寸,彈性,壽命等
•測試和發(fā)展拋光墊調(diào)節(jié)裝置來優(yōu)化拋光墊的損耗率,修整,效率等
•開發(fā)CMP定位環(huán)材料來優(yōu)化摩擦,磨損,壽命等
•測試去除率,重復(fù)性缺陷,工藝優(yōu)化等,研究或開發(fā)各種應(yīng)用的各種材料
•半導(dǎo)體方面 - 銅,Ta, TaN, Al, Si, SiO, Ru, WC, solar cells, PVD, CVD, 薄膜等
•化合物半導(dǎo)體 - 砷化鎵,銦,磷化物,汞,鎘
•應(yīng)用生物材料 - 牙,骨,鈦,鋼鐵制品等。
•光電材料 – LED,藍(lán)寶石,紅外窗口拋光激光材料,顯微鏡頭,微光學(xué),鈮酸鋰,鉭酸鋰,磷酸氧鈦鉀等。
同時實時監(jiān)測及處理
•通過在晶圓墊和調(diào)節(jié)墊界面處的擁有的傳感器,測量負(fù)載和摩擦力,
•通過在晶圓墊和調(diào)節(jié)墊界面處的擁有的傳感器和放大器,測量接觸噪聲
•使用聲波表征的缺陷、劃痕,并在加工過程中分層
•監(jiān)測流入的拋光液,拋光片表面和流出廢液的溫度