• 的全自動(dòng)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng);
• 靈活度高,測(cè)試速度快,可廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中的各個(gè)測(cè)試領(lǐng)域;
• 三種基本系統(tǒng)配置選擇,滿足不同種類用戶需求:1. 滿足一般工藝監(jiān)控的基本配置;2. 滿足CMOS測(cè)試要求的小電流配置;3. 滿足大功率器件測(cè)試要求的大電壓配置;
• 搭配全自動(dòng)探針臺(tái)實(shí)現(xiàn)片上全自動(dòng)測(cè)試;
• 可靈活擴(kuò)展電壓、電流測(cè)試范圍,滿足各類測(cè)試需求;
• 的測(cè)試技術(shù)保證了系統(tǒng)的高精度性,既可滿足實(shí)驗(yàn)室要求,也可滿足工業(yè)化要求。
如2600-PCT-xb測(cè)試系統(tǒng)配備吉時(shí)利的S500系列自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),就可以實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)快速測(cè)試,通過(guò)預(yù)設(shè)程序配合自動(dòng)探針臺(tái)可在短時(shí)間內(nèi)完成片上測(cè)試,非常適于大批量工業(yè)化的半導(dǎo)體器件測(cè)試使用。