詳情介紹：
特殊長度
- 可以從0 nm開始進行低（殘留）延遲測量
- 可以與光軸檢測同時進行延遲（Re。）的高速測量（
可以在0.1秒或更短的時間內(nèi)完成處理，這相當于世界上*快的速度）。 - 由于沒有驅(qū)動單元，因此可實現(xiàn)高重復性
- 易于測量，只需設(shè)置很少的測量項目
- 除了550 nm的測量波長外，我們還有各種波長的產(chǎn)品系列。
- 可以進行Rth測量和全向測量
（需要可選的自動旋轉(zhuǎn)傾斜夾具） - 通過與拉伸測試儀結(jié)合使用，可以與薄膜的偏振特性同時評估光彈性
（該系統(tǒng)是定制的）。
測量項目
- 參考（ρ[°]，Re [nm]）
- 主軸方位角（θ°）
- 橢圓率（ε）/方位角（γ）
- 三維折射率（NxNyNz）
測量目標
- 相差膜，偏光膜，橢圓膜，視角改善膜，各種功能膜
- 透明和各向異性的物質(zhì)，例如樹脂和玻璃（玻璃中的應變，變形等）
- 產(chǎn)品信息
- 原則
- 規(guī)格
- 測量例
相關(guān)信息
相關(guān)產(chǎn)品
| | 相差膜/光學材料檢查裝置RETS-100 |
| | 反射光譜膜厚儀FE-3000 |
| | 膜厚計FE-300 |
| | 光譜橢偏儀FE-5000 / 5000S |
| | 多通道光譜儀MCPD-9800 / 6800 |
| | 量子效率測量系統(tǒng)QE-2000 / 2100 |
