詳情介紹：
特殊長度
- 支持從薄膜到厚膜的各種膜厚
- 使用反射光譜進行膜厚分析
- 緊湊且價格低廉，實現(xiàn)了非接觸，無破壞的高精度測量
- 簡便的條件設置和測量操作！任何人都可以輕松測量薄膜厚度
- 通過峰谷法，頻率分析法，非線性*小二乘法，優(yōu)化方法等，可以進行各種各樣的膜厚測量。
- 通過非線性*小二乘薄膜厚度分析算法可以進行光學常數(shù)分析（n：折射率，k：消光計數(shù)）。
測量項目
- 優(yōu)良反射率測量
- 膜厚分析（10層）
- 光學常數(shù)分析（n：折射率，k：消光計數(shù)）
測量目標
- 功能膜，塑料
透明導電膜（ITO，銀納米線），相位差膜，偏光膜，AR膜，PET，PEN，TAC，PP，PC，PE，PVA，膠粘劑，膠粘劑，保護膜，硬涂層，抗指紋， 等等。 - 半導體
化合物半導體，硅，氧化膜，氮化膜，抗蝕劑，SiC，GaAs，GaN，InP，InGaAs，SOI，藍寶石等。 - 表面處理
DLC涂層，防銹劑，防霧劑等 - 光學材料
濾鏡，增透膜等 - FPD
LCD（CF，ITO，LC，PI），OLED（有機膜，密封劑）等 - 其他
硬盤，磁帶，建筑材料等
- 產(chǎn)品信息
- 原則
- 規(guī)格
- 設備配置
相關信息
相關產(chǎn)品
| | 反射光譜膜厚儀FE-3000 |
| | 嵌入式膜厚監(jiān)測儀 |
| | 多通道光譜儀MCPD-9800 / 6800 |
| | 光譜橢偏儀FE-5000 / 5000S |
| | 光譜干涉晶圓測厚儀SF-3 |
