摘要ZetaCAD固體表面Zeta電位分析儀是直接測(cè)定流動(dòng)電位/流動(dòng)電流的Zeta電位分析儀，幫助科研人眼在化學(xué)于材料科科學(xué)領(lǐng)域內(nèi)改善和調(diào)整表面特征。適用于沉積的大顆粒、纖維、和平坦的表面，或在一個(gè)壓力梯度下電解液科研透過(guò)的曲面膠或中空纖維樣品，包括聚合物、紡織、陶瓷、玻...

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摘要 DT-330 固體表面電位儀許多的科學(xué)家把聲學(xué)應(yīng)用到膠體體系中，我們常提及的名字:斯托克斯，瑞利，麥克斯韋，亨利，廷德?tīng)枺字Z，德拜。通過(guò)聲學(xué)和電聲學(xué)手段會(huì)提供關(guān)于顆粒表征的三個(gè)重要領(lǐng)域的信息: 粒徑分布，流變學(xué)和電動(dòng)學(xué)。

摘要 納米粒度和Zeta電位分析儀是用于表征分散型樣品和溶液中納米顆粒以及微米顆粒的儀器。它可通過(guò)測(cè)量動(dòng)態(tài)光散射 （DLS）、電泳光散射 （ELS） 和靜態(tài)光散射 （SLS） 來(lái)測(cè)定顆粒尺寸、zeta電位和分子質(zhì)量。

摘要 法國(guó)Bio-logic 強(qiáng)電流恒電位儀 HCP-1005是一個(gè)緊湊的強(qiáng)電流恒電位儀，專門為具有高容量的二次電池研究而設(shè)計(jì)

摘要 BiStat 3200 高品質(zhì)雙通道恒電位儀法國(guó)*產(chǎn)品,主要用于: 儲(chǔ)能, 傳感器, 電鍍, 腐蝕及電池的研究，滿足苛刻的應(yīng)用研究要求。

摘要 經(jīng)濟(jì)型單通道恒電位儀/恒電流儀SP-150是一款全功能的經(jīng)濟(jì)型研究級(jí)恒電位儀/恒電流儀。憑借其模塊化的機(jī)箱，此儀器可以定制，以滿足傳統(tǒng)電化學(xué)領(lǐng)域的所有應(yīng)用程序。

摘要DT-1202 超聲粒度和zeta電位分析儀美國(guó)分散科技公司（DTI）專注于非均相體系表征的科學(xué)儀器業(yè)務(wù)。DTI開(kāi)發(fā)的基于超聲法原理的儀器主要應(yīng)用于在原濃的分散體系中表征粒徑分布、zeta電位、流變學(xué)參數(shù)、固體含量、孔隙率，包括CMP漿料，納米分散體，陶瓷漿料，電池漿...

摘要 DT-300 電聲法Zeta電位儀許多的科學(xué)家把聲學(xué)應(yīng)用到膠體體系中，我們常提及的名字:斯托克斯，瑞利，麥克斯韋，亨利，廷德?tīng)?，雷諾，德拜。。。。。。通過(guò)聲學(xué)和電聲學(xué)手段會(huì)提供關(guān)于顆粒表征的三個(gè)重要領(lǐng)域的信息: 粒徑分布，流變學(xué)和電動(dòng)學(xué)。

摘要 DT-310電聲法Zeta電位儀Zeta電位儀：許多的科學(xué)家把聲學(xué)應(yīng)用到膠體體系中，我們常提及的名字:斯托克斯，瑞利，麥克斯韋，亨利，廷德?tīng)?，雷諾，德拜。。。。。。通過(guò)聲學(xué)和電聲學(xué)手段會(huì)提供關(guān)于顆粒表征的三個(gè)重要領(lǐng)域的信息: 粒徑分布，流變學(xué)和電動(dòng)學(xué)。

摘要502型顯微電泳法Zeta電位儀●通過(guò)傳統(tǒng)微電泳方法測(cè)量膠體顆粒的zeta 電位。與激光光散射法相比，沒(méi)有黑盒子?！?02的*的超顯微鏡設(shè)計(jì)提供了一個(gè)高對(duì)比度的圖像，即使是納米粒子。依賴于顆粒對(duì)懸浮介質(zhì)的相對(duì)折射率不同，可測(cè)量小至20nm的顆粒。●高水平的激光光學(xué)系統(tǒng)...

摘要 電位儀可廣泛應(yīng)用于電極過(guò)程動(dòng)力學(xué)、化學(xué)電源、電鍍、金屬腐蝕、電化學(xué)分析及有機(jī)電化學(xué)合成等方面的研究

摘要

摘要 粒徑分析儀采用專門的電動(dòng)聲波振蕩技術(shù)，該儀器可完成非凡的電動(dòng)測(cè)量結(jié)果，從而避免了傳統(tǒng)的微電泳技術(shù)的許多限制和局限，該儀器可同時(shí)測(cè)量Zeta電位、PH、電導(dǎo)、溫度等指標(biāo)。樣品在測(cè)量時(shí)甚至可以進(jìn)行滴定操作；

摘要 Zeta Probe高濃度Zeta濃漿電位儀公司技術(shù)－多頻電聲學(xué)測(cè)量技術(shù)測(cè)量膠體體系的Zeta電位。對(duì)于高達(dá)60％（體積）濃度的樣品，無(wú)需進(jìn)行樣品稀釋或前處理即可直接測(cè)量。這一特點(diǎn)對(duì)鈦、油墨、色漿、CMP研磨漿料等高濃度體系的研究極為關(guān)鍵。

摘要 ZetaPlus Zeta電位分析儀它的革新之處是從根本上消除了傳統(tǒng)Zeta電位測(cè)量?jī)x器中固有的電滲誤差的影響，從而使測(cè)量變得準(zhǔn)確而方便。

摘要 ZetaPALS 高靈敏度Zeta電位分析儀這就是因?yàn)槠潆娪具w移率比通常水相條件下低10－1000倍，傳統(tǒng)方法沒(méi)有足夠的靈敏度進(jìn)行測(cè)量，ZetaPALS的出現(xiàn)為他們提供了準(zhǔn)確可信的測(cè)量技術(shù)。

摘要 90Plus Zeta 納米粒度及Zeta電位分析儀價(jià)格它的革新之處是從根本上消除了傳統(tǒng)Zeta電位測(cè)量?jī)x器中固有的電滲誤差的影響，從而使測(cè)量變得準(zhǔn)確而方便。

摘要 90Plus Zeta 納米粒度及Zeta電位分析儀納米粒度測(cè)量部分使用動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)（Dynamic Light Sacttering, DLS）, 即由于顆粒在懸浮液中的布朗運(yùn)動(dòng)，使得光強(qiáng)隨時(shí)間產(chǎn)生脈動(dòng)。

摘要美國(guó)MAS ZetaAPS電位分析儀Zeta-ASP是高濃度膠體和乳液的特性參數(shù)檢測(cè)儀，可以測(cè)試：粒徑、Zeta電位、滴定、電導(dǎo)等。此儀器容易使用、測(cè)量精確。對(duì)于高達(dá)60%（體積）濃度的樣品，也無(wú)需進(jìn)行稀釋或樣品前處理，即可直接測(cè)量甚至對(duì)于漿糊凝膠、水泥以及用其它儀器...

摘要 美國(guó)MAS納米粒度儀，APS 從聲衰減光譜測(cè)量產(chǎn)生PSD數(shù)據(jù)，不需要稀釋樣品。APS還測(cè)量粒度范圍的10納米到100微米的樣品的聲音速度譜、pH、電導(dǎo)率和溫度。

摘要 美國(guó)MAS高濃度納米粒度儀,APS 從聲衰減光譜測(cè)量產(chǎn)生PSD數(shù)據(jù)，不需要稀釋樣品。APS還測(cè)量粒度范圍的10納米到100微米的樣品的聲音速度譜、pH、電導(dǎo)率和溫度。

摘要 進(jìn)口Zeta納米分析儀該儀器操作非常簡(jiǎn)單。它提供電腦控制、自動(dòng)測(cè)量，不須特別的樣品池，樣品可隨時(shí)從任何現(xiàn)場(chǎng)或?qū)嶒?yàn)中獲取，可直接實(shí)時(shí)獲得理想的數(shù)據(jù)。

摘要 ZA500電位分析儀采用專門的電動(dòng)聲波振蕩技術(shù)，該儀器可完成非凡的電動(dòng)測(cè)量結(jié)果，從而避免了傳統(tǒng)的微電泳技術(shù)的許多限制和局限，該儀器可同時(shí)測(cè)量Zeta電位、PH、電導(dǎo)、溫度等指標(biāo)。樣品在測(cè)量時(shí)甚至可以進(jìn)行滴定操作；

摘要 APS-100高濃度納米粒度儀，APS 從聲衰減光譜測(cè)量產(chǎn)生PSD數(shù)據(jù)，不需要稀釋樣品。APS還測(cè)量粒度范圍的10納米到100微米的樣品的聲音速度譜、pH、電導(dǎo)率和溫度。

摘要 恒電位儀主要用于測(cè)量各種氧化合物比如兒茶酚胺類（腎上腺素、*、多巴胺），吲哚胺類（5-羥色胺、褪黑素），抗壞血酸和Fe（II）等，靈敏高、低噪聲、定位專一性好。

摘要 Zeta-388 白光共聚焦可同時(shí)采集高分辨率3D數(shù)據(jù)和True Color（真彩）無(wú)限遠(yuǎn)焦點(diǎn)圖像。Zeta-388具備Multi-Mode（多模式）光學(xué)系統(tǒng)、簡(jiǎn)單易用的軟件、低擁有成本，以及SECS / GEM通信，適用于研發(fā)及生產(chǎn)環(huán)境。

摘要Keithley 恒電位儀2450-EC、2460-EC 和 2461-EC 恒電位儀操作靈活、成本低，非常適合于基本電化學(xué)實(shí)驗(yàn)室研究、檢定下一代材料和電解質(zhì)、新型儲(chǔ)能裝置以及更快更小巧傳感器的研究和開(kāi)發(fā)。 這些恒電位儀包含電化學(xué)測(cè)試過(guò)程所需的一切功能，包括循環(huán)、方波...

摘要 德國(guó)BANK ELEKTRONIK恒電位儀產(chǎn)品范圍：德國(guó)BANK ELEKTRONIK電位儀、BANK ELEKTRONIK恒電位儀、BANK ELEKTRONIK、BANK ELEKTRONIK多路恒電位儀

摘要 Zeta電位測(cè)量?jī)x可用于測(cè)定分散體系顆粒物的固－液界面電性（ζ電位），也可用于測(cè)量乳狀液液滴的界面電性，也可用于測(cè)定等電點(diǎn)、研究界面反應(yīng)過(guò)程的機(jī)理。通過(guò)測(cè)定顆粒的Zeta電位，求出等電點(diǎn)，是認(rèn)識(shí)顆粒表面電性的重要方法，在顆粒表面處理中也是重要的手段。

摘要 CH-1型恒電位儀，采用三電極系統(tǒng)電解池，給定電位、補(bǔ)償電流及所測(cè)電流由LED顯示。與掃描電壓發(fā)生器相連就是一臺(tái)高精度伏安儀，在x-y函數(shù)記錄儀上可記錄電流——電位曲線。

摘要 CMBP-1型雙恒電位儀主要與旋轉(zhuǎn)環(huán)盤電極配套用于研究氧化還原反應(yīng)的機(jī)理和動(dòng)力學(xué)，亦可作為單恒電位儀應(yīng)用于普通的兩電極或三電極系統(tǒng)，儀器控制精度高、功能強(qiáng)、穩(wěn)定性好，是極譜分析、腐蝕研究的理想儀器。

摘要 SZ100納米粒度 Zeta電位分析儀廣泛測(cè)定樣品濃度范圍通過(guò)采用雙重光學(xué)系統(tǒng)，可以進(jìn)行釉漿、顏料等高濃度樣品以及膠束、聚合物等低濃度樣品的測(cè)定。

摘要 Nanotrac wave II納米粒度及zeta電位儀準(zhǔn)確性：全量程米氏理論及非球形顆粒校正因子，測(cè)量精度: 無(wú)需預(yù)選，依據(jù)實(shí)際測(cè)量結(jié)果，自動(dòng)生成單峰/多峰分布結(jié)果。

摘要 90Plus PALS高靈敏度Zeta電位及粒度分析儀是目前少有的能夠精確測(cè)量低電泳遷移率體系Zeta電位的儀器，它采用的是真正的硬件PALS（相位分析光散射）技術(shù)，比其它測(cè)量Zeta電位的技術(shù)靈敏度高1000倍！

摘要Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀*結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技術(shù)，擁有15°、90°與173°三個(gè)散射角度，突破了傳統(tǒng)單角度...

摘要 DT-300/310電聲法zeta電位分析儀采用電聲測(cè)量技術(shù)進(jìn)行zeta電位測(cè)量，超聲探頭（Zeta Probe）直接測(cè)量原始樣品的zeta電位，用于懸浮液和乳液表征；可以是水相，極性和非極性溶劑。

摘要SMW12083036KANT802-100-221PERMA27005081SMW88809PILZ777760 PNOZ X8P 24 VDC 3n/o 2n/c 2soKitagawa GmbHKGLS-10SAirComAIC-FM-03_02ATOSE-ME...

摘要parkerD1SE83BNJWheidenhain336963-20ICARMLR25M5060060138/I-MK SHFLOWSERVEWDB0137200 ，2SWITCH,NAMER SHAFT,SHORT;P+F NJ4-12 GM40-E;PROMIN...

摘要Mahle德國(guó)helios海洛斯TiefenbachTiefenbach德國(guó)VEMVSETiefenbachPARKERVSEPARKERTiefenbachPARKEREMODTiefenbachPARKER德國(guó)JAHNS雅恩斯PARKERBIKON-Technik...

摘要 SurPASS 3固體表面Zeta電位/流動(dòng)電流電勢(shì)分析儀儀器名稱：Zeta電位分析儀研究對(duì)象：纖維、薄膜、粉末、粒子、固體金屬或非金屬片等材料。主要用途：測(cè)量材料的表面電荷，了解材料表面上的電荷狀況，研究材料表面性能。

摘要 Litesizer™ 500納米粒度zeta電位儀Litesizer 500安東帕作為高性能分析儀器的*開(kāi)發(fā)商和制造商，它將其物理和工程專業(yè)技術(shù)與當(dāng)代的軟件創(chuàng)意相結(jié)合，研發(fā)出直觀又輕松易用的顆粒分析儀。

摘要 SurPASS固體表面 Zeta 電位分析儀在表面分析中，固體表面 Zeta電位分析儀SurPASS 3基于流動(dòng)電勢(shì)和流動(dòng)電流測(cè)量法，從而研究宏觀固體表面 Zeta電位。 它可以提供有關(guān)表面電荷和相關(guān)性質(zhì)的信息，并可檢測(cè)表面性質(zhì)中微小的變化。

摘要 主要用途：恒電位儀是外加電流陰極保護(hù)系統(tǒng)中向被保護(hù)金屬構(gòu)筑物表面提供直流的關(guān)鍵設(shè)備