美國(guó)MAS ZetaAPS電位分析儀
Zeta-ASP是高濃度膠體和乳液的特性參數(shù)檢測(cè)儀，可以測(cè)試：粒徑、Zeta電位、滴定、電導(dǎo)等。
此儀器容易使用、測(cè)量精確。對(duì)于高達(dá)60%（體積）濃度的樣品，也無需進(jìn)行稀釋或樣品前處理，即可直接測(cè)量甚至對(duì)于漿糊凝膠、水泥以及用其它儀器很難測(cè)量的材料都可直接進(jìn)行測(cè)量。
美國(guó)MAS ZetaAPS電位分析儀
典型應(yīng)用：
綜合穩(wěn)定水泥漿，陶瓷，化學(xué)機(jī)械研磨，煤漿，涂料，化妝品，環(huán)境保護(hù)禪選法礦物富集，食品工業(yè)，乳膠，微乳，混合分散體系，納米粉，無水體系，油漆成像材料。
主要特點(diǎn)：
1）能分析多種分散物的混合體；
2）無需依賴Double Layer模式，精確地判定等電點(diǎn)；
3）可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系；
4）可排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾；
5）可精確測(cè)量無水體系；
6）Zeta電位測(cè)試采用多頻電聲測(cè)量技術(shù)，無需先測(cè)量粒度即可進(jìn)行電位測(cè)量；
7）樣品的高濃度可達(dá)60%(體積比)，被測(cè)樣品無需稀釋，對(duì)濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測(cè)量；
8）具有自動(dòng)電位滴定功能；
優(yōu)于光學(xué)方法的技術(shù)優(yōu)勢(shì)：
1)被測(cè)樣品無需稀釋；
2)排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾；
3)不需定標(biāo)；
4)能分析多種分散物的混合體；
5)高精度；
6)所檢側(cè)粒徑范圍款從5 nm至1000um
美國(guó)MAS ZetaAPS電位分析儀
優(yōu)于electroactics方法的技術(shù)優(yōu)勢(shì)：
1)無需定標(biāo)；
2)能測(cè)更寬的粒徑范圍；
3)無需依賴Double Layer模式
4)無需依賴( electric surface properties)電表面特牲；
5)零表面電荷條件下也可測(cè)量粒徑；
6)可適用于無水體系；
7)可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系；
優(yōu)于微電泳方法的技術(shù)優(yōu)勢(shì)：
1)無需稀釋，固合量高達(dá)60%；
2)可排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾；
3)高精度(±0.1mv)；
4)低表面電荷(可低至0. 1mv)；
5)electrosmotic flow不影響測(cè)量；
6)對(duì)流(convection)不影響測(cè)量；
7)可精確測(cè)量無水體系；
技術(shù)參數(shù)：
1)所檢測(cè)粒徑范圍寬：從5 nm至1000um；
2)可測(cè)量參數(shù)：粒度分布、固含量、Zeta電位、等電點(diǎn)IEP、E5A、電導(dǎo)率、PH、溫度、聲衰減；
3)Zeta電位測(cè)量范圍：+/-200 mv，低表面電荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv);
4)零表面電荷條件下也可測(cè)量粒徑；
5)允許樣品濃度：0.1-60%(體積百分?jǐn)?shù))；
6)樣品體積：30-230ml；
7)PH范圍：0~14;
8)電導(dǎo)率范圍：0~10 s/m
