工作原理90Plus Zeta 納米粒度及Zeta電位分析儀價(jià)格
納米粒度測量部分使用動態(tài)光散射技術(shù)(Dynamic Light Sacttering, DLS), 即由于顆粒在懸浮液中的布朗運(yùn)動,使得光強(qiáng)隨時(shí)間產(chǎn)生脈動。采用數(shù)字相關(guān)器(digital correlator)
技術(shù)處理脈沖信號,將光強(qiáng)的波動轉(zhuǎn)化為相關(guān)函數(shù)。自相關(guān)函數(shù)包含了懸浮顆?;蛘呷芤褐懈叻肿拥臄U(kuò)散速度信息,進(jìn)而利用Stokes-Einstein方程計(jì)算得出粒子的擴(kuò)散系數(shù)和粒子粒徑Rh及其分布:
ZetaPlus電位測量采用電泳光散射原理:帶電顆粒在外加電場作用下進(jìn)行運(yùn)動,電荷運(yùn)動使散射光產(chǎn)生頻率漂移(多普勒頻移),采用頻譜漂移分析技術(shù),從而可計(jì)算出顆粒的電泳遷移率和Zeta電位。90Plus Zeta 納米粒度及Zeta電位分析儀價(jià)格
技術(shù)優(yōu)勢-納米粒度測量部分:
1. 強(qiáng)大的TurboCorr數(shù)字相關(guān)器:*的相關(guān)器,擁有522個(gè)物理通道,相當(dāng)于超過1010個(gè)線性通道,25nS-1310S動態(tài)采樣時(shí)間及延遲時(shí)間分配,支持互相關(guān)測量,支持多路信號輸入(詳見相關(guān)資料)。
2. 采用35mW大功率固體激光器,在保證穩(wěn)定性的同時(shí)有效地提高了信噪比,更加有利于對極小粒度及極稀體系的測量(如圖1)。由于光束的良好聚焦,不會對體被測體系造成熱運(yùn)動影響,同時(shí)保證了更小的散射體積。
3. 高線性范圍的PMT檢測器和高靈敏的APD檢測器根據(jù)客戶實(shí)際實(shí)驗(yàn)要求選則。APD以其高靈敏度適用于納米顆粒的測量;PMT檢測器以其良好的線性范圍適合測量分布較寬的樣品體系。
4. 樣品池溫度控制范圍: -5 to 110℃±0.1℃。
技術(shù)優(yōu)勢-Zeta電位測量部分:
1. *樣品槽設(shè)計(jì):
傳統(tǒng)樣品槽電極設(shè)計(jì),使樣品槽內(nèi)不可避免產(chǎn)生反電泳運(yùn)動的電滲現(xiàn)象,所以測量必須在電滲運(yùn)動為零的穩(wěn)定層上進(jìn)行。尋找穩(wěn)定層增加了儀器設(shè)計(jì)的復(fù)雜性,用戶校準(zhǔn)也很麻煩,精度也難以保證。布魯克海文公司開發(fā)的新型樣品槽為開放式,從根本上杜絕了電滲現(xiàn)象。測試精度有了充分保證,用戶也省去了校準(zhǔn)、標(biāo)定、及費(fèi)心保養(yǎng)等麻煩,亦無交叉污染之憂。
2. 電極設(shè)計(jì):
鑒于使用傳統(tǒng)毛細(xì)管電泳方法測量Zeta電位存在的種種缺陷,布魯克海文公司開發(fā)設(shè)計(jì)了一代的插入式電極。該電極使用純金或純鈀做為電極材料,因此電極壽命極長;同時(shí),由于采用了開放式的設(shè)計(jì),電極的清洗變得簡單易行;更重要的是,對于被測體系驅(qū)動能力關(guān)鍵的是所加的電場強(qiáng)度(而不是電壓),由于這種電極的極板間距離相對更小,這樣就使得施加低電壓得到高場強(qiáng)成為可能,從而減小了測量過程中使用高電壓所產(chǎn)生的電流對膠體樣品的污染,
3. 內(nèi)置兩重精密的溫度控制單元,樣品溫度控制范圍: 5℃ to 90℃(選項(xiàng):-2°C to 102°C)。
4. 高線性范圍的PMT檢測器和高靈敏的APD檢測器根據(jù)客戶實(shí)際實(shí)驗(yàn)要求任選。