美國布魯克海文儀器公司上海代表處是美國布魯克海文儀器公司在中國的法定代表機(jī)構(gòu)。

美國布魯克海文儀器公司（BIC）是世界上的專業(yè)從事設(shè)計(jì)、開發(fā)和生產(chǎn)顆粒特性表征以及分子量測定儀器的高技術(shù)公司，其專家組成員包括在光散射研究領(lǐng)域具聲望的科學(xué)家，在他們的*下，并經(jīng)過*的研究與實(shí)踐，確立了BIC在光散射領(lǐng)域的主導(dǎo)者地位。

九十年代以來，BIC不斷推出新產(chǎn)品，包括相位光散射原理的Zeta電位分析儀(ZetaPALS)、高濃度粒度分析儀(BI-FOQELS)、實(shí)時(shí)在線粒度測量系統(tǒng)（ACOS）、數(shù)字相關(guān)器（TurboCorr）、以及多角度激光光散射儀（BI-MwA）與動靜態(tài)光散射系統(tǒng)(BI-200SM)等等，這些儀器所采用的技術(shù)都代表著該領(lǐng)域的很高成就。

²*臺數(shù)字相關(guān)器
²*塊單卡式數(shù)字相關(guān)器
²*個(gè)將背向光散射技術(shù)用于商業(yè)儀器
²*個(gè)使用插入式電極用于Zeta電位測量
²*個(gè)將X-射線用于粒度分析
²*個(gè)將PALS技術(shù)商業(yè)化
²*個(gè)將CCD檢測器用于多角光散射
²*臺實(shí)時(shí)在線粒度測量系統(tǒng)（ACOS）

BIC全面的光散射儀器為客戶提供系統(tǒng)的實(shí)驗(yàn)解決方案。目前，BIC的儀器已廣泛應(yīng)用于包括中國在內(nèi)的各國*實(shí)驗(yàn)室的研究中。BIC的總部設(shè)在美國的紐約，在40多個(gè)國家設(shè)有分支機(jī)構(gòu)。在中國設(shè)有技術(shù)服務(wù)中心和3個(gè)代表處，為客戶提供及時(shí)周到的技術(shù)枝持與售后服務(wù)。 ?

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產(chǎn)品簡介在線詢價(jià)

產(chǎn)地	進(jìn)口	加工定制	是

Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀*結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動態(tài)光散射技術(shù)以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技術(shù)，擁有15°、90°與173°三個(gè)散射角度，突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測量的局限性，硬件PALS技術(shù)*解決了低電泳遷移率體系Zeta電位的精確測量，是目前市場上功能*大的粒度與Zeta電位分析儀。

Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀-Zeta電位儀產(chǎn)品詳情

Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀

產(chǎn)品簡介：

Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀*結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動態(tài)光散射技術(shù)以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技術(shù)，擁有15°、90°與173°三個(gè)散射角度，突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測量的局限性，硬件PALS技術(shù)*解決了低電泳遷移率體系Zeta電位的精確測量，是目前市場上功能*大的粒度與Zeta電位分析儀。

詳細(xì)說明：

作為先將背向光散射技術(shù)（Back-Scattering）引入高濃度粒度分析的廠家，Brookhaven公司應(yīng)用全新的光纖技術(shù)將背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動態(tài)光散射技術(shù)進(jìn)行了*結(jié)合，突破性地推出了結(jié)合15°、90°與173°三個(gè)散射角度與硬件PALS（相位分析光散射）技術(shù)的Omni多角度粒與高靈敏度Zeta電位分析儀。隨著Omni的出現(xiàn)，突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測量的局限性，實(shí)現(xiàn)在同一臺粒度分析儀中，既可以同時(shí)兼顧大、小顆粒的散射光信號，又可以有效地提高了測量濃度上限，至高可達(dá)40%wt；硬件PALS技術(shù)（與傳統(tǒng)基于頻移技術(shù)的光散射方法相比，靈敏度可提高1000倍）的應(yīng)用，*解決了*以來無法對諸如在低介電常數(shù)、高粘度、高鹽度以及等電點(diǎn)附近這些測量條件下（電泳遷移率比通常水相條件下低10－1000倍，傳統(tǒng)方法沒有足夠的分辨率進(jìn)行測量）的樣品進(jìn)行分析的難題。Omni是目前市場上功能*大的粒度與Zeta電位分析儀。

NanoBrook產(chǎn)品系列

項(xiàng)目		173	173Plus	Omni	ZetaPALS
功能	粒度測量功能	●	●	●	○
	分子量測量功能	●	●	●	○
	Zeta電位測量功能	○	○	●	●
技術(shù) 參數(shù)	散射角	15°與173°	15°、90°與173°		○
	粒度范圍	0.3nm-10μm			○
	分子量測定范圍	342～2×10⁷Dalton			○
	相關(guān)器	4×522個(gè)物理通道，4×10¹¹個(gè)線性通道			○
	Zeta電位適用粒度范圍	○		1nm～100μm
	Zeta電位范圍	○		－500mV～500mV
	電導(dǎo)率范圍	○		0-30S/m
	電泳遷移率范圍	○		10^-11～10^-7m²/V.s
	電極	○		開放式持久型電極
系統(tǒng) 參數(shù)	溫控范圍與精度	－5～110℃，±0.1℃
	激光源	40mW光泵半導(dǎo)體激光器
	檢測器	PMT或APD
	分析軟件	Particle Solution粒度與Zeta電位分析軟件
	大小及重量	233mm（H）×427mm（W）×481mm（D），15kg
選件	BI-ZTU自動滴定儀	可對PH值、電導(dǎo)率和添加劑濃度作圖
	BI-870介電常數(shù)儀	直接測量溶劑的介電常數(shù)值
	BI-SV10粘度計(jì)	用于測量溶劑及溶液的粘度

●代表“有” ○代表“無”

典型應(yīng)用

1.蛋白、免疫球蛋白、縮氨酸、DNA、RNA、膠束

2.脂質(zhì)體、外切酶體及其他生物膠體

3.多糖、藥物制備

4.納米顆粒、聚合物膠乳、微乳液

5.油包水、水包油體系

6.涂料、顏料、油漆、油墨、調(diào)色劑

7.食品、化妝品配方

8.陶瓷、耐火材料、廢水處理、炭黑

應(yīng)用案例

不同粒徑對Zeta電位等電點(diǎn)的影響不同官能團(tuán)配比對等電點(diǎn)的影響 Zeta電位值與細(xì)胞吸收度的關(guān)系

通過調(diào)整顆粒的粒徑或正負(fù)電荷官能團(tuán)的比例，混合電荷修飾的納米金顆粒其等電點(diǎn)可以在4～7之間明顯的變化，不同比例的官能團(tuán)和顆粒的靜電荷對動物細(xì)胞吸收度有著重大影響。（數(shù)據(jù)摘自JACS）

技術(shù)參數(shù)

1.粒度測量范圍：0.3nm～10μm

2.Zeta電位測量適用粒度范圍：1nm～100μm

3.樣品濃度范圍：0.1ppm至40%w/v(與顆粒大小和折射率有關(guān))

4.典型精度：1％

5.樣品類型：蛋白、納米粒子、聚合物及分散于水或其他溶劑中的膠體樣品

6.樣品體積：1～3ml

7.分子量測定范圍：342～2×10⁷Dalton

8.Zeta電位范圍：-500mV～500mV

9.電導(dǎo)率范圍：0～30S/m

10.電泳遷移率范圍：10^-11 ～ 10^-7 m² /V.s

11.電場強(qiáng)度：0 ～ 60 kV/m

12.電極：持久性開放式電極，電極材料純鈀；耐腐蝕電極（選件）；微量電極（選件）

13.溫控范圍與精度：-5℃～110℃，±0.1℃。

14.pH測量范圍：1-14

15.激光源：40mW光泵半導(dǎo)體激光器（可選5mW He-Ne激光器）

16.檢測器：高靈敏雪崩型二極管（APD）

17.相關(guān)器：4×522個(gè)物理通道，4×10¹¹個(gè)線性通道，采用動態(tài)采樣時(shí)間及動態(tài)延遲時(shí)間分配

18.自動趨勢分析：對時(shí)間、溫度及其他參數(shù)

19.散射角：15°、90°與173°

20.室溫操作情況：10°C ～ 75°C，濕度 0% ～95%, 無冷凝

21.大小及重量：233mm (H) x 427 mm (W) x 481 mm (D)，15 kg

22.電源：100/115/220/240 VAC, 50/60 Hz, 300 W

23.計(jì)算機(jī)（選件）：商用計(jì)算機(jī)，包括Window^TM軟件

24.自動滴定儀（選件）：獨(dú)立四泵驅(qū)動，可對pH值、電導(dǎo)率和添加劑濃度作圖

Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀 實(shí)物圖：

關(guān)鍵詞：粘度計(jì) 水處理

熱門產(chǎn)品

產(chǎn)品名稱	參考價(jià)	地區(qū)	公司名稱	更新時(shí)間
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