本公司5月31日10時20分報道:ITC57300動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng);(/c96719/products/d.html)
產(chǎn)品描述
ITC57300動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)主機接受測試頭,這些測試頭可在諸如絕緣柵雙晶體管(IGBT),功率MOSFET,二管和其他雙器件之類的半導(dǎo)體器件上執(zhí)行無損瞬態(tài)測量(需要其他可選的偏置電源和定制個性化板)。大型機中包括分析和執(zhí)行電阻和電感開關(guān)時間,開關(guān)損耗,柵電荷,Trr / Qrr和其他瞬態(tài)測試所需的所有測試設(shè)備和軟件。
為特定類型的瞬態(tài)測試設(shè)計的測試頭與主機上的特殊測試頭接收器配對。盡管測試頭只能執(zhí)行一項特定的測試,但每個測試頭中的個性化板都會針對特定的設(shè)備,設(shè)備封裝和各種設(shè)備電路布置重新配置測試頭。
測試頭
•ITC57210-N和P溝道功率MOSFET的R開關(guān)時間,MIL-STD-750,方法3472
•ITC57220-功率MOSFET和二管的Trr / Qrr,MIL-STD-750,方法3473
•ITC57230-功率MOSFET的柵電荷,MIL-STD-750,方法3471
•ITC57240 IGBT的電感性開關(guān)時間,MIL-STD 750,方法3477
•ITC57250短路(Isc)耐受時間,MIL-STD 750,方法3479
•ITC57260-功率MOSFET的柵電阻(Rg),輸入電容(Ciss),輸出電容(Coss)和反向電容(Crss),JEDEC標(biāo)準(zhǔn)JESD24-11
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