動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)硬件優(yōu)勢:
1. 采用先發(fā)布的12 bit 示波器:正確反映波形的細(xì)節(jié),并準(zhǔn)確計算出參數(shù)
2. 采用先發(fā)布的光隔離、高CMRR探頭系統(tǒng),解決SIC/GAN的 測試難點(diǎn)
3. 高帶寬的電壓和電流探測,彌補(bǔ)一般系統(tǒng)對SIC/GAN的測量要求
4.可以滿足上/下管測試,避免頻繁連接探頭
5.電壓覆蓋范圍寬、并可以再次擴(kuò)展
6.器件驅(qū)動設(shè)計支持SIC/GAN器件
7.系統(tǒng)帶寬:>400MHz
8. 系統(tǒng)可以定制
動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)軟件特點(diǎn):
1.測量參數(shù)齊全:開關(guān)參數(shù)、短路參數(shù)、反向恢復(fù)參數(shù)
2.支持器件類型多:單管/模塊、MOSFET、IGBT、FWD、GTR …
3.測試方式:單脈沖、多脈沖
4. 離線數(shù)據(jù)分析:既可以在線測量,也可以記錄數(shù)據(jù)離線分析
5.測試UI符合工程師的使用習(xí)慣
6.測量項(xiàng)目及器件支持?jǐn)U展
● 測量電壓:標(biāo)配2000V覆蓋650V,1200V,1700V器件的測試。 可升 級到10000V。
● 測量電流:標(biāo)配200A,覆蓋單管、及部分模塊的測量。 可升級到6000A。
● 短路電流:2000A
● 測量參數(shù):Vce/Vds,Ic/Id,Vgs/Vge,toff, td(off), tf(Ic),Eoff, Ton, td(on), tr(Ic), Eon, dI/dt, dv/dt, Err, Qrr, trr, Irr 等。
● 測量項(xiàng)目: 開關(guān)參數(shù)、短路參數(shù)、反向恢復(fù)參數(shù)、安全工作區(qū)等
● 測量器件:單管/模塊,MOSFET、IGBT、FWD、GTR…
● 系統(tǒng)帶寬:350MHz、500MHz、1GHz
● 測量通道:4CH
● 雙脈沖脈寬:最小20ns,150us。
● 雙脈沖數(shù):單脈沖、2-30脈沖
● 測量依據(jù)標(biāo)準(zhǔn):IEC60747-8 and IEC60747-9、 JEDEC JEP173
LET-2000D的應(yīng)用
? 功率半導(dǎo)體的來料檢驗(yàn)
? 功率半導(dǎo)體的動態(tài)參數(shù)驗(yàn)證
? 實(shí)驗(yàn)室的器件評估
? 實(shí)驗(yàn)室的驅(qū)動設(shè)計改善
? 實(shí)驗(yàn)室的PCB設(shè)計評估
? 功率半導(dǎo)體的生產(chǎn)檢驗(yàn)和篩選
測試項(xiàng)目