動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)硬件優(yōu)勢:
1. 采用先發(fā)布的12 bit 示波器：正確反映波形的細節(jié)，并準確計算出參數(shù)
2. 采用先發(fā)布的光隔離、高CMRR探頭系統(tǒng)，解決SIC/GAN的 測試難點
3. 高帶寬的電壓和電流探測，彌補一般系統(tǒng)對SIC/GAN的測量要求
4.可以滿足上/下管測試，避免頻繁連接探頭
5.電壓覆蓋范圍寬、并可以再次擴展
6.器件驅動設計支持SIC/GAN器件
7.系統(tǒng)帶寬：>400MHz
8. 系統(tǒng)可以定制
動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)軟件特點：
1.測量參數(shù)齊全：開關參數(shù)、短路參數(shù)、反向恢復參數(shù)
2.支持器件類型多：單管/模塊、MOSFET、IGBT、FWD、GTR …
3.測試方式：單脈沖、多脈沖
4. 離線數(shù)據(jù)分析：既可以在線測量，也可以記錄數(shù)據(jù)離線分析
5.測試UI符合工程師的使用習慣
6.測量項目及器件支持擴展
● 測量電壓：標配2000V覆蓋650V,1200V,1700V器件的測試。 可升 級到10000V。
● 測量電流：標配200A，覆蓋單管、及部分模塊的測量。 可升級到6000A。
● 短路電流：2000A
● 測量參數(shù)：Vce/Vds,Ic/Id,Vgs/Vge,toff, td(off), tf(Ic),Eoff, Ton, td(on), tr(Ic), Eon, dI/dt, dv/dt, Err, Qrr, trr, Irr 等。
● 測量項目： 開關參數(shù)、短路參數(shù)、反向恢復參數(shù)、安全工作區(qū)等
● 測量器件：單管/模塊，MOSFET、IGBT、FWD、GTR…
● 系統(tǒng)帶寬：350MHz、500MHz、1GHz
● 測量通道：4CH
● 雙脈沖脈寬：最小20ns，150us。
● 雙脈沖數(shù)：單脈沖、2-30脈沖
● 測量依據(jù)標準：IEC60747-8 and IEC60747-9、 JEDEC JEP173
LET-2000D的應用
? 功率半導體的來料檢驗
? 功率半導體的動態(tài)參數(shù)驗證
? 實驗室的器件評估
? 實驗室的驅動設計改善
? 實驗室的PCB設計評估
? 功率半導體的生產檢驗和篩選
測試項目
