劉向月
當前位置:上海衡翼精密儀器有限公司>>IC卡彎扭試驗機>>HY-IC>> HY(IC)IC卡動態(tài)雙扭測試儀
一、IC卡動態(tài)雙扭測試儀產(chǎn)品介紹:
本儀器針對性IC卡在國標GB/T 16649.1,國標GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標準等試驗標準中的彎曲、扭矩的試驗; *符合以上標準。
二、IC卡動態(tài)雙扭測試儀產(chǎn)品技術參數(shù):
儀器重量:70kg
電 壓:AC220V±5%
功 率:35W
測試速度:彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz
試驗速度:20~60r/min
卡槽為:15個
測試周期:1~9999次
扭曲度 :±15°±1° 雙向d=86 mm
正反向各15°,總扭曲角度30°
長邊Z大位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm)
長邊Z小位移量為2mm±0.50mm,
短邊Z大位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm)
長邊Z小位移量為1mm±0.50mm,
夾具安裝尺寸*按照國家標準執(zhí)行。
儀器的尺寸是:長:74.5cm,寬:38cm 高:30cm
三、IC卡動態(tài)雙扭測試儀產(chǎn)品用途:
用于檢測磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測試。
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