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卡片動態(tài)彎曲試驗機(jī)
卡片動態(tài)彎曲試驗機(jī)用于檢測磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測試。
型號:
所在地:上海市
參考價:
面議更新時間:2024/8/19 17:02:07
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IC卡動態(tài)雙扭測試儀
IC卡動態(tài)雙扭測試儀用于檢測磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測試。
型號: HY(IC)
所在地:上海市
參考價:
面議更新時間:2024/8/19 17:00:35
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IC卡動態(tài)雙扭曲試驗機(jī)用于檢測磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測試。
型號: HY(IC)
所在地:上海市
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面議更新時間:2024/8/19 16:58:09
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IC卡動態(tài)雙扭曲試驗機(jī)IC卡動態(tài)雙扭曲測試儀
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智能卡動態(tài)雙扭曲試驗機(jī)
智能卡動態(tài)雙扭曲試驗機(jī)用于檢測磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測試。
型號: HY(IC)
所在地:上海市
參考價:
面議更新時間:2024/8/19 16:56:09
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卡動態(tài)雙扭曲測試儀卡動態(tài)雙扭曲試驗機(jī)
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IC卡動態(tài)雙扭試驗機(jī)
IC卡動態(tài)雙扭試驗機(jī)用于檢測磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測試。
型號: HY(IC)
所在地:上海市
參考價:
面議更新時間:2024/8/19 16:54:27
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衡翼卡片扭曲測試機(jī)
衡翼卡片扭曲測試機(jī)本儀器針對性IC卡在國標(biāo)GB/T 16649.1,國標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標(biāo)準(zhǔn)等試驗...
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所在地:上海市
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面議更新時間:2024/8/19 12:55:33
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四點彎曲試驗機(jī)優(yōu)勢
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型號: HY-IC
所在地:上海市
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面議更新時間:2024/8/19 12:39:54
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卡動態(tài)彎扭試驗機(jī)
卡動態(tài)彎扭試驗機(jī)用于檢測磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測試。
型號: HY(IC)
所在地:上海市
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面議更新時間:2024/8/19 12:18:51
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識別卡動態(tài)彎扭測試儀
識別卡動態(tài)彎扭測試儀用于檢測磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測試。
型號: HY(IC)
所在地:上海市
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面議更新時間:2024/8/19 12:17:02
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上海IC卡動態(tài)彎扭試驗機(jī)
上海IC卡動態(tài)彎扭試驗機(jī)用于檢測磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測試。
型號: HY(IC)
所在地:上海市
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面議更新時間:2024/8/19 12:14:59
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IC卡動態(tài)彎扭曲試驗機(jī)
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型號: HY(IC)
所在地:上海市
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面議更新時間:2024/8/19 12:12:33
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Card動態(tài)彎扭測試儀
Card動態(tài)彎扭測試儀用于檢測磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測試。
型號: HY(IC)
所在地:上海市
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面議更新時間:2024/8/19 12:10:36
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Card動態(tài)彎扭測試儀Card動態(tài)彎扭測試機(jī)IC卡動態(tài)彎扭測試儀IC卡動態(tài)彎扭測試機(jī)IC卡彎扭測試儀
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IC卡三輪測試儀
IC卡三輪測試儀根據(jù)Master 卡CQM項目對卡進(jìn)行三輪測試。卡被放到機(jī)器中,測試輪將循環(huán)測試100次,芯片前方滾動50次,芯片后方滾動50次,循環(huán)頻率為0....
型號:
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面議更新時間:2024/8/19 11:56:52
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IC卡三輪測試儀IC卡三輪測試機(jī)IC卡三輪測試儀價格IC卡三輪測試儀廠家IC卡三輪測試儀品牌
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芯片三輪往復(fù)循環(huán)測試機(jī)
芯片三輪往復(fù)循環(huán)測試機(jī)根據(jù)Master 卡CQM項目對卡進(jìn)行三輪測試??ū环诺綑C(jī)器中,測試輪將循環(huán)測試100次,芯片前方滾動50次,芯片后方滾動50次,循環(huán)頻率...
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面議更新時間:2024/8/19 11:55:12
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面議更新時間:2024/8/19 11:53:34
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芯片卡滾壓測試儀
芯片卡滾壓測試儀產(chǎn)品介紹:«識別卡測試方法»ISO/IEC10373-3-2001,智能卡三輪壓力測試儀根據(jù)IC卡CQM項目對卡三輪測試,適...
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面議更新時間:2024/8/19 11:51:18
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智能卡動態(tài)彎扭試驗機(jī)
智能卡動態(tài)彎扭試驗機(jī)本儀器針對性IC卡在國標(biāo)GB/T 16649.1,國標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標(biāo)準(zhǔn)等試...
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所在地:上海市
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面議更新時間:2024/8/19 11:45:33
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電子標(biāo)簽彎曲扭曲性能綜合測試裝置技術(shù)規(guī)范
電子標(biāo)簽彎曲測試儀用于檢測磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測試。
型號:
所在地:上海市
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面議更新時間:2024/8/17 20:55:12
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南京卡片電子彎曲試驗機(jī)
南京卡片電子彎曲試驗機(jī)本儀器針對性IC卡在國標(biāo)GB/T 16649.1,國標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標(biāo)準(zhǔn)等...
型號: HY(IC)
所在地:上海市
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面議更新時間:2024/8/17 13:22:56
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卡片材料彎扭試驗機(jī)
HY(IC)卡片材料彎扭試驗機(jī)技 術(shù) 參 數(shù):本儀器針對性IC卡在國標(biāo)GB/T 16649.1,國標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO...
型號: HY(IC)
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面議更新時間:2024/8/17 13:20:59
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