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上海衡翼精密儀器有限公司
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當前位置:上海衡翼精密儀器有限公司>>IC卡彎扭試驗機>>HY-IC>> HY(IC)IC卡動態(tài)雙扭曲試驗機

IC卡動態(tài)雙扭曲試驗機

參  考  價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準

產(chǎn)品型號HY(IC)

品       牌衡翼儀器

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所  在  地上海市

更新時間:2024-08-19 16:58:09瀏覽次數(shù):966次

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產(chǎn)地 國產(chǎn) 加工定制
適用領(lǐng)域 其他
IC卡動態(tài)雙扭曲試驗機用于檢測磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測試。

一、IC卡動態(tài)雙扭曲試驗機產(chǎn)品介紹:

  本儀器針對性IC卡在國標GB/T 16649.1,國標GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標準等試驗標準中的彎曲、扭矩的試驗; *符合以上標準。

二、IC卡動態(tài)雙扭曲試驗機產(chǎn)品技術(shù)參數(shù):

儀器重量:70kg

電 壓:AC220V±5%

功 率:35W

測試速度:彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz

試驗速度:20~60r/min

卡槽為:15個

測試周期:1~9999

扭曲度 :±15°±1° 雙向d=86 mm

正反向各15°,總扭曲角度30°

長邊Z大位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm)

長邊Z小位移量為2mm±0.50mm,

短邊Z大位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm)

長邊Z小位移量為1mm±0.50mm,

夾具安裝尺寸*按照國家標準執(zhí)行。

儀器的尺寸是:長:74.5cm,寬:38cm  高:30cm 

三、IC卡動態(tài)雙扭曲試驗機產(chǎn)品用途:

用于檢測磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測試。

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