完整的生產(chǎn)測試,無需犧牲空間
滿足您的所有生產(chǎn)測試需求,在同一空間內(nèi)有兩條隔離的寬動(dòng)態(tài)源和測量通道。 每條 40 W 通道提供 6? 位精確分辨率源,在小于 100 µs 脈沖寬度和設(shè)定值的 0.1% 范圍內(nèi),測量 10 A 到 0.1 fA 和 200 V 到 100 nV。
特點(diǎn)
- 在同一空間內(nèi)可有 2 條通道
- 最寬的電壓和電流動(dòng)態(tài)范圍
- 高度準(zhǔn)確的 100 µs 脈沖可擴(kuò)展直流生產(chǎn)測試能力
嵌入式腳本提供的生產(chǎn)吞吐量
滿足您的所有生產(chǎn)測試需求,在同一空間內(nèi)有兩條隔離的寬動(dòng)態(tài)源和測量通道。 每條 40 W 通道提供 6? 位精確分辨率源,在小于 100 µs 脈沖寬度和設(shè)定值的 0.1% 范圍內(nèi),測量 10 A 到 0.1 fA 和 200 V 到 100 nV。
特點(diǎn)
- 消除與 PC 之間耗時(shí)的總線通信
- 高級數(shù)據(jù)處理和流量控制
- 通用型探頭/處理程序控制
系統(tǒng)性能,無主機(jī)
TSP-Link® 技術(shù)支持?jǐn)U展多達(dá) 64 條通道,支持高速、SMU-per-pin 并行測試(而不使用主機(jī))。 <500 ns 時(shí)所有通道同時(shí)獨(dú)立受控。
特點(diǎn)
- 支持 <500 ns 通道間同步
- 可達(dá) 32 條或 64 條獨(dú)立 SMU 通道
- 隨著測試要求變化輕松重新配置
適合生產(chǎn)的低電流性能
2635B 和 2636B SMU 在 100 pA 范圍內(nèi)提供 0.1 fA、10-16 分辨率,減少超低電平樣本檢定煩惱,確保生產(chǎn)成功。
特點(diǎn)
- 在電流范圍內(nèi)穩(wěn)定時(shí)間快 7 倍
- 具有市面上的低電流分辨率
- 直接三芯同軸連接簡化了設(shè)置