材料特性分析半導(dǎo)體參數(shù)分析儀典型應(yīng)用:
納米、柔性等材料特性分析;
二極管;
MOSFET、BJT、晶體管、IGBT;
第三代半導(dǎo)體材料/器件;
有機(jī)OFET器件;
LED、OLED、光電器件;
半導(dǎo)體電阻式等傳感器;
EEL、VCSEL、PD、APD等激光二極管;
電阻率系數(shù)和霍爾效應(yīng)測(cè)量;
太陽(yáng)能電池;
非易失性存儲(chǔ)設(shè)備;
失效分析;
產(chǎn)品特點(diǎn):
30μV-1200V,1pA-100A寬量程測(cè)試能力;
測(cè)量精度高,全量程下可達(dá)0.03%精度;
內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)器件測(cè)試程序,直接調(diào)用測(cè)試簡(jiǎn)便;
自動(dòng)實(shí)時(shí)參數(shù)提取,數(shù)據(jù)繪圖、分析函數(shù);
在CV和IV測(cè)量之間快速切換而無(wú)需重新布線;
提供靈活的夾具定制方案,兼容性強(qiáng);
免費(fèi)提供上位機(jī)軟件及SCPI指令集;
SPA-6100材料特性分析半導(dǎo)體參數(shù)分析儀是武漢普賽斯自主研發(fā)、精益打造的一款半導(dǎo)體電學(xué)特性測(cè)試系統(tǒng),具有高精度、寬測(cè)量范圍、快速靈活、兼容性強(qiáng)等優(yōu)勢(shì)。產(chǎn)品可以同時(shí)支持DC電流-電壓(I-V)、電容-電壓(C-V)以及高流高壓下脈沖式I-V特性的測(cè)試,旨在幫助加快前沿材料研究、半導(dǎo)體芯片器件設(shè)計(jì)以及先進(jìn)工藝的開發(fā),具有桌越的測(cè)量效率與可靠性。
基于模塊化的體系結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),SPA-6100半導(dǎo)體參數(shù)分析儀可以幫助用戶根據(jù)測(cè)試需要,靈活選配測(cè)量單元進(jìn)行升級(jí)。產(chǎn)品支持Z高1200V電壓、100A大電流、1pA小電流分辨率的測(cè)量,同時(shí)檢測(cè)10kHz至1MHz范圍內(nèi)的多頻AC電容測(cè)量。SPA-6100半導(dǎo)體參數(shù)分析儀搭載普賽斯自主開發(fā)的專用半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試軟件,支持交互式手動(dòng)操作或結(jié)合探針臺(tái)的自動(dòng)操作,能夠從測(cè)量設(shè)置、執(zhí)行、結(jié)果分析到數(shù)據(jù)管理的整個(gè)過(guò)程,實(shí)現(xiàn)高效和可重復(fù)的器件表征;也可與高低溫箱、溫控模塊等搭配使用,滿足高低溫測(cè)試需求。
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