光-電聯(lián)用顯微鏡法(CLEM)系統(tǒng) MirrorCLEM
MirrorCLEM是一個可簡便觀察光學顯微鏡和掃描顯微鏡同一位置的CLEM*1用系統(tǒng)。
- *1:
- CLEM (Correlative light and electron microscopy):光學顯微鏡和電子顯微鏡的聯(lián)用觀察顯微鏡法
特點
動畫
特點
MirrorCLEM是搭配FE-SEM,迅速并準確支援CLEM解析的系統(tǒng)。
使用此系統(tǒng),在光學顯微鏡下從低倍率到高倍率清晰觀察樹脂切片目標結構后,讓觀察位置與FE-SEM樣品臺坐標信息同步,通過控制馬達臺在FE-SEM上可觀察同一位置。
此外,還可實時顯示光學顯微鏡和FE-SEM的疊加圖像。
系統(tǒng)配置
- 超高分辨場發(fā)射掃描電子顯微鏡SU8200系列
動畫
關聯(lián)產品分類
- 聚焦離子束系統(tǒng) (FIB/FIB-SEM)
- TEM/SEM樣品前處理裝置