天光測控IGBT開關(guān)特性測試儀
ST-DP_X(1200V200A)
產(chǎn)品簡介
*品牌: 天光測控
*型號(hào): ST-DP_X(1200V200A)
*用途: 用于 Si/SiC/GaN 材料的 MOSFET&IGBT開關(guān)時(shí)間參數(shù)測試,1200V/200A的輸出能力,覆蓋幾乎所有的半導(dǎo)體分立式單管器件
* Tel:173 -4295 -2894歡迎垂詢
*參數(shù)指標(biāo):
開通延遲 td(on) 0.1ns~10us 關(guān)斷延遲 td(off) 0.1ns~10us
上升時(shí)間 tr 0.1ns~10us 下降時(shí)間 tf 0.1ns~10us
開通時(shí)間 ton 0.1ns~10us 關(guān)斷時(shí)間 toff 0.1ns~10us
開通損耗 Eon 1uJ~1000mJ 關(guān)斷損耗 Eoff 1uJ~1000mJ
拖尾電流 0.1A~30A
*關(guān)于售后:質(zhì)保一年,提供免費(fèi)上門巡檢服務(wù);客服7*24小時(shí)開通/電腦遠(yuǎn)程服務(wù)。
產(chǎn)品簡述
天光測控IGBT開關(guān)特性測試儀是主要針對(duì) 半導(dǎo)體功率器件的動(dòng)態(tài)參數(shù)測試 而開發(fā)設(shè)計(jì)。通過DUT適配器的轉(zhuǎn)換,可測試各類封裝外觀的 IGBTs,MOSFETs,DIODEs等功率器件,包括器件、模塊、DBC襯板以及晶圓。產(chǎn)品功能模塊化設(shè)計(jì),根據(jù)用戶需求匹配功能單元。測試功能單元有DPT(雙脈沖測試 Double Pulse Testing,以下簡稱DPT。包含開通特性、關(guān)斷特性、反向恢復(fù)特性)柵電荷、短路、雪崩、結(jié)電容、柵電阻、反偏安全工作區(qū)等。測試方案*符合IEC60747-9*標(biāo)準(zhǔn)。
產(chǎn)品功能及輸出功率進(jìn)行了模塊化設(shè)計(jì),滿足用戶潛在的后期需求,*高測試電壓電流可擴(kuò)展至10KV/10KA,變溫測試支持常溫到200℃,支持生產(chǎn)線批量化全自動(dòng)測試。
歡迎垂詢 Tel:173 -4295 -2894
產(chǎn)品特點(diǎn)
? *測試系統(tǒng)電壓以1500V為一個(gè)模塊,電流以2000A為一個(gè)模塊,可擴(kuò)展至10KA/10KV
? *內(nèi)置7顆標(biāo)準(zhǔn)電感負(fù)載可選用, 另有外接負(fù)載接口,可實(shí)現(xiàn)不同電感和電阻負(fù)載測試需要(20/50/100/200/500/1000/2000uH)
? *另有程控式電感箱可供選擇
?* 針對(duì)不同結(jié)構(gòu)的封裝外觀,通過更換 DUT適配器即可
? *可進(jìn)行室溫到200℃的變溫測試,也可實(shí)現(xiàn)子單元測試功能
? *測試軟件具有實(shí)驗(yàn)?zāi)J胶蜕a(chǎn)模式,測試數(shù)據(jù)可存儲(chǔ)為Excel文件
? *門極電阻可任意調(diào)整, 系統(tǒng)內(nèi)部寄生電感為*小至50nH
? *系統(tǒng)測試性能穩(wěn)定,適合大規(guī)模生產(chǎn)測試應(yīng)用(24hr 工作)
? *安全穩(wěn)定(PLC 對(duì)設(shè)備的工作狀態(tài)進(jìn)行全程實(shí)時(shí)監(jiān)控并與硬件進(jìn)行互鎖)
? *系統(tǒng)具有安全工作保護(hù)功能,以防止模塊高壓大電流損壞時(shí)對(duì)使用者造成傷害,設(shè)計(jì)符合CE認(rèn)證
? *支持半自動(dòng)和全自動(dòng)測試
? *采用品牌工控機(jī),具有抗電磁*力強(qiáng),排風(fēng)量大等特點(diǎn)
?* 自動(dòng)化:單機(jī)測試時(shí)只需手動(dòng)放置DUT,也可連接機(jī)械選件實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測試線
? *智能化,通過主控計(jì)算機(jī)進(jìn)行操控及數(shù)據(jù)編輯,測試結(jié)果自動(dòng)保存及上傳局域網(wǎng)
? *安全性,防爆,防觸電,防燙傷,短路保護(hù)等多重保護(hù)措施,確保操作人員、設(shè)備、數(shù)據(jù)及樣品安全。
*歡迎垂詢 Tel:173 -4295 -2894
天光測控
2021.01