美國 ITC替代品 大功率IGBT靜態(tài)測試系統(tǒng)
系統(tǒng)適合工廠、研究所用做IGBT及其模塊的篩選、檢驗(yàn)、分析以及器件生產(chǎn)廠用做生產(chǎn)測試，是一款針對IGBT的各種靜態(tài)參數(shù)而研制的智能測試系統(tǒng)
產(chǎn)品系列
晶體管圖示儀
半導(dǎo)體分立器件測試篩選系統(tǒng)
靜態(tài)參數(shù)測試（包括IGEs/VGE(th)/VCEsat/VF/ICEs/VCEs等）
動(dòng)態(tài)參數(shù)測試（包括Turn_ON&OFF_L/Qrr_FRD/Qg/Rg/UIS/SC/RBSOA等）
環(huán)境老化測試（包括 HTRB/HTGB/H3TRB/Surge等）
熱特性測試（包括 PC/TC/Rth/Zth/Kcurve等）
可測試 Si/SiC/GaN 材料的IGBTs/MOSFETs/DIODEs/BJTs/SCRs等功率器件
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美國 ITC替代品 大功率IGBT靜態(tài)測試系統(tǒng)
（ENJ3020 IGBT靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)）
一、大功率IGBT靜態(tài)測試系統(tǒng)概述
ENJ—3020測試系統(tǒng)（以下簡稱系統(tǒng)）是西安天光測控技術(shù)有限公司推出的IGBT靜態(tài)測試系統(tǒng)，該系統(tǒng)符合國家標(biāo)GJB128-86和國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T 4587-94測試規(guī)范。
系統(tǒng)適合工廠、研究所用做IGBT及其模塊的篩選、檢驗(yàn)、分析以及器件生產(chǎn)廠用做生產(chǎn)測試，是一款針對IGBT的各種靜態(tài)參數(shù)而研制的智能測試系統(tǒng)。
系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)功率源為3500V/200A，電流可擴(kuò)展至2000A。
系統(tǒng)的自動(dòng)化程度高，按照操作人員設(shè)定的程序自動(dòng)工作，實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)化的智能測試，計(jì)算機(jī)記錄測試結(jié)果，測試結(jié)果可轉(zhuǎn)化為文本或 EXCEL 格式存儲(chǔ)。測試方法靈活，可*測試器件以及單個(gè)單元和多單元的模塊測試。
系統(tǒng)采用品牌工控機(jī)，具有抗電磁*力強(qiáng)，排風(fēng)量大等特點(diǎn)
系統(tǒng)安全穩(wěn)定，PLC 對設(shè)備的工作狀態(tài)進(jìn)行全程實(shí)時(shí)監(jiān)控并與硬件進(jìn)行互鎖。
天光測控ENJ—3020測試系統(tǒng)中控制系統(tǒng)主要由計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)和PLC控制系統(tǒng)組成
計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)
計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)是該測試設(shè)備的中心控制單元，設(shè)備有一部分的工作程序、工作時(shí)序、開關(guān)的動(dòng)作狀態(tài)，數(shù)據(jù)采集等均由計(jì)算機(jī)完成。計(jì)算機(jī)
采用研華工業(yè)控制機(jī)，具有抗電磁*力強(qiáng)，排風(fēng)量大等特點(diǎn)。
計(jì)算機(jī)中，裝有美國國家儀器公司生產(chǎn)的數(shù)據(jù)采集卡NI PCI6221卡2塊，NI PCI6221是一塊多功能的數(shù)據(jù)采集卡，具有三組數(shù)據(jù)端口，16/8個(gè)
模擬量輸入端口，兩個(gè)模擬量輸出口、兩個(gè)定時(shí)器計(jì)數(shù)器。
PLC控制系統(tǒng)
控制系統(tǒng)除工控機(jī)外，還采用了歐姆龍系列的PLC，PLC主要對設(shè)備的工作時(shí)序、開關(guān)動(dòng)作等進(jìn)行控制，并且與計(jì)算機(jī)進(jìn)行通訊，完成了整個(gè)系
統(tǒng)的自動(dòng)控制功能；PLC不僅控制開關(guān)的動(dòng)作，而且對系統(tǒng)中主要開關(guān)的工作狀態(tài)進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)控，并與硬件進(jìn)行互鎖，實(shí)現(xiàn)了可靠的安全控制功能。
系統(tǒng)特征
針對IGBT的各種靜態(tài)參數(shù)而研制的智能測試系統(tǒng)
大功率（IV可擴(kuò)展至4500A，6000V）
自動(dòng)化程度高（按照操作人員設(shè)定的程序自動(dòng)工作）
計(jì)算機(jī)記錄測試結(jié)果，測試結(jié)果可轉(zhuǎn)化文本或EXECL格式存儲(chǔ)
采用品牌工控機(jī)，具有抗電磁*力強(qiáng)，排風(fēng)量大等特點(diǎn)
測試方法靈活（可*測試器件以及單個(gè)和多單元的模塊測試）
安全穩(wěn)定（PLC對設(shè)備的工作狀態(tài)進(jìn)行全程實(shí)時(shí)監(jiān)測并與硬件進(jìn)行互鎖）
二、大功率IGBT靜態(tài)測試系統(tǒng)測試范圍
天光測控ENJ—3020系統(tǒng)是專為測試IGBT而設(shè)計(jì)。能夠真實(shí)準(zhǔn)確測試出IGBT的各種靜態(tài)參數(shù)：其測試范圍如下：
1）柵極-發(fā)射極漏電流測試VGES、IGES
2）柵極-發(fā)射極閾值電壓測試Vge（th）
3）集電極-發(fā)射極電壓測試測試VCES、ICES
4）集電極-發(fā)射極飽和電壓測試測試Vge（sat）、IC
5）二極管壓降測試測試VF、IF
6）二極管反向可恢復(fù)直流電壓測試VR、IR
外形尺寸和電源要求
尺 寸：800×800×1800（mm）
質(zhì) 量：210kg
環(huán)境溫度：15~40℃
工作電壓：AC220V±10%無嚴(yán)重諧波
電網(wǎng)頻率：50Hz±1Hz
通信接口： USB RS232
系統(tǒng)功耗： 380W
參數(shù)/條件
參數(shù)/條件 | ||||||
參 數(shù) | ENJ 35200 IGBT | ENJ 30200 IGBT | ||||
靜態(tài)參數(shù)自動(dòng)測試系統(tǒng) | 靜態(tài)參數(shù)手動(dòng)測試系統(tǒng) | |||||
條 件 | ||||||
①柵極-發(fā)射極漏電流IGES | ||||||
IGES: 0.1-10uA±3%±0.1uA | ||||||
集電極電壓VCE: 0V | ||||||
柵 極 電 壓 VGE: 20V ±3%±0.2V | ||||||
②集電極-發(fā)射極電壓BVCES | ||||||
集電極電壓VCES: 100-3500V±5%±10V（選配） | ||||||
集電極電流ICES: 0.1-30mA±5%±0.01mA | 100-3500V±5%±10V | 100-3000V±5%±10V | ||||
柵 極 電 壓 VGE: 0V | ||||||
③集電極發(fā)射極飽和電壓VCESAT | ||||||
VCESAT:0.1-10V | ||||||
柵極電壓 V G E : ±15V±2%±0.2V | ||||||
集電極電流ICE: 10-200A±5%（選配） | 10-200A±5% | 10-200A±5% | ||||
④集電極-發(fā)射極截止電流ICES | ||||||
集電極電流ICES: 0.1-30mA±5%±0.01mA | 100-3500V±5% | 100-3000V±5% | ||||
集電極電壓VCE: 100-3500V±5%（選配） | ||||||
柵 極 電 壓V G E : 0V | ||||||
⑤柵極-發(fā)射極閥值電壓測試VGETH | ||||||
VGETH: 0.1-10V±3%±0.1V | ||||||
VGE=VCE | ||||||
集電極電流ICE: 30mA±3% | ||||||
⑥二極管壓降測試VF | ||||||
VF: 0.1-5V±3%±0.01V | ||||||
柵極電壓VGE: 0V | ||||||
電 | 流 I F : 10-200A±5%（選配） | 10-200A±5% | 10-200A±5% | |||
導(dǎo)通電流 IC: 10-200A±5% | ||||||
柵極電壓VGE:±15V±0.2V | ||||||
歡迎垂詢：Tel:173 -4295 -2894
