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  • 生產(chǎn)線大功率IGBT模塊靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)

ST-DC1520_FATL 生產(chǎn)線大功率IGBT模塊靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)

參考價(jià)
399.00
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
規(guī)格
  • 1500V/600A399.00元99 臺 可售
  • 型號ST-DC1520_FATL
  • 品牌布萊迪
  • 所在地西安市
  • 更新時(shí)間2023-11-10
  • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
  • 入駐年限1
  • 實(shí)名認(rèn)證已認(rèn)證
  • 產(chǎn)品數(shù)量32
  • 人氣值6495
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同類產(chǎn)品

公司簡介:西安天光測控技術(shù)有限公司 是一家專業(yè)從事 半導(dǎo)體功率器件測試設(shè)備 研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的*。產(chǎn)品有半導(dǎo)體分立器件測試篩選系統(tǒng)。Si , SiC , GaN 材料的 IPM , IGBT , MOS , DIODE , BJT , SCR的電參數(shù)及可靠性和老化測試。靜態(tài)單脈沖(包括導(dǎo)通、關(guān)斷、擊穿、漏電、增益等直流參數(shù))動態(tài)雙脈沖(包括Turn_ON_L, Turn_OFF_L , FRD , Qg)Rg , UIS , SC , C, RBSOA 等。環(huán)境老化測試(包括 HTRB , HTGB , H3TRB , Surge 等)熱特性測試(包括 PC , TC , Rth , Zth , Kcurve 等)各類全系列測試設(shè)備。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體器件上游產(chǎn)業(yè)(設(shè)計(jì)、制造、封裝、IDM廠商、晶圓、DBC襯板)和下游產(chǎn)業(yè)(院所高校、電子廠、軌道機(jī)車、新能源汽車、白色家電等元器件的應(yīng)用端產(chǎn)業(yè)鏈)




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產(chǎn)地國產(chǎn) 加工定制
生產(chǎn)線大功率IGBT模塊靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)
ST-(Semiconductor Test) DC (Direct current) 1520 (1500V2000A)FATL(fully auto test line)
用于大功率 IGBTs模塊靜態(tài)直流參數(shù)測試,生產(chǎn)線全自動量產(chǎn)測試
1500V/2000A,短路電流2500A
生產(chǎn)線大功率IGBT模塊靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng) 產(chǎn)品詳情

歡迎垂詢029*8730*9001或180*9364*3147

產(chǎn)品系列

晶體管圖示儀

半導(dǎo)體分立器件測試篩選系統(tǒng)

靜態(tài)參數(shù)(包括IGEs/VGE(th)/VCEsat/VF/ICEs/VCEs等)

動態(tài)參數(shù)(包括Turn_ON&OFF_L/Qrr_FRD/Qg/Rg/UIS/SC/RBSOA等)

環(huán)境老化(包括 HTRB/HTGB/H3TRB/Surge等)

熱特性(包括 PC/TC/Rth/Zth/Kcurve等)

可測試  Si  /  SiC  /  GaN 材料的  IGBTs  /  MOSFETs  /  DIODEs  /  BJTs  /  SCRs  等功率器件



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生產(chǎn)線大功率IGBT模塊靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)

型號/定義:ST-DC1520_FATL

ST-

(Semiconductor Test) DC (Direct current) 1520 (1500V2000A)FATL(fully auto test line)


用于大功率 IGBTs模塊靜態(tài)直流參數(shù)測試,生產(chǎn)線全自動量產(chǎn)測試

1500V/2000A,短路電流2500A





? 功能單元概覽

實(shí)景照片結(jié)構(gòu)單元說明

基礎(chǔ)部分產(chǎn)線架構(gòu),水印*西安天光測控*水印
伺服系統(tǒng)整體系統(tǒng)的控制的電控系統(tǒng)水印*西安天光測控*水印
輸送單元產(chǎn)線輸送帶及電機(jī)水印*西安天光測控*水印
機(jī)械臂通過往復(fù)運(yùn)動取放被測模塊水印*西安天光測控*水印
預(yù)加熱單元加熱模塊水印*西安天光測控*水印
冷卻單元同時(shí)帶有風(fēng)冷和水冷兩套水印*西安天光測控*水印
托盤鋁基板材質(zhì)的托盤,針對DUT外觀定制




?  量產(chǎn)測試簡述水印*西安天光測控*水印

    生產(chǎn)線大功率IGBT模塊靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)人工操作部分只有兩項(xiàng)(被測模塊的“放”和“取”)。產(chǎn)線啟動,先由工作人員將其被測模塊放置在托盤內(nèi)。放置模塊的托盤被輸送帶輸送至預(yù)加熱區(qū)域進(jìn)行加熱。加熱后輸送將其輸送至測試區(qū),由測試臂識別抓取放置測試主機(jī)的托盤(測試主機(jī)的托盤會自動彈出)。測試主機(jī)托盤收回并關(guān)閉安全門進(jìn)行電測試,測試完畢,彈出托盤,被測模塊被機(jī)械臂抓取送至冷卻區(qū)域,冷卻區(qū)域提供風(fēng)冷和水冷兩種方式。冷卻完畢,輸送帶將被測模塊送至成品區(qū),等待下一步工序。水印*西安天光測控*水印
























?  產(chǎn)線測試能力水印*西安天光測控*水印

分類項(xiàng)目基礎(chǔ)參考實(shí)際響應(yīng)
靜態(tài)電源高穩(wěn)定性自主電源(高度適配,擴(kuò)展靈活);
靜態(tài)電壓等級1500V1500V(支持?jǐn)U展)水印*西安天光測控*水印
靜態(tài)電流等級2000A2000A(支持?jǐn)U展)水印*西安天光測控*水印
靜態(tài)測試時(shí)間 水印*西安天光測控*水印
  1. 單次測:5s/上臂或下臂(測試單元);水印*西安天光測控*水印

  2. 模塊測試:42s/模塊,分兩次測;

靜態(tài)機(jī)械動作時(shí)間 2s (設(shè)備移動;測試單元及DBC之間切換)
靜態(tài)測試產(chǎn)能1000模塊/D
水印*西安天光測控*水印
半自動,一次測一個(gè)上臂/下臂,換料30s, 一天按20h計(jì)算水印*西安天光測控*水印
DBC:3600/(42+30)*3=150DBC/H,
3600*20/(42+30)*3=3000DBC/D(設(shè)計(jì)一次放3個(gè)DBC)

模塊:3600/(42+30) =50

模塊/H,
(3600*20)/(42+30)= 1000模塊/D
靜態(tài)切換方式 (繼電器或機(jī)械切換) 水印*西安天光測控*水印 繼電器切換水印*西安天光測控*水印
Handler進(jìn)出料機(jī)械控制方式半自動 (手動放料、自動進(jìn)出)
  1. 半自動(氣動式夾具柜),可以預(yù)留分選機(jī)接口;或全自動(外購全自動機(jī)械臂)水印*西安天光測控*水印

  2. 手動放料,自動進(jìn)出;

  3. 高溫取放戴手套;

溫度高溫測試200℃高溫支持室溫到200℃,分辨率 0.1
溫度高溫監(jiān)控Tc監(jiān)測支持Ta, Tc監(jiān)測;水印*西安天光測控*水印
溫度加熱方式水印*西安天光測控*水印 設(shè)備:自帶可控型恒溫加熱板電加熱;

模塊:可代購或自購溫箱;

溫度升溫、降溫時(shí)間水印*西安天光測控*水印 升溫:20~30 min

降溫:風(fēng)冷20~30min;

自冷2~3h
溫度溫度控制精度水印*西安天光測控*水印 常溫-125℃±1.0
125℃-150℃±1.5
150℃-200℃±2
溫度溫度校準(zhǔn) /水印*西安天光測控*水印
夾具DBC&模塊 兼容性切換時(shí)間小于30min響應(yīng),設(shè)計(jì)同時(shí)放兩套夾具,無需手動換置;
 其它特性水印*西安天光測控*水印 /水印*西安天光測控*水印




?  技術(shù)規(guī)格

分類測試指標(biāo)典型值                                             西安天光測控
測量范圍測量解析度和精度測試條件
靜態(tài)Kelvin contact四線開爾文接觸檢測支持/水印*西安天光測控*水印 /
靜態(tài)NTC測試
水印*西安天光測控*水印
5kΩ

I=1mA

支持/水印*西安天光測控*水印 /
靜態(tài)柵極-發(fā)射極漏電流IGES(正反)25℃:±45nA

150

℃:±60nA

(VGE = ±20V)

IGE: 0-10uAIGE測試解析度:1nA

IGE

測量精度:+/-2%+/-5nA

VGE輸出精度:+/-2%+/-0.2V

Vge: +/-5-40V

VCE: 0V


tp(脈寬): 40-100ms,
靜態(tài)集電極-發(fā)射極電壓BVCES
水印*西安天光測控*水印
25℃:750V
水印*西安天光測控*水印
VCE: 0-1500VVCE測試解析度:1V

VCE

測量精度:+/-0.5%+/-2V

ICE輸出精度:+/-5%

VCE輸出精度:+/-1%+/-1V

VGE=0V

ICE: 0.1-100mA

VCE max: 100-1500V

tp(脈寬): 5-200ms

靜態(tài)集電極發(fā)射極飽和電壓VCESAT
水印*西安天光測控*水印
25℃:1.45V

125

℃:1.60V

150℃:1.65V

(VGE = 15V; IC = 550A)

VCE: 0-10VVCE測試解析度:1mV

VCE

測量精度:+/-1%+/-1mV

IC輸出精度:+/-3%+/-0.2A

VGE輸出精度:+/-2%+/-0.2V

VGE: 1-30V

ICE: 2-2000A

tp(脈寬): 500us

靜態(tài)集電極-發(fā)射極截止電流ICES
水印*西安天光測控*水印
25℃:<0.5mA

125

℃:<20mA

150℃:10mA

(VCE=750V)

ICE: 0-300mAICE測試解析度:ICE*大值的0.1%
ICE測量精度:+/-2%+/-10uA

VCE

輸出精度:+/-1%+/-1V

IC*大值輸出精度:+/-5%

VGE=0V

VCE: 100-1500V

ICE max: 0.1–100mA

tp

(脈寬): 5 -200ms
靜態(tài)柵極-發(fā)射極閥值電壓測試VGETH25℃:5.9V

(IC=20mA)


水印*西安天光測控*水印
VGE: 0-20VVGE測試解析度:5mV

VGE

測量精度:+/-1%+/-5mV

IC輸出精度:+/-3%+/-0.05mA

VGE=VCE

ICE: 0.1mA –100mA

tp

(脈寬): 2-10ms
靜態(tài)二極管壓降測試VF
水印*西安天光測控*水印
25℃:1.45V

125

℃:1.50V

150℃:1.50V

(IF=550A)


水印*西安天光測控*水印
VEC: 0-10VVEC測試解析度:1mV

VEC

測量精度:+/-1%+/-1mV

IEC輸出精度:+/-3%+/-0.2A

VGE=0V

IEC: 2-2000A

tp(脈寬): 500us

歡迎垂詢029*8730*9001或180*9364*3147


?  系統(tǒng)介紹

    主要針對半導(dǎo)體功率器件的靜態(tài)參數(shù)測試而開發(fā)設(shè)計(jì)。通過DUT適配器的轉(zhuǎn)換,可實(shí)現(xiàn)對各種封裝形式的 IGBTs,MOSFETs,DIODEs 等半導(dǎo)體器件的靜態(tài)電參數(shù)測試,包括器件、模塊以及DBC襯板和晶圓。水印*西安天光測控*水印
      設(shè)備融入了自動化及智能化的設(shè)計(jì)理念及功能,支持批量上下料并進(jìn)行全自動測試。用于規(guī)?;慨a(chǎn)可節(jié)省人力并提高測試產(chǎn)能,適合產(chǎn)線量測以及器件研發(fā)設(shè)計(jì)階段的實(shí)驗(yàn)室測試,設(shè)備由主控計(jì)算機(jī)操控,測試數(shù)據(jù)自動上傳以及保存。測試能力包含輸出特性、轉(zhuǎn)移特性、擊穿特性、漏電流、閾值電壓、二極管壓降等。產(chǎn)品功能及輸出功率進(jìn)行了模塊化設(shè)計(jì),滿足用戶潛在的后期需求,*高測試電壓電流可擴(kuò)展至10KV/10KA,變溫測試支持常溫到200℃水印*西安天光測控*水印

歡迎垂詢029*8730*9001或180*9364*3147

歡迎垂詢:Tel:173 -4295 -2894













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