鍍層測(cè)厚儀附件Z軸控制板

鍍層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)

主要規(guī)格                           規(guī)格描述
 
X射線激發(fā)系統(tǒng)                   垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng)
 
                                       空冷式微聚焦型X射線管，Be窗
 
                                       標(biāo)準(zhǔn)靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等
 
                                       功率：50W（4-50kV，0-1.0mA）－標(biāo)準(zhǔn)

                                        75W（4-50kV，0-1.5mA）－任選
 
                                       裝備有安全防射線光閘
 
                                       二次X射線濾光片：3個(gè)位置程控交換，多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選
 
準(zhǔn)直器程控交換系統(tǒng)            zui多可同時(shí)裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器
 
                                       多種規(guī)格尺寸準(zhǔn)直器任選：

                                       －圓形，如4、6、8、12、20 mil等

                                       －矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等

測(cè)量斑點(diǎn)尺寸                     在12.7mm聚焦距離時(shí)，zui小測(cè)量斑點(diǎn)尺寸為：0.078 x 0.055mm（使用0.025 x 0.05 mm準(zhǔn)直器）
 
                                       在12.7mm聚焦距離時(shí)，zui大測(cè)量斑點(diǎn)尺寸為：0.38 x 0.42 mm（使用0.3mm準(zhǔn)直器）

鍍層測(cè)厚儀附件Z軸控制板

深圳市鼎極天電子有限公司主營(yíng)產(chǎn)品：膜厚儀,鍍層測(cè)厚儀,膜厚測(cè)試儀,X射線測(cè)厚儀,鍍層厚度檢測(cè)儀,X熒光測(cè)厚儀

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