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半導(dǎo)體晶圓形貌檢測設(shè)備參考價：面議

參考價：面議型號：WD4000
中圖儀器WD4000半導(dǎo)體晶圓形貌檢測設(shè)備采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖，通過非接觸測量，將晶圓的...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓幾何量測設(shè)備晶圓檢測設(shè)備晶圓形貌測量設(shè)備半導(dǎo)體檢測設(shè)備

2024/8/12 7:33:19624
晶圓翹曲度測試設(shè)備參考價：面議

參考價：面議型號：WD4000
WD4000晶圓翹曲度測試設(shè)備兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。它采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測量雙向掃描技術(shù)，...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓測試設(shè)備晶圓翹曲度測試設(shè)備翹曲度檢測設(shè)備晶圓翹曲度測量設(shè)備晶圓幾何量測設(shè)備

2024/8/11 21:28:22612
半導(dǎo)體晶圓幾何量測設(shè)備參考價：面議

參考價：面議型號：WD4000
中圖儀器WD4000半導(dǎo)體晶圓幾何量測設(shè)備可實現(xiàn)砷化鎵、氮化鎵、磷化鎵、鍺、磷化銦、鈮酸鋰、藍寶石、硅、碳化硅、玻璃不同材質(zhì)晶圓的量測。通過非接觸測量，將晶圓的...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓幾何量測設(shè)備半導(dǎo)體晶圓量測設(shè)備晶圓幾何形貌量測設(shè)備晶圓形貌測量設(shè)備

2024/8/11 20:52:38496
晶圓形貌測量儀器參考價：面議

參考價：面議型號：WD4000
中圖儀器WD4000晶圓形貌測量儀器通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩(wěn)定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測同時有效...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓幾何形貌量測系統(tǒng)晶圓形貌測量設(shè)備半導(dǎo)體晶圓檢測晶圓形貌檢測

2024/8/11 20:29:45594
晶圓表面形貌測量系統(tǒng) 參考價：面議

參考價：面議型號：WD4000
WD4000系列晶圓表面形貌測量系統(tǒng)采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖，實現(xiàn)晶圓厚度、TTV、LTV、...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓形貌測量設(shè)備半導(dǎo)體晶圓測量設(shè)備晶圓形貌測量設(shè)備晶圓表面形貌測量系統(tǒng)

2024/8/11 19:40:02811
晶圓三維形貌量測系統(tǒng) 參考價：面議

參考價：面議型號：WD4000
WD4000晶圓三維形貌量測系統(tǒng)可廣泛應(yīng)用于襯底制造、晶圓制造、及封裝工藝檢測、3C 電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、顯示面板、MEMS 器...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓三維形貌測量系統(tǒng)晶圓幾何量測系統(tǒng)無圖晶圓形貌測量系統(tǒng)半導(dǎo)體晶圓測量系統(tǒng)晶圓形貌測量設(shè)備

2024/8/11 19:02:23773
半導(dǎo)體晶圓厚度測量系統(tǒng) 參考價：面議

參考價：面議型號：WD4000
WD4000半導(dǎo)體晶圓厚度測量系統(tǒng)自動測量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓厚度測量系統(tǒng)半導(dǎo)體測量系統(tǒng)半導(dǎo)體晶圓測量系統(tǒng)無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)半導(dǎo)體測量設(shè)備

2024/8/11 18:27:47636
晶圓形貌量測設(shè)備參考價：面議

參考價：面議型號：WD4000
WD4000晶圓形貌量測設(shè)備采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖，實現(xiàn)晶圓厚度、TTV、LTV、Bow、...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓形貌測量設(shè)備晶圓形貌測量系統(tǒng)晶圓量測設(shè)備半導(dǎo)體晶圓量測設(shè)備半導(dǎo)體晶圓量測系統(tǒng)

2024/8/11 18:09:27644
晶圓表面形貌檢測設(shè)備參考價：面議

參考價：面議型號：WD4000
中圖儀器WD4000晶圓表面形貌檢測設(shè)備自動測量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓檢測設(shè)備晶圓形貌檢測設(shè)備晶圓表面形貌檢測設(shè)備半導(dǎo)體晶圓檢測設(shè)備無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)

2024/8/11 16:16:14762
無圖晶圓幾何測量系統(tǒng) 參考價：面議

參考價：面議型號：WD4000
WD4000系列無圖晶圓幾何測量系統(tǒng)采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖，實現(xiàn)晶圓厚度、TTV、LTV、...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓幾何測量系統(tǒng)無圖晶圓測量系統(tǒng)晶圓表面形貌測量系統(tǒng)晶圓測量設(shè)備晶圓幾何檢測機

2024/8/11 15:12:52580
晶圓幾何形貌測量設(shè)備參考價：面議

參考價：面議型號：WD4000
WD4000晶圓幾何形貌測量設(shè)備通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩(wěn)定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測同時有效防止...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓測量設(shè)備晶圓形貌測量設(shè)備晶圓檢測機晶圓幾何形貌測量系統(tǒng)無圖晶圓測量設(shè)備

2024/8/11 14:48:10581
晶圓表面三維形貌測量設(shè)備參考價：面議

參考價：面議型號：WD4000
WD4000晶圓表面三維形貌測量設(shè)備集成厚度測量模組和三維形貌、粗糙度測量模組，使用一臺機器便可完成厚度、TTV、LTV、BOW、WARP、粗糙度、及三維形貌的...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓形貌測量設(shè)備晶圓三維形貌測量設(shè)備無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓表面測量設(shè)備半導(dǎo)體晶圓檢測

2024/8/11 13:48:03715
WD4000無圖晶圓檢測機參考價：面議

參考價：面議型號：
WD4000無圖晶圓檢測機可廣泛應(yīng)用于襯底制造、晶圓制造、及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、顯示面板、MEMS器件等超精密加工行業(yè)。可測各類...
型號：品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

無圖晶圓檢測機晶圓檢測設(shè)備半導(dǎo)體晶圓檢測晶圓檢測設(shè)備廠商晶圓檢測機

2024/8/11 13:42:10646
WD4000無圖晶圓幾何量測系統(tǒng) 參考價：面議

參考價：面議型號：
WD4000無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)自動測量 Wafer 厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。可廣泛應(yīng)用于襯底制造、晶圓制造、及封裝工藝...
型號：品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓檢測機無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓檢測設(shè)備廠商晶圓表面檢測機國產(chǎn)晶圓檢測機

2024/8/11 13:32:04723

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深圳市中圖儀器股份有限公司

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