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深圳市中圖儀器股份有限公司

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  • 無(wú)圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng) 參考價(jià)： ￥3000000

    參考價(jià)： 3000000 型號(hào)：WD4000
    WD4000無(wú)圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)非接觸厚度、三維維納形貌一體測(cè)量。它通過(guò)非接觸測(cè)量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建，強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度，TTV，BOW...
    型號(hào)： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對(duì)比
    晶圓量測(cè)系統(tǒng)無(wú)圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)晶圓測(cè)量設(shè)備晶圓形貌測(cè)量系統(tǒng)翹曲度測(cè)量?jī)x
    2024/12/13 11:45:14202

  • 晶圓厚度翹曲度量測(cè)系統(tǒng) 參考價(jià)： ￥3000000

    參考價(jià)： 3000000 型號(hào)：WD4000
    WD4000晶圓厚度翹曲度量測(cè)系統(tǒng)通過(guò)非接觸測(cè)量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建，強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)同時(shí)有效防...
    型號(hào)： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對(duì)比
    晶圓厚度測(cè)量?jī)x晶圓翹曲度測(cè)量?jī)x無(wú)圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)晶圓量測(cè)系統(tǒng)晶圓測(cè)量設(shè)備
    2024/11/29 10:43:55438

  • 晶圓幾何參數(shù)測(cè)量設(shè)備 參考價(jià)： ￥3000000

    參考價(jià)： 3000000 型號(hào)：WD4000
    WD4000晶圓幾何參數(shù)測(cè)量設(shè)備通過(guò)非接觸測(cè)量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建，強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)同時(shí)有效防止...
    型號(hào)： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對(duì)比
    晶圓測(cè)量設(shè)備晶圓幾何測(cè)量設(shè)備無(wú)圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)晶圓形貌測(cè)量設(shè)備晶圓檢測(cè)設(shè)備
    2024/11/25 10:40:38250

  • 晶圓表面形貌高效測(cè)量分析系統(tǒng) 參考價(jià)： ￥3000000

    參考價(jià)： 3000000 型號(hào)：WD4000
    WD4000晶圓表面形貌高效測(cè)量分析系統(tǒng)采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測(cè)量雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立表面3D層析圖像，實(shí)現(xiàn)Wafer厚度、翹曲...
    型號(hào)： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對(duì)比
    晶圓形貌測(cè)量系統(tǒng)晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)無(wú)圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)晶圓測(cè)量設(shè)備半導(dǎo)體晶圓檢測(cè)
    2024/11/15 10:49:10288

  • 晶圓硅片厚度測(cè)量?jī)x 參考價(jià)： ￥3000000

    參考價(jià)： 3000000 型號(hào)：WD4000
    WD4000晶圓硅片厚度測(cè)量?jī)x采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測(cè)量雙向掃描技術(shù)，通過(guò)非接觸測(cè)量，在有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷同時(shí)實(shí)現(xiàn)Wafer厚度、翹曲度、...
    型號(hào)： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對(duì)比
    晶圓厚度測(cè)量?jī)x硅片厚度測(cè)量?jī)x測(cè)厚儀無(wú)圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)晶圓測(cè)量設(shè)備
    2024/11/7 10:00:02346

  • 晶圓硅片表面3D量測(cè)系統(tǒng) 參考價(jià)： ￥3000000

    參考價(jià)： 3000000 型號(hào)：WD4000
    WD4000晶圓硅片表面3D量測(cè)系統(tǒng)采用光學(xué)白光干涉技術(shù)、精密 Z 向掃描模塊和高精度 3D 重建算法，Z 向分辨率最高可到 0. 1nm。它通過(guò)非接觸測(cè)量，將...
    型號(hào)： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對(duì)比
    晶圓量測(cè)系統(tǒng)無(wú)圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)硅片量測(cè)系統(tǒng)晶圓測(cè)量系統(tǒng)晶圓檢測(cè)設(shè)備
    2024/10/25 13:54:16378

  • 晶圓制程幾何尺寸量測(cè)設(shè)備 參考價(jià)： ￥3000000

    參考價(jià)： 3000000 型號(hào)：WD4000
    WD4000晶圓制程幾何尺寸量測(cè)設(shè)備通過(guò)非接觸測(cè)量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建，強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)同時(shí)有效...
    型號(hào)： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對(duì)比
    無(wú)圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)晶圓量測(cè)設(shè)備晶圓幾何量測(cè)設(shè)備半導(dǎo)體晶圓測(cè)量晶圓測(cè)量設(shè)備
    2024/10/17 9:31:05370

  • 半導(dǎo)體晶圓幾何形貌量測(cè)設(shè)備 參考價(jià)： ￥3000000

    參考價(jià)： 3000000 型號(hào)：WD4000
    中圖儀器WD4000半導(dǎo)體晶圓幾何形貌量測(cè)設(shè)備兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測(cè)量大翹曲wafer、測(cè)量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。它通過(guò)非接觸測(cè)量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建...
    型號(hào)： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對(duì)比
    晶圓幾何量測(cè)設(shè)備晶圓形貌量測(cè)設(shè)備半導(dǎo)體晶圓量測(cè)無(wú)圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)晶圓檢測(cè)設(shè)備
    2024/9/29 11:13:21459

  • 晶圓表面粗糙度測(cè)量?jī)x器 參考價(jià)： ￥3000000

    參考價(jià)： 3000000 型號(hào)：WD4000
    中圖儀器WD4000晶圓表面粗糙度測(cè)量?jī)x器兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測(cè)量大翹曲wafer、測(cè)量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。它采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測(cè)量雙...
    型號(hào)： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對(duì)比
    晶圓粗糙度測(cè)量?jī)x晶圓表面測(cè)量?jī)x無(wú)圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)晶圓形貌測(cè)量?jī)x器半導(dǎo)體晶圓測(cè)量?jī)x
    2024/9/20 9:25:37542

  • 半導(dǎo)體晶圓形貌測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：WD4000
    WD4000半導(dǎo)體晶圓形貌測(cè)量系統(tǒng)采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖，實(shí)現(xiàn)晶圓厚度、TTV、LTV、B...
    型號(hào)： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對(duì)比
    半導(dǎo)體晶圓檢測(cè)設(shè)備晶圓形貌測(cè)量系統(tǒng)晶圓形貌檢測(cè)設(shè)備晶圓測(cè)量系統(tǒng)無(wú)圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)
    2024/9/14 14:51:21708

  • 無(wú)圖晶圓幾何形貌量測(cè)系統(tǒng) 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：WD4000
    中圖儀器WD4000無(wú)圖晶圓幾何形貌量測(cè)系統(tǒng)自動(dòng)測(cè)量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。它采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測(cè)量雙向掃...
    型號(hào)： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對(duì)比
    無(wú)圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)晶圓幾何形貌量測(cè)系統(tǒng)無(wú)圖晶圓形貌量測(cè)系統(tǒng)晶圓形貌量測(cè)系統(tǒng)半導(dǎo)體晶圓量測(cè)系統(tǒng)
    2024/9/14 14:44:48760

  • 半導(dǎo)體晶圓量測(cè)設(shè)備 參考價(jià)： ￥3000000

    參考價(jià)： 3000000 型號(hào)：WD4000
    WD4000半導(dǎo)體晶圓量測(cè)設(shè)備兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測(cè)量大翹曲wafer、測(cè)量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。自動(dòng)測(cè)量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多...
    型號(hào)： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對(duì)比
    無(wú)圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)半導(dǎo)體量測(cè)設(shè)備晶圓檢測(cè)設(shè)備晶圓形貌測(cè)量設(shè)備晶圓測(cè)量設(shè)備
    2024/9/9 14:52:59615

  • 晶圓幾何形貌測(cè)量及參數(shù)自動(dòng)檢測(cè)機(jī) 參考價(jià)： ￥3000000

    參考價(jià)： 3000000 型號(hào)：WD4000系列
    WD4000晶圓幾何形貌測(cè)量及參數(shù)自動(dòng)檢測(cè)機(jī)采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖，實(shí)現(xiàn)晶圓厚度、TTV、...
    型號(hào)： WD4000系列 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對(duì)比
    晶圓幾何測(cè)量機(jī)晶圓形貌測(cè)量機(jī)無(wú)圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)晶圓形貌測(cè)量系統(tǒng)晶圓形貌檢測(cè)機(jī)
    2024/9/5 9:20:08616

  • 無(wú)圖晶圓厚度翹曲度測(cè)量設(shè)備 參考價(jià)： ￥3000000

    參考價(jià)： 3000000 型號(hào)：WD4000
    WD4000無(wú)圖晶圓厚度翹曲度測(cè)量設(shè)備兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測(cè)量大翹曲wafer、測(cè)量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。它可實(shí)現(xiàn)砷化鎵、氮化鎵、磷化鎵、鍺、磷化銦、鈮酸鋰...
    型號(hào)： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對(duì)比
    無(wú)圖晶圓幾何量測(cè)設(shè)備晶圓厚度測(cè)量設(shè)備晶圓翹曲度測(cè)量設(shè)備晶圓測(cè)量設(shè)備晶圓形貌測(cè)量設(shè)備
    2024/8/26 9:37:32632

  • 晶圓厚度翹曲度測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)： ￥3000000

    參考價(jià)： 3000000 型號(hào)：WD4000
    WD4000晶圓厚度翹曲度測(cè)量系統(tǒng)通過(guò)非接觸測(cè)量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建，在高效測(cè)量測(cè)同時(shí)有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷。它采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃...
    型號(hào)： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對(duì)比
    晶圓測(cè)量系統(tǒng)晶圓厚度測(cè)量系統(tǒng)晶圓翹曲度測(cè)量系統(tǒng)無(wú)圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)晶圓形貌測(cè)量系統(tǒng)
    2024/8/14 14:07:19573

  • 晶圓多維度特征檢測(cè)設(shè)備 參考價(jià)： ￥3000000

    參考價(jià)： 3000000 型號(hào)：WD4000
    WD4000晶圓多維度特征檢測(cè)設(shè)備系統(tǒng)自動(dòng)測(cè)量 Wafer 厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚?？蓪?shí)現(xiàn)砷化鎵、氮化鎵、磷化鎵、鍺、磷化銦、鈮酸鋰、藍(lán)...
    型號(hào)： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對(duì)比
    晶圓檢測(cè)設(shè)備無(wú)圖晶圓幾何檢測(cè)設(shè)備晶圓量測(cè)設(shè)備晶圓形貌測(cè)量設(shè)備晶圓幾何形貌檢測(cè)設(shè)備
    2024/8/12 16:23:11632

  • 半導(dǎo)體晶圓厚度高精度測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)： ￥3000000

    參考價(jià)： 3000000 型號(hào)：WD4000
    WD4000系列半導(dǎo)體晶圓厚度高精度測(cè)量系統(tǒng)通過(guò)非接觸測(cè)量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建，強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)...
    型號(hào)： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對(duì)比
    晶圓測(cè)量系統(tǒng)晶圓厚度測(cè)量系統(tǒng)無(wú)圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)晶圓形貌測(cè)量系統(tǒng)晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)
    2024/8/12 15:51:55693

  • 晶圓厚度表面粗糙度微納三維形貌量測(cè)系統(tǒng) 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：WD4000
    WD4000晶圓厚度表面粗糙度微納三維形貌量測(cè)系統(tǒng)采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖，實(shí)現(xiàn)晶圓厚度、T...
    型號(hào)： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對(duì)比
    晶圓厚度量測(cè)系統(tǒng)晶圓粗糙度量測(cè)系統(tǒng)晶圓形貌量測(cè)系統(tǒng)無(wú)圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)半導(dǎo)體晶圓檢測(cè)機(jī)
    2024/8/12 14:18:41682

  • 半導(dǎo)體晶圓粗糙度翹曲度檢測(cè)設(shè)備 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：WD4000
    WD4000半導(dǎo)體晶圓粗糙度翹曲度檢測(cè)設(shè)備采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測(cè)量雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立表面3D層析圖像，實(shí)現(xiàn)Wafer厚度、翹...
    型號(hào)： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對(duì)比
    晶圓檢測(cè)設(shè)備半導(dǎo)體晶圓檢測(cè)晶圓粗糙度檢測(cè)設(shè)備晶圓翹曲度檢測(cè)設(shè)備晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)
    2024/8/12 13:34:00675

  • 國(guó)產(chǎn)半導(dǎo)體晶圓表面形貌測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：WD4000
    WD4000國(guó)產(chǎn)半導(dǎo)體晶圓表面形貌測(cè)量系統(tǒng)兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測(cè)量大翹曲wafer、測(cè)量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。它采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測(cè)量雙...
    型號(hào)： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對(duì)比
    半導(dǎo)體晶圓測(cè)量系統(tǒng)晶圓形貌測(cè)量系統(tǒng)無(wú)圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)晶圓測(cè)量系統(tǒng)晶圓檢測(cè)設(shè)備
    2024/8/12 12:45:06709

  • 晶圓厚度翹曲度粗糙度檢測(cè)設(shè)備 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：WD4000
    WD4000晶圓厚度翹曲度粗糙度檢測(cè)設(shè)備采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測(cè)量雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立表面3D層析圖像，實(shí)現(xiàn)Wafer厚度、翹曲...
    型號(hào)： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對(duì)比
    晶圓厚度檢測(cè)設(shè)備晶圓翹曲度檢測(cè)設(shè)備晶圓粗糙度檢測(cè)設(shè)備晶圓檢測(cè)設(shè)備無(wú)圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)
    2024/8/12 12:01:43773

  • 半導(dǎo)體晶圓Warp翹曲度量測(cè)設(shè)備 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：WD4000
    WD4000半導(dǎo)體晶圓Warp翹曲度量測(cè)設(shè)備通過(guò)非接觸測(cè)量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建，強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)...
    型號(hào)： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對(duì)比
    半導(dǎo)體晶圓量測(cè)設(shè)備晶圓翹曲度量測(cè)設(shè)備晶圓Warp量測(cè)設(shè)備無(wú)圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)晶圓形貌量測(cè)系統(tǒng)
    2024/8/12 11:39:55690

  • 晶圓幾何形貌檢測(cè)機(jī) 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：WD4000
    WD4000晶圓幾何形貌檢測(cè)機(jī)可測(cè)各類(lèi)包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的厚度、粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。自動(dòng)測(cè)量...
    型號(hào)： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對(duì)比
    半導(dǎo)體晶圓檢測(cè)晶圓檢測(cè)機(jī)晶圓檢測(cè)設(shè)備無(wú)圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)晶圓幾何形貌測(cè)量機(jī)
    2024/8/12 11:08:11768

  • 晶圓厚度Warp檢測(cè)設(shè)備 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：WD4000系列
    WD4000晶圓厚度Warp檢測(cè)設(shè)備自動(dòng)測(cè)量 Wafer 厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。使用光譜共焦對(duì)射技術(shù)測(cè)量晶圓 Thickness、TT...
    型號(hào)： WD4000系列 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對(duì)比
    半導(dǎo)體晶圓檢測(cè)設(shè)備晶圓厚度檢測(cè)設(shè)備晶圓Warp檢測(cè)設(shè)備無(wú)圖晶圓幾何量測(cè)設(shè)備晶圓形貌檢測(cè)設(shè)備
    2024/8/12 10:31:05799
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