詳細摘要: 膜厚儀EDX-8000T Plus型XRF鍍層測厚儀/電鍍液分析儀微光斑垂直光路,專為鍍層厚度分析而設計,可分析不規(guī)則樣品厚度高計數(shù)率硅漂移檢測器 (SDD) ...
產(chǎn)品型號:所在地:蘇州市更新時間:2024-10-30 在線留言
蘇州英飛思科學儀器有限公司
詳細摘要: 膜厚儀EDX-8000T Plus型XRF鍍層測厚儀/電鍍液分析儀微光斑垂直光路,專為鍍層厚度分析而設計,可分析不規(guī)則樣品厚度高計數(shù)率硅漂移檢測器 (SDD) ...
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