北京北信科遠(yuǎn)儀器有限責(zé)任公司
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更新時(shí)間：2023-06-07 10:11:09瀏覽次數(shù)：198次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來自 儀表網(wǎng)BX-G103系列是針對(duì)新穎研發(fā)和質(zhì)量控制領(lǐng)域推出的型多入射角激光橢偏儀。 BX-G103系列可在單入射角度或多入射角度下對(duì)樣品進(jìn)行準(zhǔn)確測量?？捎糜跍y量單層或多層納米薄膜樣品的膜層厚度、折射率n和消光系數(shù)k；也可用于同時(shí)測量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k；亦可用于實(shí)時(shí)測量納米薄膜動(dòng)態(tài)生長中膜層的厚度、折射率n和消光系數(shù)k。多入射角度設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了納米薄膜的正規(guī)厚度測量。
產(chǎn)品用途：
BX-G103系列是針對(duì)新穎研發(fā)和質(zhì)量控制領(lǐng)域推出的型多入射角激光橢偏儀。 BX-G103系列可在單入射角度或多入射角度下對(duì)樣品進(jìn)行準(zhǔn)確測量?？捎糜跍y量單層或多層納米薄膜樣品的膜層厚度、折射率n和消光系數(shù)k；也可用于同時(shí)測量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k；亦可用于實(shí)時(shí)測量納米薄膜動(dòng)態(tài)生長中膜層的厚度、折射率n和消光系數(shù)k。多入射角度設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了納米薄膜的正規(guī)厚度測量。
儀器特點(diǎn)：
l 新穎的測量方法：Delta測量范圍0-360o，無測量死角問題（即使在0o或180o附近時(shí)也具有的準(zhǔn)確度），也可消除粗糙表面引起的消偏振效應(yīng)對(duì)結(jié)果的影響
l 原子層量級(jí)的靈敏度和準(zhǔn)確度：新穎的采樣方法、高穩(wěn)定的核心器件、高質(zhì)量的制造工藝實(shí)現(xiàn)并保證了的準(zhǔn)確度和穩(wěn)定性
l 百毫秒量級(jí)的快速測量：在保證精度和準(zhǔn)確度的同時(shí)，可在幾百毫秒內(nèi)快速完成一次測量，可滿足快速多點(diǎn)檢測和批量檢測需求
l 準(zhǔn)確方便的樣品對(duì)準(zhǔn)：視頻式自準(zhǔn)直樣品方位精密對(duì)準(zhǔn)系統(tǒng)，精度高、操作方便
l 簡單方便的儀器操作：一鍵操作即可完成復(fù)雜的樣品測量和分析；按照質(zhì)控要求進(jìn)行數(shù)據(jù)多種導(dǎo)出；豐富的模型庫和材料庫方便用戶的操作；管理員/操作員不同的模式，保證儀器安全
技術(shù)參數(shù)：
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