儀器廠商:美國J.A.Woollam公司
型 號(hào):M-2000DI
到貨日期:2008.4.19
技術(shù)指標(biāo):
● 波長(zhǎng)范圍:190~1700 nm
● 光譜分辨率:1.6 nm(波長(zhǎng)小于1000 nm);3.7 nm(波長(zhǎng)大于1000 nm)
● 自動(dòng)入射角范圍:45~900
● 自動(dòng)樣品臺(tái):150 mm*150 mm
● 旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器,Ψ可測(cè)范圍0~900,Δ可測(cè)范圍0~3600
主要用途:
用于單層或多層透明或半透明薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù)的測(cè)定,廣泛應(yīng)用于物理、化學(xué)、材料、生物、高分子、光學(xué)鍍膜、太陽能電池、平板顯示等領(lǐng)域的研究。