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JIMA RT RC-02B X射線分辨率測試卡 質(zhì)量分析儀
QRM-MicroCT-Barpattern-NANO微CT測試模體
產(chǎn)地 | 進(jìn)口 | 加工定制 | 否 |
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JIMA(日本檢測儀器制造商協(xié)會),致力于關(guān)注各種檢測儀器,其中包括無損檢測儀器,JIMA分辨率測試卡,用于測量X射線系統(tǒng)的分辨率,以保證X射線系統(tǒng)在微米和納米焦點(diǎn)的圖像質(zhì)量。
JIMA RT RC-04分辨率測試卡
圖案布局:T型
線/空間尺寸:32種規(guī)格圖案,
JIMA RT CT-01分辨率測試卡(于三維CT系統(tǒng)分辨率測試)
3μm,4μm,5μm,6μm,7μm
JIMA RT RC-02分辨率測試卡
JIMA RT RC-05分辨率測試卡
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