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JIMA RT RC-02B X射線分辨率測試卡用于測量X射線系統(tǒng)的分辨率,以保證X射線系統(tǒng)在微米和納米焦點的圖像質(zhì)量。
QRM-MicroCT-Barpattern-NANO微CT測試模體采用雙硅芯片相互垂直、通過塑料支架固定的設計理念,使兩個3 x 3 mm²芯片均呈...
JIMA RT RC-04分辨率測試卡JIMA(日本檢測儀器制造商協(xié)會),致力于關注各種檢測儀器,其中包括無損檢測儀器,JIMA分辨率測試卡,用于測量X射線系統(tǒng)...
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