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JIMA RT RC-02B X射線分辨率測(cè)試卡用于測(cè)量X射線系統(tǒng)的分辨率,以保證X射線系統(tǒng)在微米和納米焦點(diǎn)的圖像質(zhì)量。
QRM-MicroCT-Barpattern-NANO微CT測(cè)試模體采用雙硅芯片相互垂直、通過(guò)塑料支架固定的設(shè)計(jì)理念,使兩個(gè)3 x 3 mm²芯片均呈...
JIMA RT RC-04分辨率測(cè)試卡JIMA(日本檢測(cè)儀器制造商協(xié)會(huì)),致力于關(guān)注各種檢測(cè)儀器,其中包括無(wú)損檢測(cè)儀器,JIMA分辨率測(cè)試卡,用于測(cè)量X射線系統(tǒng)...
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