【儀表網(wǎng) 儀表產(chǎn)業(yè)】8月13日，中國(guó)海洋大學(xué)發(fā)布招標(biāo)公告，預(yù)算400萬元，采購全自動(dòng)共聚焦顯微拉曼光譜儀、原子力顯微鏡、微區(qū)電化學(xué)測(cè)試系統(tǒng)等設(shè)備。
項(xiàng)目編號(hào)：HYHAQD2021-0448
項(xiàng)目名稱：中國(guó)海洋大學(xué)全自動(dòng)共聚焦顯微拉曼光譜儀、原子力顯微鏡、微區(qū)電化學(xué)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)備采購項(xiàng)目
預(yù)算金額：400.0000000 萬元(人民幣)
采購需求：
第一包：全自動(dòng)共聚焦顯微拉曼光譜儀(預(yù)算金額：¥140萬元；數(shù)量1臺(tái))
一、主機(jī)系統(tǒng)
共焦顯微拉曼光譜儀為科研型儀器，要求儀器具有較高整體性和穩(wěn)定性，具有較高的自動(dòng)化程度，操作方便、擴(kuò)展靈活。包括有多波長(zhǎng)激光光源、高分辨光柵，研究級(jí)顯微鏡系統(tǒng)、軟件和計(jì)算機(jī)系統(tǒng)等。
本儀器必須具備下列功能擴(kuò)展能力，而無需對(duì)現(xiàn)有拉曼光譜儀做任何改造：
1.與掃描電鏡(能譜，陰極熒光)聯(lián)用；
2.與原子力顯微鏡/近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡聯(lián)用；
3.與激光共焦掃描顯微鏡聯(lián)用；
4.與納米壓痕聯(lián)用；
5.可升級(jí)到紫外(≥229nm)或紅外波段(≤1064nm)的更多激發(fā)波長(zhǎng)。
二、激光器
1. 532nm固體激光器，激光輸出功率≥50mW,TEM00空間模式；
2. 632-638 nm固體激光器，激光輸出功率≥17mW,TEM00空間模式；
3. 785nm固體激光器，激光輸出功率≥100mW,TEM00空間模式；
4. 激光器獨(dú)立光路優(yōu)化配置；
5. 軟件控制自動(dòng)切換激發(fā)波長(zhǎng)，無需手動(dòng)調(diào)整；
6. 各個(gè)波長(zhǎng)均配有激光擴(kuò)束器，使激光光斑尺寸在焦平面上連續(xù)可調(diào)；
7. 計(jì)算機(jī)控制激光15級(jí)以上衰減片。
三、光譜儀
1.拉曼頻移范圍：50-9000cm-1(532nm激發(fā))；50-6000cm-1(632-638nm激發(fā))。50-3500cm-1(785nm激發(fā))；
2.系統(tǒng)總透光率大于40%；
★3.光譜分辨率：≤1cm-1(使用氖燈作為信號(hào)源，≥ 1800線高分辨光柵，測(cè)試585 nm發(fā)光線，其半高全寬小于等于1波數(shù))；
4.靈敏度：硅三階峰的信噪比好于40:1，并能觀察到四階峰。(使用單晶硅片，波長(zhǎng)532 nm，狹縫寬度100微米，100倍物鏡，曝光時(shí)間100秒，累加次數(shù)3次，binning小于等于2)；
5.光譜重復(fù)性優(yōu)于 ±0.02 cm-1(使用表面拋光的單晶硅做樣品，采用100×物鏡，采用≥1800刻線高分辨光柵，光柵轉(zhuǎn)動(dòng)，掃描范圍100-4000cm-1，重復(fù)不少于50次，觀測(cè)硅拉曼峰(520cm-1)，520峰中心位置重復(fù)性≤±0.02cm-1；
6.內(nèi)置多塊可用光柵以對(duì)應(yīng)不同波長(zhǎng)，軟件控制自動(dòng)切換，光柵控制需采用光柵尺反饋控制光柵的精確定位。
四、檢測(cè)器
1.CCD檢測(cè)器及以上，像素1024*256及以上；
★2.量子效率：≥ 50%；
★3.暗噪音：≤ 0.002 e-/pixel/s；
4.信號(hào)線性放大范圍1-1000倍；
5.致冷溫度至少-60ºC控制。
五、顯微鏡
1.高穩(wěn)定性研究級(jí)顯微鏡,10X原裝目鏡；
2.彩色攝像頭，用于清晰觀察樣品及拍照錄像，可在計(jì)算機(jī)上顯示存儲(chǔ)圖像；
★3.原裝物鏡：5X，10X，100X，50X長(zhǎng)焦 (或同等水平物鏡及以上)；
4.原裝反射光源；
5.樣品臺(tái)：XYZ自動(dòng)樣品臺(tái)。
六、共焦技術(shù)
1.橫向分辨率<0.5微米，光軸方向縱向分辨率<1.5微米。
七、自動(dòng)平臺(tái)
1.X≥100毫米，Y≥75毫米；
2.X、Y方向最小步長(zhǎng)精度0.1微米，Z方向最小步長(zhǎng)精度0.2微米；
3.自動(dòng)定位測(cè)量點(diǎn)和進(jìn)行光譜成像。自動(dòng)拉曼信號(hào)聚焦。
八、智能控制
1.內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)樣品：自動(dòng)準(zhǔn)直激光到樣品的激發(fā)光路、樣品至探測(cè)器的拉曼信號(hào)傳遞光路；
2.自動(dòng)光路準(zhǔn)直：儀器自動(dòng)準(zhǔn)直激光激發(fā)光路、拉曼信號(hào)傳遞光路與白光光路至顯微鏡載物臺(tái)上的微米級(jí)樣品點(diǎn)上, 自動(dòng)實(shí)現(xiàn)全光路共軸與能量?jī)?yōu)化；
3.自動(dòng)波長(zhǎng)校準(zhǔn)功能：內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)氖燈光源，自動(dòng)實(shí)現(xiàn)全光譜自動(dòng)校準(zhǔn)，保證光譜峰位準(zhǔn)確度；
4.自動(dòng)拉曼信號(hào)強(qiáng)度校正功能：內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)白光光源，軟件自動(dòng)校準(zhǔn)拉曼光強(qiáng)度，消除不同波長(zhǎng)信號(hào)的響應(yīng)差異。
九、計(jì)算機(jī)與軟件
1.計(jì)算機(jī)性能好于Intel i7以上機(jī)型，大于16G內(nèi)存，1T GB硬盤；
2.軟件包括儀器控制、數(shù)據(jù)采集、計(jì)算和處理及曲線擬合等各項(xiàng)功能。
十、數(shù)據(jù)庫
具有譜庫檢索和建庫功能，并提供無機(jī)物、有機(jī)物高分子數(shù)據(jù)庫。
十一、售后、安裝與培訓(xùn)
1.質(zhì)保期：提供主機(jī)兩年免費(fèi)質(zhì)保，激光器一年免費(fèi)質(zhì)保，質(zhì)保期自買方驗(yàn)收簽字之日起計(jì)算。質(zhì)保期內(nèi)的零部件、配件和人工等均為免費(fèi)。
2.質(zhì)保期外，投標(biāo)貨物制造廠家應(yīng)保證15年內(nèi)能夠提供設(shè)備備件和相關(guān)維修服務(wù)。
3.用戶實(shí)驗(yàn)室準(zhǔn)備完畢后，工程師到現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行儀器的安裝，并對(duì)儀器的各項(xiàng)指標(biāo)進(jìn)行驗(yàn)收，確認(rèn)儀器達(dá)到或優(yōu)于合同規(guī)定的技術(shù)指標(biāo)。1. 貨物清點(diǎn)：按照合同及發(fā)貨清單清點(diǎn)設(shè)備及配件。
4.安裝及調(diào)試：工程所將儀器通電，檢查整機(jī)及所有的配件都運(yùn)轉(zhuǎn)正常，并對(duì)儀器進(jìn)行調(diào)試，按照制造商提供的出廠報(bào)告逐項(xiàng)檢查儀器指標(biāo)。3. 驗(yàn)收：按照雙方簽訂的技術(shù)協(xié)議中的驗(yàn)收程序和指標(biāo)進(jìn)行驗(yàn)收。
5.在用戶現(xiàn)場(chǎng)，工程師將對(duì)用戶進(jìn)行儀器的使用操作、日程維護(hù)保養(yǎng)及簡(jiǎn)單的故障排除的培訓(xùn)。包括儀器的軟件、硬件和附件的安裝，使用戶能夠獨(dú)立使用并獲取正確的數(shù)據(jù)。應(yīng)用中心：提供高級(jí)應(yīng)用培訓(xùn)，2人次。
第二包：原子力顯微鏡(預(yù)算金額：¥130萬元；數(shù)量1臺(tái))
一、主要技術(shù)參數(shù)和配套
★1.掃描器個(gè)數(shù)及掃描范圍:提供兩個(gè)獨(dú)立不同范圍的掃描器：高分辨掃描器:XY方向最大掃描范圍≤10微米,Z方向≤3微米；大范圍掃描器：XY方向最大掃描范圍≥120微米,Z方向≥5微米。
2.掃描器噪音RMS≤0.3Å(垂直方向)，橫向分辨率：0.2納米(XY方向)，可得到穩(wěn)定的云母及石墨原子像。
3.掃描方式：采用樣品掃描的高分辨掃描方式，掃描管驅(qū)動(dòng)樣品掃描，探針支架、探針及激光頭掃描過程中保持位置恒定。
4. 進(jìn)針方式:智能自動(dòng)進(jìn)針方式。
★5.光學(xué)輔助觀察系統(tǒng)：450倍放大，分辨率1.5微米，彩色CCD攝像頭，保證至少200微米至1200微米視場(chǎng)區(qū)域。
★6.提供防震裝置及防震臺(tái)(需要防止低頻共振，防震頻率：0.5Hz)，可實(shí)現(xiàn)AFM云母原子像測(cè)試要求。
7.圖像處理及分析軟件：要求提供無安裝次數(shù)限制的離線處理及分析軟件，軟件要求以后可免費(fèi)升級(jí)。
二、儀器配置功能
1.原子力顯微鏡(AFM)，模式包括以下：
(1)智能掃描模式；
(2)接觸模式(Contact Mode)；
(3)輕敲模式(Tapping Mode)；
(4)相位成像模式(Phase imaging Mode)；
(5)壓電響應(yīng)模式(PFM)；
(6)橫向力/摩擦力顯微鏡(LFM)；
(7)力曲線/力譜測(cè)量(Force curve / Force volume)；
2.靜電力顯微鏡(EFM)；
3.表面電勢(shì)顯微鏡(KFM)；
4.磁力顯微鏡(MFM)；
5.掃描隧道顯微鏡(STM)；
6.溶液環(huán)境測(cè)試模式(Measure in Fluid)；
★7.電化學(xué)掃描隧道顯微鏡(EC STM)；
8.電化學(xué)原子力顯微鏡(EC AFM)；
9.導(dǎo)電原子力顯微鏡(CAFM)；
10.定量納米力學(xué)性能測(cè)試(Peak force QNM)。
三、標(biāo)準(zhǔn)配置
主機(jī)及測(cè)試系統(tǒng)
1.高速控制器系統(tǒng)1套(電腦配置不低于以下要求：16G內(nèi)存工作站主機(jī)；4核Intel i7處理器；硬盤總?cè)萘?T(7200轉(zhuǎn))；1臺(tái)30尺寸的全顯示顯示器。
2.原子力顯微鏡主機(jī)：1套
3.高分辨掃描器(10微米掃描范圍)：1個(gè)；
4.大范圍掃描器(120微米掃描范圍)：1個(gè)；
5.探針支架(大氣及液體環(huán)境實(shí)現(xiàn)形貌及物理特性測(cè)試要求)：1組；
6.光學(xué)系統(tǒng)，含彩色高分辯CCD系統(tǒng)：1套；
7.防震臺(tái)(進(jìn)口汽浮防震臺(tái))：1個(gè)；
8.電化學(xué)液體池：1個(gè)；
9.電化學(xué)工作站：1臺(tái)；
10. 45倍單筒顯微鏡：1個(gè)；
11.普通液體池：1個(gè)；
12.穩(wěn)壓電源：1個(gè)。
四、附件
1.標(biāo)準(zhǔn)樣品(云母片和光柵)：1套；
2.儀器專用工具：1套；
3.儀器各模塊所含的配件和耗材。
五、耗材
1.接觸模式探針：50根；
2.輕敲模式探針(42N/m，asymmetric tip)：50根；
3.輕敲模式探針(40N/m，symmetric tip)：30根；
4.智能成像模式探針：30根；
5. 智能成像模式探針(液體)：30根；
6. 導(dǎo)電模式探針：30根；
7. 磁力/導(dǎo)電顯微鏡探針：30根。
第三包：微區(qū)電化學(xué)分析儀(預(yù)算金額：¥130萬元；數(shù)量1臺(tái))
一、通用樣品臺(tái)定位掃描系統(tǒng)
1.掃描范圍 (X、Y、Z)：≥100mm×100mm×100mm；
2.掃描驅(qū)動(dòng)分辨率：≤10nm；
3.最大掃描速度：10mm/s；
4.光學(xué)平臺(tái)：蜂窩狀光學(xué)平臺(tái)，抗震；
5.定位系統(tǒng)：X，Y，Z軸全部采用高精度馬達(dá)定位系統(tǒng)。
二、掃描電化學(xué)顯微鏡(SECM和ac-SECM)
1.恒電位儀測(cè)量電位及分辨率：±10V,≤1μV；
2.電流量程及分辨率：1pA-500mA(可擴(kuò)展至120A)，≤1fA；
3.浮地功能：支持；
4.EIS頻率范圍：10μHz～7MHz；
5.EIS測(cè)試精度：<0.2%；
6.功能：ac-SECM技術(shù)支持沒有氧化還原介質(zhì)條件下測(cè)量局部電導(dǎo)率；
7.掃描探針技術(shù)：包括x、y和z線、面掃描，z探針逼近曲線、
三、間歇接觸掃描電化學(xué)顯微鏡(ic-SECM)
1.恒電位儀測(cè)量電位及分辨率：±10V,≤1μV；
2.電流量程及分辨率：1pA-500mA(可擴(kuò)展至120A)，≤1fA；
3.EIS頻率范圍：10μHz～7MHz；
4.形貌測(cè)量分辨率：20nm；
5.針尖控制方式：壓電單元和步進(jìn)電機(jī)；
6.壓電晶體變形尺度：100μm；
7.功能：ic-SECM技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)恒定距離測(cè)試，可以同時(shí)測(cè)試傾斜、彎曲、破損等異形樣品的形貌和電化學(xué)性能。
四、微區(qū)電化學(xué)阻抗(LEIS)
1.電位量程及分辨率：±10V,≤1μV；
2.電流量程及分辨率：1pA-500mA(可擴(kuò)展至120A)，≤1fA；
3.浮地功能：支持；
4.EIS頻率范圍：10μHz～7MHz；
5.EIS測(cè)試精度：<0.2%；
五、掃描開爾文探針(SKP)和掃描振動(dòng)探針(SVET)
1.鎖相放大器：軟件控制增益量程：1-105s；
2.輸出時(shí)間常數(shù)：0.1,1,10s；
3.差分電位計(jì)：1015Ω輸入阻抗，增益范圍：0-80dB；
4.振動(dòng)驅(qū)動(dòng)器：壓電晶體；
5.振幅：垂直樣品表面1-30μm。
六、配件
1.計(jì)算機(jī)：筆記本電腦配置滿足設(shè)備控制與使用，保證測(cè)試過程無卡頓、無數(shù)據(jù)丟失、無內(nèi)存溢出等問題，安裝正版英文操作系統(tǒng)。提供正版儀器控制軟件和數(shù)據(jù)分析軟件。
2.彩色探針成像系統(tǒng)，可清晰分辨探針與樣品間距離。
3.專用電解池：4套(其中，SECM專用微電解池2套(每套都包括Pt對(duì)電極、參比電極及其相關(guān)密封配件和螺絲)；大電解池2套)。
4.用于設(shè)備、樣品安裝的拆卸工具1套。
七、其他參數(shù)
1.設(shè)備標(biāo)配的探針各1套。
耗材配置：SKP探針直徑100μm(5支)、直徑250μm(5支)、直徑500μm(5支)；SVET探針(5支)；LEIS探針(5支)；SECM和ic-SECM探針直徑5μm(4支)、10μm(4支)、直徑25μm(4支)。
2.用于微區(qū)電化學(xué)測(cè)試的屏蔽箱1臺(tái)，可以實(shí)現(xiàn)所有微區(qū)測(cè)試模塊的屏蔽作用。
3.用于微區(qū)電化學(xué)測(cè)試的防振動(dòng)平臺(tái)1套。
4.整機(jī)保修3年，維護(hù)人員差旅費(fèi)、食宿費(fèi)自理。
獲取招標(biāo)文件
時(shí)間：2021年08月16日 至 2021年08月20日，每天上午8:00至12:00，下午12:00至17:00。(北京時(shí)間，法定節(jié)假日除外)
地點(diǎn)：zangshengcheng@sdhyha.com
提交投標(biāo)文件截止時(shí)間、開標(biāo)時(shí)間和地點(diǎn)
提交投標(biāo)文件截止時(shí)間：2021年09月07日 14點(diǎn)00分(北京時(shí)間)
開標(biāo)時(shí)間：2021年09月07日 14點(diǎn)00分(北京時(shí)間)
地點(diǎn)：青島市嶗山區(qū)文嶺路5號(hào)白金廣場(chǎng)C座202B室
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