【儀表網(wǎng) 行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)】由中國(guó)光學(xué)光電子行業(yè)協(xié)會(huì)組織相關(guān)企業(yè)起草的團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)《光熱透鏡法弱吸收率測(cè)試儀》(項(xiàng)目計(jì)劃號(hào)T-2024-0003)已經(jīng)完成征求意見(jiàn)稿，按照相關(guān)規(guī)定，現(xiàn)公開(kāi)征求意見(jiàn)。意見(jiàn)反饋郵箱：zhs@coema.org.cn。
 

　　近年來(lái)，隨著高能激光的發(fā)展，對(duì)光學(xué)材料提出越來(lái)越高的要求，而光學(xué)材料由于制造工藝(生長(zhǎng)工藝)、原材料雜質(zhì)的存在，不可避免的存在吸收。隨著光學(xué)材料研究的進(jìn)一步深入，人們對(duì)于材料吸收系數(shù)的研究越來(lái)越深刻。
 

　　當(dāng)用強(qiáng)的激光照射某一透鏡時(shí)，該介質(zhì)可將吸收的能量周期性地轉(zhuǎn)變成熱能，使材料本身及周?chē)橘|(zhì)的溫度升高，從而引起其折射率的變化，使得透鏡的焦距發(fā)生改變，引起波形變化、退偏等現(xiàn)象產(chǎn)生，進(jìn)而使得激光系統(tǒng)不穩(wěn)定。傳統(tǒng)意義的測(cè)量方法是無(wú)法測(cè)量到ppm量級(jí)的吸收系數(shù)，而如此小的吸收系數(shù)就能給激光系統(tǒng)帶來(lái)不可想象的困難。因此，很有必要測(cè)量材料的吸收系數(shù)，通過(guò)測(cè)量吸收系數(shù)一方面可以為選擇合適的光學(xué)材料提供參考，另一方面可以幫助材料生產(chǎn)廠(chǎng)家在研究造成吸收大的原因時(shí)，從源頭上解決吸收問(wèn)題。
 

　　為推動(dòng)光熱透鏡法測(cè)弱吸收和光熱透鏡法弱吸收率測(cè)試儀的使用，制定光熱透鏡法弱吸收率測(cè)試儀的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)成為行業(yè)的當(dāng)務(wù)之急。光熱透鏡法弱吸收率測(cè)試儀標(biāo)準(zhǔn)的制定，第一，可明確光熱透鏡法弱吸收率測(cè)試儀的定義及范圍；第二，可規(guī)定統(tǒng)一的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)，規(guī)范市場(chǎng)；第三，可為用戶(hù)選擇合適的光學(xué)材料提供依據(jù)以及為研究人員提供新的測(cè)試方法，極大方便了廣大用戶(hù)群體。
 

　　本文件按照GB/T 1.1—2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則 第1部分：標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的規(guī)定起草。本文件起草單位：福建福晶科技股份有限公司、中國(guó)科學(xué)院福建物質(zhì)結(jié)構(gòu)研究所、閩都創(chuàng)新實(shí)驗(yàn)室、中國(guó)工程物理研究院化工材料研究所。
 

　　本文件給出了光熱透鏡法弱吸收率測(cè)試儀(PLI)的原理、要求、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)、標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸及貯存、質(zhì)量保證等。
 

　　本文件適用于透射式探測(cè)構(gòu)型的光熱透鏡法弱吸收率測(cè)試儀(PLI)對(duì)激光晶體、元件的表面吸收(或薄膜吸收)、體吸收。
 

　　原理：
 

　　光熱透鏡法弱吸收率測(cè)試儀(PLI)利用一束泵浦激光照射樣品表面，樣品產(chǎn)生表面形變分布或體內(nèi)折射率梯度分布，形成熱透鏡效應(yīng)。同時(shí)用另一束探測(cè)激光照射在樣品同一區(qū)域時(shí)，探測(cè)激光的中心光強(qiáng)的變化可作為光熱信號(hào)。校準(zhǔn)由光電探測(cè)器探測(cè)得的光熱信號(hào)，通過(guò)信號(hào)處理、數(shù)據(jù)分析獲得被測(cè)樣品的吸收值。
 

　　透射構(gòu)型的光熱透鏡法弱吸收率測(cè)試儀使泵浦光束與探測(cè)光束的交點(diǎn)沿著樣品深度方向運(yùn)動(dòng)，可區(qū)分測(cè)量表面吸收和體吸收。用該交點(diǎn)對(duì)樣品進(jìn)行二維或三維掃描測(cè)量，可繪制樣品吸收或吸收率的二維或三維分布圖。
 

　　型式檢驗(yàn)：
 

　　凡屬于下列情況之一者，應(yīng)按本標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行型式檢驗(yàn)：
 

　　a) 新儀器或者老儀器轉(zhuǎn)廠(chǎng)生產(chǎn)的試制定型鑒定；
 

　　b) 正式生產(chǎn)后，如結(jié)構(gòu)、材料、工藝有較大改變，可能影響儀器性能時(shí)；
 

　　c) 儀器長(zhǎng)期停產(chǎn)，恢復(fù)生產(chǎn)時(shí)；
 

　　d) 正常生產(chǎn)，按周期進(jìn)行型式檢驗(yàn)；
 

　　e) 出廠(chǎng)檢驗(yàn)結(jié)果與上次型式檢驗(yàn)有較大差異時(shí)；
 

　　f) 國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督機(jī)構(gòu)提出進(jìn)行型式檢驗(yàn)要求時(shí)。
 

　　g) 用戶(hù)提出進(jìn)行型式檢驗(yàn)的要求時(shí)。
 

　　本標(biāo)準(zhǔn)給出的光熱透鏡法弱吸收率測(cè)試儀的光熱方法，在國(guó)內(nèi)外廣泛應(yīng)用于激光晶體、光學(xué)元件等的弱吸收測(cè)量和吸收分布，儀器裝置經(jīng)實(shí)踐檢驗(yàn)為對(duì)弱吸收靈敏度較高的弱吸收測(cè)量?jī)x器，經(jīng)反復(fù)的數(shù)據(jù)積累和技術(shù)優(yōu)化，可快速高效應(yīng)用于科研和企業(yè)的性能研究和質(zhì)量控制。
 

　　經(jīng)本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范的光熱透鏡法弱吸收率測(cè)試儀，將與國(guó)際先進(jìn)標(biāo)準(zhǔn)接軌，其吸收測(cè)量和成像結(jié)果在國(guó)際上具有可比性，利于國(guó)內(nèi)外的學(xué)術(shù)交流和光學(xué)產(chǎn)品的流通，同時(shí)亦可推動(dòng)光熱透鏡法弱吸收率測(cè)試儀儀器產(chǎn)業(yè)進(jìn)一步發(fā)展。