【儀表網(wǎng) 儀表標(biāo)準(zhǔn)】由浙江省質(zhì)量協(xié)會(huì)組織，杭州高坤電子科技有限公司主起草的團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)《半導(dǎo)體器件間歇工作壽命試驗(yàn)設(shè)備》已完成征求意見(jiàn)稿，根據(jù)《團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)管理規(guī)定》(國(guó)標(biāo)委聯(lián)〔2019〕1 號(hào))、《浙江省質(zhì)量協(xié)會(huì)團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)管理辦法》(試行)的有關(guān)規(guī)定，現(xiàn)公開(kāi)征求意見(jiàn)。
 

　　本文件按照GB/T 1.1—2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則 第1部分：標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的規(guī)定起草。本文件參考GB/T 191 包裝儲(chǔ)運(yùn)圖示標(biāo)志；GB/T 4793.1 測(cè)量、控制和實(shí)驗(yàn)室用電氣設(shè)備的安全要求 第1部分：通用要求；GB/T 5170.2—2017 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備；GB/T 6587—2012 電子測(cè)量儀器通用規(guī)范；GB/T 9969 工業(yè)產(chǎn)品使用說(shuō)明書(shū)總則；GB/T 17626.2 電磁兼容性 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 靜電放電抗擾度試驗(yàn)；GB/T 17626.3 電磁兼容性 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)；GB/T 17626.4 電磁兼容性 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)等規(guī)范編制。
 

　　本文件規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路間歇工作壽命試驗(yàn)設(shè)備的術(shù)語(yǔ)和定義、基本參數(shù)、技術(shù)要求、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則、標(biāo)志、使用說(shuō)明書(shū)、包裝、運(yùn)輸和貯存。本文件適用于Si/SiC二極管、三極管、MOSFET/IGBT等器件的間歇工作壽命試驗(yàn)設(shè)備。
 

　　工作環(huán)境：
 

　　壽命試驗(yàn)設(shè)備工作環(huán)境應(yīng)符合下列要求：a)環(huán)境溫度：5℃～35℃；b)相對(duì)濕度：≤80%RH；c)大氣壓強(qiáng)：86kPa～106kPa；d)電網(wǎng)電壓：AC220V±10%；e)電網(wǎng)頻率：50Hz±8Hz；f)周圍無(wú)強(qiáng)磁場(chǎng)干擾和有害氣體侵蝕；g)周圍無(wú)強(qiáng)烈振動(dòng)，無(wú)其他熱源直接輻射。
 

　　外觀結(jié)構(gòu)：
 

　　1.設(shè)備外殼不得有明顯斑點(diǎn)、劃痕、色斑等缺陷，應(yīng)無(wú)危害安裝、正常使用或維護(hù)的尖端或銳邊。2.設(shè)備接插件插頭絕緣應(yīng)無(wú)任何破損，并接插穩(wěn)固。3.設(shè)備開(kāi)關(guān)及按鍵應(yīng)靈活可靠，零部件裝配應(yīng)牢固，無(wú)卡澀、松動(dòng)現(xiàn)象。4.試驗(yàn)通道應(yīng)光滑平整、無(wú)變形、損失，箱門應(yīng)開(kāi)關(guān)靈活，閉合緊密。5.設(shè)備整體尺寸應(yīng)符合設(shè)計(jì)圖紙要求，尺寸偏差應(yīng)為±5mm。6.說(shuō)明性文字、符號(hào)、標(biāo)志應(yīng)清晰、耐久。
 

　　試驗(yàn)條件：
 

　　試驗(yàn)應(yīng)在下列條件下進(jìn)行：a)溫度：15℃～35℃；b)濕度：(40～60)%RH；c)大氣壓：86kPa～106kPa；d)電源：標(biāo)稱交流電源；e)狀態(tài)：正常工作狀態(tài)。
 

　　型式試驗(yàn)：
 

　　有下列情況之一，應(yīng)進(jìn)行型式檢驗(yàn)： a) 新產(chǎn)品或老產(chǎn)品轉(zhuǎn)廠生產(chǎn)的試制定型鑒定時(shí)；b) 正式生產(chǎn)后，如結(jié)構(gòu)、材料、工藝等有較大改變，可能影響產(chǎn)品性能時(shí)； c) 正常生產(chǎn)，每年應(yīng)進(jìn)行一次型式試驗(yàn)；d)產(chǎn)品長(zhǎng)期停產(chǎn)1年后，恢復(fù)生產(chǎn)時(shí)； e) 出廠檢驗(yàn)結(jié)果與上次型式檢驗(yàn)有較大差異時(shí)。
 

　　型式檢驗(yàn)樣品應(yīng)從出廠檢驗(yàn)合格的產(chǎn)品中隨機(jī)抽取2個(gè)樣品。型式檢驗(yàn)全部項(xiàng)目合格應(yīng)判定型式檢驗(yàn)合格，若有不合格項(xiàng)時(shí)，應(yīng)對(duì)不合格項(xiàng)進(jìn)行復(fù)檢，復(fù)檢合格應(yīng)判定為合格，復(fù)檢仍不合格，應(yīng)判定型式檢驗(yàn)不合格。