超大功率X射線熒光測(cè)厚儀 25mm2PIN 探測(cè)器 

· 多準(zhǔn)直器配置 

· 掃描分析及元素分布成像功能 

· 靈活運(yùn)用多種分析模型 

· 清晰顯示樣品合格/不合格 

· 超大樣品艙 

· 同時(shí)分析元素含量和鍍層厚度 

· 應(yīng)用-RoHS/WEEE

超大功率X射線熒光測(cè)厚儀應(yīng)用領(lǐng)域

黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè).
金屬鍍層的厚度測(cè)量, 電鍍液和鍍層含量的測(cè)定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷售和檢測(cè)機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)。

超大功率X射線熒光測(cè)厚儀

·電制冷固態(tài)探測(cè)器確保的信/躁比，從而降低檢測(cè)下限。探測(cè)器分辨率*，能更容易地識(shí)別、量化和區(qū)分相鄰的元素。超大探測(cè)器靈敏窗口大幅提高了計(jì)數(shù)率——大多數(shù)的分析能在數(shù)秒或數(shù)分種內(nèi)完成。靈活組合運(yùn)用五個(gè)初級(jí)濾波器，使X光管激發(fā)效率達(dá)到較佳，得到*的應(yīng)用效果。儀器測(cè)量直徑zui小可達(dá)到150微米?？晒┻x擇的準(zhǔn)直器直徑有0.1、0.2、0.3和1.27毫米。特別設(shè)計(jì)的鋁鈦板在檢測(cè)輕制樣品時(shí)能大幅降低背景噪音，從而達(dá)到更低的檢測(cè)下限。對(duì)電子產(chǎn)品上的關(guān)鍵組裝區(qū)域進(jìn)行快速篩選性檢測(cè) 

·儀器在設(shè)定的檢測(cè)程序中可通過掃描功能一次性快速分析大面積的區(qū)域。一旦識(shí)別出問題區(qū)域，即可對(duì)特定小點(diǎn)進(jìn)行定量分析。掃描分析及元素分布成像功能能夠快速識(shí)別復(fù)雜組件中的含鉛的零部件或連接件。該款儀器內(nèi)置數(shù)碼影像裝置，能夠精確顯示樣品擺放位置及測(cè)試點(diǎn)位置。樣品掃描映射成像圖中可對(duì)各種待測(cè)元素設(shè)置不同顏色，然后形成單種或多種元素的組成及含量分布圖。 

·根據(jù)不同應(yīng)用，您可以選擇不同的分析方法：經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法、基本參數(shù)法或兩者結(jié)合。如果您
知道分析物的元素組成矩陣和含量范圍，經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法是合金分類和元素含量分析的檢測(cè)方法。當(dāng)無法預(yù)知準(zhǔn)確的元素組成或標(biāo)準(zhǔn)片不完備情況時(shí)，可選用基本參數(shù)法，通過儀器擁有的完整光譜數(shù)據(jù)庫，對(duì)基材和鍍層進(jìn)行可信的厚度測(cè)量和元素定量分析，測(cè)試范圍可從ppm至%。 

·自由距離測(cè)量及超大型樣品艙數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)功能強(qiáng)大，包括平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、柱狀圖和管理圖表。數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)導(dǎo)出，可以保存為Excel格式，并快速生成分析報(bào)告。用戶能設(shè)置快捷鍵，對(duì)樣品進(jìn)行一鍵校準(zhǔn)。用戶界面提供9種操作語言大型樣品艙能夠靈活地檢測(cè)大件或形狀不規(guī)則的樣品?？稍?.5” 至3.5”（12.7mm to 88.9mm）范圍內(nèi)自由調(diào)節(jié)聚焦距離，來實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品不同表面的測(cè)量。樣品艙內(nèi)部空間580mmx510mmx230mm。封閉樣品艙設(shè)計(jì)能*防止輻射污染，特別針對(duì)塑料等輕質(zhì)樣品的檢測(cè)過程而設(shè)計(jì)。大艙門使樣品更易放入。 

·自定義程序能通過自定義報(bào)告清晰顯示樣品測(cè)試是否合格或不合格，還可設(shè)置其他針對(duì)特定被測(cè)元素的報(bào)警程序。專業(yè)報(bào)告生成軟件，可證明用戶在檢測(cè)消費(fèi)品是否含有有害元素的過程中所采取的盡職措施。