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元素分析

在使用純金屬或合金層來增強(qiáng)產(chǎn)品品質(zhì)和性能的同時，確定樣品元素成分和確定鍍層厚度一樣很重要。

元素分析的應(yīng)用

• 涂層和合金的材料分析
• 產(chǎn)品查驗
• 制造過程控制
• 污染物的痕量分析
• 材料研究與開發(fā)
• 電子元件和連接器的電鍍成分和厚度分析
• 線路板鍍層分析，例如鎳層和小于0.1μm的金鈀合金層
• 分析進(jìn)口黃金（和其他貴金屬），珠寶和手表

博曼XRF系統(tǒng)可分析元素成分，同時可測量鍍層厚度，簡化了品質(zhì)管控的流程。

溶液分析

電鍍槽組件的管理，包括主要組件，痕量組件以及添加劑。這些因素的管控關(guān)乎產(chǎn)品品質(zhì)與成本。

博曼XRF系統(tǒng)提供高精度，非破壞性，快速和用戶友好的方法來分析鍍液的金屬含量。

軟件

一旦從樣品生成XRF數(shù)據(jù)，軟件就會將X射線強(qiáng)度轉(zhuǎn)換為厚度或成分。 該軟件有兩個組成部分：頻譜處理和定量分析。

• 波譜處理軟件的功能是提取波譜中x射線的強(qiáng)度。涉及能量校準(zhǔn)，波譜穩(wěn)定，峰鑒別，死時間修正，和峰修正，逃逸峰修正，重疊修正，背景扣除等。
• 定量分析根據(jù)XRF強(qiáng)度計算厚度和成分。 由于基質(zhì)效應(yīng)，強(qiáng)度和厚度/組成之間的關(guān)系是復(fù)雜的。 矩陣效應(yīng)是元素間或?qū)娱g效應(yīng)。 來自一種元素的熒光X射線可被樣品中的其他元素吸收或增強(qiáng)。 因此，一種元素的組成/厚度與熒光X射線強(qiáng)度的關(guān)系取決于材料中存在的其他元素。

進(jìn)行定量分析

有兩種方法可以進(jìn)行定量分析。 經(jīng)驗方法，例如干擾系數(shù)，α系數(shù)等，用多項式函數(shù)逼近矩陣效應(yīng)。 這些方法要求在校準(zhǔn)中使用窄范圍內(nèi)的多個標(biāo)準(zhǔn)。 優(yōu)點是這些方法不需要復(fù)雜的計算，并且易于理解和實現(xiàn)。

FP方法通過理論計算校正矩陣效應(yīng)。 計算基于物理定律和基本物理參數(shù)。 理論上，F(xiàn)P不需要在擴(kuò)展范圍內(nèi)進(jìn)行校準(zhǔn)和功能。 仍然需要校準(zhǔn)以小化物理參數(shù)和系統(tǒng)不確定性的誤差。 FP的算法發(fā)布在1970中，各種FP軟件系統(tǒng)之間的差異并不顯著。 FP cal比經(jīng)驗cal更復(fù)雜，并且需要更高的計算能力。

博曼測量軟件采用Emp和FP鍍層厚度演算法