Thermal probe system熱掃描探針系統(tǒng)，聯(lián)用AFM顯微鏡，既能實現(xiàn)AFM探針常規(guī)輕敲和接觸掃描，獲得高清晰度的圖像，同時能夠?qū)崿F(xiàn)樣品熱學(xué)性質(zhì)的探測。尤其適用于高分子材料組分熱學(xué)性質(zhì)評估。

模塊性能：

可以同時實現(xiàn)樣品表面形貌掃描和材料相關(guān)熱學(xué)性能測試

1） 溫度；

2） 溫度梯度變化曲線；

3） 定性熱導(dǎo)率；

4） 相變溫度；

5） 定性熱容量；

模塊優(yōu)勢：

1）高性價比，能實現(xiàn)熱學(xué)掃描及熱學(xué)性質(zhì)測試的功能，價格僅為其為同類產(chǎn)品的一半；

2）精細測量，能達到20nm區(qū)域測溫；

3）耐高溫，針尖在700℃高溫下也不易變形；

模塊掃描機制：

應(yīng)用領(lǐng)域：

Thermal Probe system適用于太陽能電池、有機發(fā)光材料研究、發(fā)光器件以及其它對高分子熱學(xué)性質(zhì)探測、高分子組分特點研究等各個領(lǐng)域。