這款是美國ANASYS公司的革命性設(shè)備,針對的是微區(qū)紅外表征,突破了傳統(tǒng)紅外設(shè)備分辨率的限制,利用AFM(原子力顯微鏡)、納米級熱分析儀和納米級紅外的結(jié)合,在用AFM掃出形貌圖的同時,可測得納米級尺度上樣品的物理和化學性質(zhì),這是FT-IR和ATR-IR所不能有的;并且是對傳統(tǒng)DSC的革命性突破,通過高速微區(qū)加熱的熱分析(每分鐘可達60000℃的加熱),得到樣品的真實融點和結(jié)晶性情況,用此設(shè)備測得樣品TG溫度比DSC測得低了20℃。