型號：LDX-CS2350
LDX-CS2350雙單元電化學(xué)工作站是基于常規(guī)單通道系列CS350型發(fā)展而來，內(nèi)置兩套的恒電位/恒電流儀，每套恒電位儀各有一套輔助、工作和參比電輸出，并由Corrtest軟件來協(xié)調(diào)輸出電位/電流。
LDX-CS2350工作時分主單元和從單元兩路，從單元采用浮地模式實(shí)現(xiàn)對第二工作電WEII的電位/電流控制。第二工作電電位可以保持在的恒定電位或電流值，也可實(shí)現(xiàn)于一工作電的線性掃描或循環(huán)伏案掃描等測試。
因此，LDX-CS2350除了具備單通道工作站的所有特點(diǎn)，還可用于電化學(xué)反應(yīng)中間產(chǎn)物的檢測。
典型應(yīng)用
①配合旋轉(zhuǎn)環(huán)盤電用于研究電化學(xué)氧化還原體系，在測量圓盤電化曲線的同時，控制圓環(huán)電于一個固定的化電勢，用以檢測圓盤電上產(chǎn)生的反應(yīng)中間物，該方法也成為檢測反應(yīng)中間物和研究電反應(yīng)機(jī)理的典型流體動力學(xué)方法。
②金屬中氫擴(kuò)散測試，兩個恒電位裝置配合Devnathan-Stachurski雙電解池，通過左側(cè)電解池的陰充氫和右側(cè)電解的氫原子陽氧化電流測量，進(jìn)而計(jì)算氫原子在金屬中擴(kuò)散系數(shù)和氫通量。
硬件參數(shù)指標(biāo)
| 雙恒電位儀：單恒電位電位控制范圍：±10V 雙恒電位儀電位控制范圍:±10V | 恒電流控制范圍：±2.0A |
| 電位控制精度：0.1%×滿量程讀數(shù)±1mV | 電流控制精度：0.1%×滿量程讀數(shù) |
| 電位靈敏度：10μV(>100Hz), 3μV(<10Hz) | 電流靈敏度：<10pA |
| 電位上升時間：＜1μS(<10mA),＜10μS(<2A) | 電流量程：2A～200nA, 共8檔 |
| 參比電輸入阻抗：1012Ω||20pF | zui大輸出電流：2.0A |
| 槽壓輸出：±21V | 電流掃描增量：1mA @1A/mS |
| CV和LSV掃描速度：0.001mV～10000V/s | 電位掃描電位增量：0.076mV @1V/mS |
| CA和CC脈沖寬度：0.0001～65000s | DPV和NPV脈沖寬度：0.0001～1000s |
| SWV頻率：0.001～100KHz | CV的zui小電位增量：0.075mV |
| AD數(shù)據(jù)采集：16bit@1MHz，20bit @1kHz | 電流與電位量程：自動設(shè)置 |
| DA分辨率：16bit，建立時間：1μS | 低通濾波器 ：8段可編程 |
| 通訊接口：USB2.0 | 儀器重量：6.5Kg |
| 外形尺寸（cm）：36.5(W)X30.5 (D)X16 (H) |
電化學(xué)阻抗測量參數(shù)
| 信號發(fā)生器 | |
| 頻率響應(yīng)：10μHz～1MHz | 交流信號幅值：1mV～2500mV |
| 頻率度：0.005% | 信號分辨率：0.1Mv RMS |
| 直流偏壓：-10V～+10V | DDS輸出阻抗：50Ω |
| 波形：正弦波，三角波，方波 | 正弦波失真率：<1% |
| 掃描方式：對數(shù)/線性，增加/下降 | |
| 信號分析器 | |
| zui大積分時間：106個循環(huán)或者105S | 測量時間延遲：0～105秒 |
| zui小積分時間：10mS 或者一個循環(huán)的長時間 | |
| 直流偏置補(bǔ)償 | |
| 電位補(bǔ)償范圍：-10V～+10V | 電流補(bǔ)償范圍：-1A～+1A |
| 帶寬調(diào)整：自動或手動設(shè)置, 共8級可調(diào) | |
CS2350雙單元電化學(xué)工作站功能方法
| 功 能 方 法 | 主單元 | 從單元 | 功 能 方 法 | 主單元 | 從單元 | ||
| 穩(wěn) 態(tài)
化 | 開路電位測量（OCP） | • | • | 溶 出 伏 安 | 恒電位溶出伏安 | • | |
| 恒電位化（i-t曲線） | • | • | 線性溶出伏安 | • | |||
| 恒電流化 | • | • | 階梯溶出伏安 | • | |||
| 動電位掃描（TAFEL曲線） | • | • | 方波溶出伏安 | • | • | ||
| 動電流掃描（DGP） | • | 交 流 阻 抗 | 電化學(xué)阻抗（EIS）～頻率掃描 | • | • | ||
| 暫 態(tài)
化 | 任意恒電位階梯波 | • | 電化學(xué)阻抗（EIS）～時間掃描 | • | |||
| 任意恒電流階梯波 | • | 電化學(xué)阻抗（EIS）～電位掃描（Mott-Schottky曲線） | • | ||||
| 恒電位階躍（VSTEP） | • | ||||||
| 恒電流階躍（ISTEP） | • | 腐 蝕 測 量 | 循環(huán)化曲線（CPP） | • | • | ||
| 快速電位脈沖 | • | 線性化曲線（LPR） | • | • | |||
| 快速電流脈沖 | • | 動電位再活化法（EPR） | • | ||||
| 計(jì) 時 分 析 | 計(jì)時電位法（CP） | • | 電化學(xué)噪聲 (EN) | • | |||
| 計(jì)時電流法（CA） | • | 電偶腐蝕測量 (ZRA) | • | ||||
| 氫擴(kuò)散測試（HDT）* | |||||||
| 計(jì)時電量法（CC） | • | 電 池測 試 | 電池充放電測試 | • | • | ||
| 伏 安 分 析 | 線性掃描伏安法（LSV） | • | • | ||||
| 線性循環(huán)伏安法（CV） | • | • | 恒電流充放電 | • | |||
| 階梯循環(huán)伏安法（SCV） | • | ||||||
| 差分脈沖伏安法（DPV） | • | 擴(kuò) 展 測 量 | 盤環(huán)電測試 * | • | |||
| 常規(guī)脈沖伏安法（NPV） | • | 數(shù)字記錄儀 | • | • | |||
| 方波伏安法（SWV） | • | 波形發(fā)生器 | • | • | |||
| 交流伏安法（ACV） | • | 圓盤電機(jī)控制 | • | • | |||
| 常規(guī)差分脈沖伏安法（DNPV） | • | ||||||
| 二次諧波交流伏安 (SHACV) | • | ||||||
儀器配置：
1）儀器主機(jī)1臺
2）CorrTest測試與分析軟件1套
3）專用電解池（含鹽橋和排氣管）2套
4）鉑金電、參比電、工作電各2支
5）模擬電解池1個
6）電源線/USB數(shù)據(jù)線各1條
7）電電纜線2條
8）屏蔽箱（選配*）
