● 內(nèi)置FRA頻響分析儀，頻率范圍 10μHz ~1MHz
● 高帶寬高輸入阻抗的放大器
● 高帶寬高輸入阻抗的放大器
伏安曲線的平滑、積分和微分運算，計算各氧化還原峰的峰電流、峰電位和峰面積等；
② 實時存儲
③ 定時測量
優(yōu)勢
① 交流阻抗
① 交流阻抗
② 極化曲線
③ 伏安分析
采用高阻跟隨器和零阻電流計測量腐蝕體系自發(fā)的電位與 電流波動，可用于點蝕、電偶腐蝕、縫隙腐蝕和應(yīng)力腐蝕開裂 等局部腐蝕研究。通過噪聲譜分析，可評估亞穩(wěn)態(tài)蝕點或裂紋的誘導(dǎo)、生長和死亡過程。基于噪聲電阻和點蝕指數(shù)計算，也可用于局部腐蝕監(jiān)測。
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電化學(xué)阻抗測量指標(biāo)
配置
1）儀器主機1臺
2）CS Studio測試與分析軟件1套
3）模擬電解池1個
4）電源線/USB數(shù)據(jù)線各1條
5）電極電纜線1條
6）電腦（選配*）
硬件參數(shù)指標(biāo)
| 恒電位控制范圍：±10V | 恒電流控制范圍：±2.0A |
| 電位控制精度：0.1%×滿量程讀數(shù)±1mV | 電流控制精度：0.1%×滿量程讀數(shù) |
| 電位靈敏度：10μV(>100Hz), 3μV(<10Hz) | 電流靈敏度：1pA |
| 電位上升時間：﹤1μS(<10mA),<10μS(<2A) | 電流量程：2nA～2A, 共10檔 |
| 參比電極輸入阻抗：1012Ω||20pF | 大輸出電流：2.0A |
| 槽壓輸出：±21V （可擴展至±200V) | 電流掃描增量：1mA @1A/mS |
| CV和LSV掃描速度：0.001mV～10000V/s | 電位掃描電位增量：0.076mV @1V/mS |
| CA和CC脈沖寬度：0.0001～65000s | DPV和NPV脈沖寬度：0.0001～1000s |
| SWV頻率：0.001～100KHz | CV的小電位增量：0.075mV |
| AD數(shù)據(jù)采集：16bit@1MHz，20bit @1KHz | 電流與電位量程：自動設(shè)置 |
| DA分辨率：16bit，建立時間：1μS | 低通濾波器 ：8段可編程 |
| 通訊接口：USB2.0 | 儀器重量：6.5Kg |
| 外形尺寸（cm）：36.4(W)X32.0 (D)X16.0 (H) |
電化學(xué)阻抗測量指標(biāo)
| 信號發(fā)生器 | |
| 頻率響應(yīng)：10μHz～1MHz | 交流信號幅值：1mV～2500mV |
| 頻率精確度：0.005% | 信號分辨率：0.1mV RMS |
| DDS輸出阻抗：50Ω | 直流偏壓：-10V～+10V |
| 正弦波失真率：<1% | 波形：正弦波，三角波，方波 |
| 掃描方式：對數(shù)/線性，增加/下降 | |
| 信號分析器 | |
| 大積分時間：106個循環(huán)或者105S | 測量時間延遲：0～105秒 |
| 小積分時間：10mS 或者一個循環(huán)的長時間 | |
| 直流偏置補償 | |
| 電位補償范圍：-10V～+10V | 電流補償范圍：-1A～+1A |
| 帶寬調(diào)整：自動或手動設(shè)置, 共8級可調(diào) | |
配置
1）儀器主機1臺
2）CS Studio測試與分析軟件1套
3）模擬電解池1個
4）電源線/USB數(shù)據(jù)線各1條
5）電極電纜線1條
6）電腦（選配*）
