ST-AC1200 晶體管動態(tài)特性測試系統(tǒng)-儀表網(wǎng)

公司介紹主營產(chǎn)品

陜西天士立科技有限公司，專業(yè)從事半導(dǎo)體檢測之“半導(dǎo)體電學(xué)測試系統(tǒng)”“半導(dǎo)體可靠性試驗(yàn)臺”“半導(dǎo)體老化試驗(yàn)臺”以及氣候環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備、力學(xué)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備、參數(shù)化脈沖電源、半導(dǎo)體EDA仿真軟件、智慧工廠、碳化硅陶瓷材料、第三方檢測實(shí)驗(yàn)室為一體的科研、制造、開發(fā)、服務(wù)性品牌。核心團(tuán)隊(duì)匯集了來自院所高校和企業(yè)的從事電力電子、芯片開發(fā)、電源、軟件等領(lǐng)域人士。產(chǎn)品成熟可靠，久經(jīng)市場考驗(yàn)，在替代同類進(jìn)口產(chǎn)品方面有著突出的優(yōu)勢。

“半導(dǎo)體檢測”系列產(chǎn)品覆蓋半導(dǎo)體功率器件的初始研發(fā)到規(guī)模量產(chǎn)再到應(yīng)用端的全產(chǎn)業(yè)鏈。服務(wù)領(lǐng)域包括半導(dǎo)體器件及IC上游產(chǎn)業(yè)（設(shè)計、制造、封裝、IDM廠商、晶圓、DBC襯板）和應(yīng)用端產(chǎn)業(yè)（院所高校、電子廠、軌道機(jī)車、新能源汽車、白色家電等......）應(yīng)用場景主要有器件及IC研發(fā)期預(yù)演測試、晶圓廠自動化芯片測試、器件及IC后道封裝測試。應(yīng)用端的來料檢驗(yàn)、失效分析、器件選型、參數(shù)配對、壽命預(yù)估等。

“環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備”包括力學(xué)振動臺、沖擊試驗(yàn)臺、振動溫度濕度三綜合、高低溫環(huán)境試驗(yàn)箱、各類氣候環(huán)境試驗(yàn)箱、熱流儀、精密實(shí)時在線高低溫箱。

“電氣工程”產(chǎn)品系列及服務(wù)包括電力半導(dǎo)體器件、模塊、組件的研制及綜合檢測設(shè)備；電氣自動化設(shè)備，電冶、電化學(xué)整流裝置；電力半導(dǎo)體變流裝置及各種高、中、低頻感應(yīng)加熱電源，感應(yīng)加熱爐，變壓器、整流器、電感器、電容器、互感器、傳感器及其配套設(shè)備；晶閘管光控高壓閥組、GTO、IGBT、IGCT、MOSFET驅(qū)動器；遠(yuǎn)距離光電傳感轉(zhuǎn)換軟件控制系統(tǒng)；光電脈沖觸發(fā)板、IGBT智能高壓驅(qū)動機(jī)車調(diào)速匯報板；SVC無功靜補(bǔ)裝置等。

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產(chǎn)品簡介在線詢價

產(chǎn)地	國產(chǎn)	加工定制	否	適用行業(yè)	電子電器

晶體管動態(tài)特性測試系統(tǒng)ST-AC1200專注寬禁帶功率器件動態(tài)參數(shù)評測，軟件程控，測試條件界面化輸入，系統(tǒng)閉環(huán)處理，自動調(diào)節(jié)一鍵測試；采用光纖驅(qū)動信號通訊，響應(yīng)速度快。

晶體管動態(tài)特性測試系統(tǒng) 產(chǎn)品詳情

晶體管動態(tài)特性測試系統(tǒng)ST-AC1200

晶體管動態(tài)特性測試系統(tǒng)ST-AC1200

基礎(chǔ)信息

n高壓源：1200V（選配2000V）

n高流源：100A（選配200A/300A/500A）

n驅(qū)動電壓：±20V（選配±30V）

n時間分辨率：1ns（選配400ps/200ps/100ps）

n系統(tǒng)雜感：＜20nH

n測試對象：Si（SiC/GaN）IGBT,Diode,MOSFET（選配BJT）

n變溫測試：常溫~150℃/200℃

n感性負(fù)載：程控電感（0.01~160mH，步進(jìn)10uH）

n阻性負(fù)載：程控電阻（1Ω,2Ω,5Ω,10Ω,50Ω）備用三個

n測試管型：可以測試N溝道和P溝道的IGBTs,MOSFETs

n測試標(biāo)準(zhǔn)：IEC60747-9/IEC60747-2，GB/T29332/GB/T4023

晶體管動態(tài)特性測試系統(tǒng)ST-AC1200

技術(shù)特點(diǎn)

ü 專注寬禁帶功率器件動態(tài)參數(shù)評測，軟件程控，測試條件界面化輸入，系統(tǒng)閉環(huán)處理，自動調(diào)節(jié)一鍵測試；

ü 采用光纖驅(qū)動信號通訊，響應(yīng)速度快，抗**力強(qiáng)；

ü 自動加熱可由室溫~200℃，精度±0.1℃；

ü 測試結(jié)果Excel，JPEG波形，波形任意縮放細(xì)節(jié)展寬分析

ü 測試主功率回路寄生電感Ls<10nH(實(shí)測);

ü 柵極驅(qū)動電阻Rg端口開放，按設(shè)定條件匹配電阻；

ü DualARM控核，DSP數(shù)據(jù)采樣計算，極大減少控制時延誤差；

晶體管動態(tài)特性測試系統(tǒng)ST-AC1200

試驗(yàn)?zāi)芰?/span>

√標(biāo)配，開通特性測試單元/Turn_ON

√標(biāo)配，關(guān)斷特性測試單元/Turn_OFF

√標(biāo)配，二極管反向恢復(fù)測試單元/Trr

√標(biāo)配，柵電荷測試單元/Qg¨

?選配，容阻測試單元/CR¨

?選配，短路測試單元/SC¨

?選配，雪崩測試單元/UIS¨

?選配，安全工作區(qū)單元/SOA¨

?選配，動態(tài)電阻單元/

晶體管動態(tài)特性測試系統(tǒng)ST-AC1200

參數(shù)指標(biāo)

√ 標(biāo)配（阻性/感性）開關(guān)測試單元 / Turn_ON/OFF

漏極電壓： 5V-1200V，分辨率 1V

漏極電流： 1A-100A，分辨率1A；

柵極驅(qū)動： ±20V （選配±30V），分辨率 0.1V

柵極電流： 2A/MAX

脈沖寬度： 1us-500us,步進(jìn) 0.1us

時間精度： 1ns

感性負(fù)載： 0.01mH-160mH 程序控制，步進(jìn) 10uH

阻性負(fù)載： 1Ω、2Ω、5Ω、10Ω、50Ω , 程控，備用三個電阻

開關(guān)時間： ton/toff： 1-10000ns分辨率1ns （選配400/200/100ps）

開關(guān)延遲： td(on)/td(off）： 0.1-10000ns@1ns （選配400/200/100ps）

上下時間/tr/tf： 1-10000ns分辨率1ns （選配400/200/100ps）

開關(guān)損耗/ Eon/Eoff： 1-2000mJ 最小分辨率 1uJ

√ 標(biāo)配柵極電荷單元 / Qg

驅(qū)動電流： 0-2mA，分辨率 0.01mA

2-20mA，分辨率 0.1mA

20mA-200mA，分辨率 1mA

柵極電壓： ±20V （選配±30V） @0.1V

恒流源負(fù)載： 1-25A，分辨率0.1A

25-100A(選配200A/300A)@1A

漏極電壓： 5-100V，步進(jìn) 0.1V

100-1200V，步進(jìn) 1.0V

柵極電荷 Qg： 1nC-100µC

漏極電荷 Qgs： 1nC-100µC

源極電荷 Qgd： 1nC-100µC

平臺電壓 Vgp： 0~30V，分辨率 0.1V

√ 標(biāo)配二極管反向恢復(fù)測試單元 / Qrr_FRD

正向電流： 1A-25A，分辨率 0.1A

25A-100A （選配200A/300A）分辨率 1A

反向電壓： 5v-100V，步進(jìn) 0.1V

100V-1200V，步進(jìn) 1.0v

反向恢復(fù)時間 Trr： 1-10000ns，最小分辨率1ns （選配400/200/100ps）

反向恢復(fù)電荷 Qrr： 1nC-100µC，最小分辨率 1nC；

反向恢復(fù)電流 Irm： 1A-100A （選配200A/300A）；

反向恢復(fù)損耗 Erec： 1-2000mJ，最小分辨率 1uJ；

電流下降率 dif/dt： 50-1kA/us；

電壓變化率 dv/dt： 50-1kV/us。

? 選配短路特性測試單元/ SC

電流： 1000A/MAX

脈寬： 1us~100us

柵驅(qū)電壓： ±20V （選配±30V） @0.1V

漏極電壓： 5V~100V， 0.1V 分辨率

100V~1200V， 1.0V 分辨率

? 選配雪崩測試單元 / UIS

雪崩耐量/EAS： 100J

雪崩擊穿電壓/2500V

雪崩電流/IAS： 1.0-400A 分辨率 1.0A

感性負(fù)載/0.01-160mH@10μH，程控可調(diào)

? 選配容阻測試單元 / CR

掃頻范圍： 0.1MHz～5MHz

漏源極電壓： 1200V，分辨率 1V

? 選配動態(tài)電阻Ron,dy

晶體管動態(tài)特性測試系統(tǒng)ST-AC1200

關(guān)鍵詞：標(biāo)準(zhǔn)

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產(chǎn)品名稱	參考價	地區(qū)	公司名稱	更新時間
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