Baker DX綜合電機(jī)故障分析儀
Baker DX綜合電機(jī)故障分析儀能夠發(fā)現(xiàn)工業(yè)電機(jī)絕緣或者電氣系統(tǒng)中的所有的普遍性問題。行業(yè)的和符合標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試范圍包含：
■繞組電阻■電感
■電容
■阻抗
■相位角和品質(zhì)因數(shù)
■絕緣電阻
■介電吸收比(DA)
■極化指數(shù)(PI)
■步進(jìn)電壓絕緣測(cè)試
■直流對(duì)地耐壓測(cè)試
■匝間浪涌測(cè)試
■PD(局放測(cè)試)
■轉(zhuǎn)子偏心測(cè)試 (RIC)
請(qǐng)注意，有些測(cè)試項(xiàng)目需要額外的夾具(請(qǐng)看下頁中的列表)。
Baker DX綜合電機(jī)故障分析儀的特點(diǎn)有:
■4 - 40 kV為輸出電壓范圍，這些測(cè)試范圍能夠?qū)﹄姍C(jī)或者線圈（從分馬力電機(jī)到兆級(jí)功率發(fā)電機(jī)）做全面的測(cè)試
■用同一臺(tái)儀器對(duì)電機(jī)電路或者絕緣系統(tǒng)做高壓或者低壓測(cè)試
■直觀的和圖形化的用戶界面，以及大尺寸和可戴手套操作的觸摸屏
■USB接口被用于連接打印機(jī)和U盤，使用戶可以打印測(cè)試報(bào)告和進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸
■線圈模式使得用戶可以快速的測(cè)試很多線圈并且存儲(chǔ)所有的數(shù)據(jù)
Baker DX綜合電機(jī)故障分析儀提供了綜合性的測(cè)試，這些測(cè)試能夠發(fā)現(xiàn)幾乎所有的電機(jī)問題。下表揭示了不同的測(cè)試所對(duì)應(yīng)的電機(jī)問題。有些測(cè)試項(xiàng)目需要額外的附件和DX測(cè)試儀一起使用。
局部放電的測(cè)試
高壓設(shè)備可能遇到局部靜電放電，這種局部電暈或者擊穿放電可能會(huì)損壞絕緣，進(jìn)而可能導(dǎo)致絕緣逐步退化以及電路故障。
我們可以通過可選的BAKER DX匝間浪涌局放功能在早期就能發(fā)現(xiàn)這種繞組絕緣故障，局放測(cè)試功能符合IEC 61934標(biāo)準(zhǔn)。局放測(cè)試的波形和數(shù)據(jù)被包含在BAKER DX儀器中和Surveyor DX臺(tái)式機(jī)軟件所生成的報(bào)告中。
直流電機(jī)測(cè)試
Baker DX的直流電機(jī)測(cè)試是非?？焖俸蜏?zhǔn)確的。測(cè)試儀中有電樞測(cè)試模式以及用戶界面和報(bào)告功能。對(duì)間極和勵(lì)磁線圈的測(cè)試結(jié)果是被特別標(biāo)記的。儀器能夠?qū)χ绷麟姍C(jī)電樞做片間和跨間測(cè)試，其測(cè)試結(jié)果能夠被用來分析直流電機(jī)電樞線圈的短路、開路、匝間絕緣薄弱、線圈不平衡以及電樞換向片接片和均壓線的破損或者錯(cuò)接問題。為了更好地做電樞分析，Baker DX可以和BAKER ZTX低電抗測(cè)試附件一起使用。這種ZTX附件能夠?qū)Υ蠖鄶?shù)直流電機(jī)電樞做片間測(cè)試。在測(cè)試阻抗非常低的線圈時(shí)，BAKER ZTX可以降低匝間浪涌測(cè)試電壓并有效的升高匝間浪涌電流。
