本公司5月8日15點(diǎn)10分報(bào)道:ITC75100 晶體管圖示儀的工作原理#技術(shù)新聞
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產(chǎn)品描述
ITC75100 是一種增強(qiáng)的未夾式電感負(fù)載 (UIL) 測(cè)試系統(tǒng),它基于 ITC 行業(yè)先的 ITC55 系列測(cè)試儀的成功,增加了額外的測(cè)試和測(cè)量能力。
ITC75100 對(duì)功率 MOSFET、IGBT 和二管進(jìn)行堅(jiān)固性測(cè)試,這些測(cè)試符合 MIL-STD-750 方法 3470,通過(guò)強(qiáng)調(diào)它們達(dá)到受控的能量水平,由驅(qū)動(dòng)未夾緊電感負(fù)載的設(shè)備完成。改進(jìn)的測(cè)試規(guī)范允許控制測(cè)試參數(shù)。
特征
• 平板電腦用戶界面,具有大顯示屏和增強(qiáng)的數(shù)據(jù)處理能力
• 低電流和快速電流波形功能
• 用于 DUT 和接口保護(hù)的內(nèi)部并行能量路徑
• 使用本地柵驅(qū)動(dòng)器測(cè)量 POD
• 帶 30V 總回轉(zhuǎn)的主動(dòng)?xùn)膨?qū)動(dòng)
• 在測(cè)試或測(cè)試后的指*定延遲時(shí)間(高達(dá) 250μSec)之,使用可編程電流源精確測(cè)量 Rdson 在指*定電流別下使用 Vf 雜物
• 單/雙(需要兩個(gè) POD)設(shè)備測(cè)試
• 波形捕獲/顯示
• 測(cè)試處理程序控制和裝箱
• 內(nèi)置自檢
• 對(duì)所有測(cè)試儀測(cè)量的簡(jiǎn)單用戶校準(zhǔn)
• 使用所有 ITC 電感盒運(yùn)行
• 通用交流電源輸入
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