裝置概述
主要研究對象:目前材料、物理和化學(xué)研究的熱點(diǎn)之一的二維薄膜材料體系。
主要功能:是用來測量熱電薄膜的熱電性質(zhì),包括電導(dǎo)和Seebeck系數(shù)。
2組成部分:主要由探針臺和控制系統(tǒng)兩部分組成。其中探針臺包括四探針、變溫臺和光學(xué)顯微鏡;控制系統(tǒng)包括控溫系統(tǒng)、電學(xué)性質(zhì)測量設(shè)備和數(shù)據(jù)采集和分析系統(tǒng)。
主要特色:可以同時(shí)測定薄膜樣品,例如單層石墨烯,的電導(dǎo)(四探針測量模式)和Seebeck系數(shù);溫度可從4K到400K連續(xù)可調(diào);氣氛可控。