一、概 述:
EXPLORER采用模塊化設(shè)計,全部組件可以進行拆分為7個模塊,同時可以在5個獨立自由度上檢測樣品。同時EXPLORER可以提供多種配置,如范圍更寬的X射線源、光路、樣品臺和檢測器等,可以滿足各種應(yīng)用需求。此外將直接傳動轉(zhuǎn)矩馬達與優(yōu)勢的光學(xué)編碼器相結(jié)合,確保了儀器的傳動速度和精度,可以勝任各類樣品的定性和定量分析。
二、應(yīng)用范圍:
EXPLORER可以進行常規(guī)的晶相識別和相定量,可以分析晶體尺寸、晶格應(yīng)變及結(jié)晶度的計算。也可以定量分析殘留奧氏體、多晶物篩查、晶體結(jié)構(gòu)分析、殘余應(yīng)力分析、薄膜分析、深度剖析、相變紋理和優(yōu)先取向和納米粒子分析。