本產(chǎn)品可精確測量殘余奧氏體的含量,對于熱處理的控制是非常重要的,X射線衍射法(XRD)是可以測量殘余奧氏體百分比含量低至0.5%的方法,殘余奧氏體的測量遵循國際標準ASTM E975-03規(guī)則。
X射線衍射法可以準確測定鋼熱處理后殘余奧氏體的含量,能夠為鋼鐵熱處理過程控制提供可靠保證,提高產(chǎn)品質(zhì)量。
X射線衍射法是目前為止測量鋼體中殘余奧氏體含量最準確的方法。根據(jù)ASTM E975-03的X射線測量鋼中殘余奧氏體近晶體隨機取向的標準方法,ARE X這款儀器能夠很輕松檢測出鋼體中殘余奧氏體的含量。
X射線發(fā)生器 | 輸出功率 | 3KW |
輸出穩(wěn)定性 | <0.01% (電源供給10%的波動) | |
輸出電壓 | 60KV | |
輸出電流 | 60mA | |
電壓步寬 | 0.1KV | |
電流步寬 | 0.1mA | |
波動 | 0.03% rms < 1kHz, 0.75% rms > 1kHz | |
預(yù)熱與電路 | 自動預(yù)熱和斜坡控制電路 | |
輸入電壓 | 230 V +/- 10%, 50 或60 Hz, 單相 | |
X射線光管 | 光管類型 | 玻璃(可選陶瓷),Mo靶材,細焦斑(可根據(jù)要求選其他型號) |
焦斑尺寸 | 0.4 x 8 mm FF (可選0.4 x 12 mm LFF; 1 x 10 mm NF) | |
準直 | 單毛細管準直器:直徑1 - 2毫米 | |
輸出電壓 | 3KV | |
測角儀 | 配置 | 垂直測角儀 |
掃描角范圍 | 27° < 2θ< 40° | |
角準確度 | ± 0.001° | |
樣品臺 | 尺寸 | 110 mm x 150 mm |
探測器 | 類型 | 高分辨率,帶直接耦合(微米)光纖輸入的X射線數(shù)碼攝像儀和帶制冷CCD |
機體 | 尺寸 | 658 mm X1059 mm X762 mm |
X射線泄露量 | < 1 mSv/年 (按照國際準則充分安全屏蔽) | |
處理單元 | 計算機類型 | 個人計算機 |
控制對象 | X射線發(fā)生器、探測器和數(shù)據(jù)庫 | |
基本數(shù)據(jù)處理 | 建立校準曲線,殘余奧氏體計算 |