X射線合金鍍層測(cè)厚儀器
Microp XRF-2020
根據(jù)Ｘ射線穿透被測(cè)物時(shí)的強(qiáng)度衰減來(lái)進(jìn)行轉(zhuǎn)換測(cè)量厚度的，即測(cè)量被測(cè)金屬鍍層所吸收的Ｘ射線量，根據(jù)該X射線的能量值，確定被測(cè)件的厚度。
由X射線探測(cè)頭將接收到的信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，經(jīng)過(guò)前置放大器放大，再由專用測(cè)厚儀操作系統(tǒng)轉(zhuǎn)換為顯示出直觀的實(shí)際厚度信號(hào)。
X射線合金鍍層測(cè)厚儀器
Microp XRF-2020
根據(jù)Ｘ射線穿透被測(cè)物時(shí)的強(qiáng)度衰減來(lái)進(jìn)行轉(zhuǎn)換測(cè)量厚度的，即測(cè)量被測(cè)金屬鍍層所吸收的Ｘ射線量，根據(jù)該X射線的能量值，確定被測(cè)件的厚度。
由X射線探測(cè)頭將接收到的信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，經(jīng)過(guò)前置放大器放大，再由專用測(cè)厚儀操作系統(tǒng)轉(zhuǎn)換為顯示出直觀的實(shí)際厚度信號(hào)。
X射線源強(qiáng)度的大小，與X射線管的發(fā)射強(qiáng)度和被測(cè)物品所吸收的X射線強(qiáng)度相關(guān)。一個(gè)在系統(tǒng)量程范圍內(nèi)的厚度，為了確定其所需的X射線能量值，可利用X射線檢測(cè)儀進(jìn)行校準(zhǔn)。在檢測(cè)任一特殊厚度時(shí)，系統(tǒng)將設(shè)定X射線的能量值，使檢測(cè)能夠順利完成。
在厚度一定的情況下，X射線的能量值為常量。當(dāng)安全快門打開(kāi)，X射線將從X射線源和探頭之間的被測(cè)物件中通過(guò)，被測(cè)物件將一部分能量吸收，剩余的X射線被位于X射線源正上方的探頭接收，探頭將所接收的X射線轉(zhuǎn)換為與之大小相關(guān)的輸出電壓。如果改變被測(cè)物件的厚度。則所吸收的X射線量也將改變，這將使探頭所接收的X射線量發(fā)生變化，檢測(cè)信號(hào)也隨之發(fā)生相應(yīng)的變化。
XRF-2020鍍層測(cè)厚儀性能特點(diǎn)
由上往下照式
全自動(dòng)測(cè)試臺(tái)面
高精度移動(dòng)平臺(tái)
多個(gè)準(zhǔn)直器
高分辨率探頭
可視化操作
自動(dòng)定位移動(dòng)平臺(tái)
自動(dòng)尋找光斑
鼠標(biāo)定位測(cè)試點(diǎn)
超大樣品腔設(shè)計(jì)
測(cè)試口安全防護(hù)
X射線測(cè)厚儀技術(shù)指標(biāo)如下圖 XRF-2020
韓國(guó)MicroP XRF-2020膜厚儀
功能應(yīng)用：
檢測(cè)電子電鍍,五金電鍍,PCB板，LED支架半導(dǎo)體連接器等電鍍層厚度。
測(cè)量鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳，鍍鋅鎳合金等
可測(cè)單層、雙層、多層、合金鍍層測(cè)量，不限底料
可測(cè)單鍍層,雙多鍍層,多鍍層及合金鍍層
部份測(cè)試范圍
鍍銀測(cè)量范圍0.1-50um
鍍鎳測(cè)量范圍0.5-30um
鍍銅測(cè)量范圍0.5-30um
鍍錫測(cè)量范圍0.5-50um
鍍金測(cè)量范圍0.03-6um
鍍鋅測(cè)量范圍1-30um
鋅鎳合金測(cè)量范圍1-25um
鍍鉻測(cè)量范圍0.5-25um
儀器規(guī)格
XRF-2020L型:測(cè)量樣品長(zhǎng)寬55cm,高3cm:臺(tái)面載重3kg
XRF-2020H型:測(cè)量樣品長(zhǎng)寬55cm,高10cm:臺(tái)載重5kg
儀器全自動(dòng)臺(tái)面,自動(dòng)雷射對(duì)焦,多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量
多個(gè)準(zhǔn)直器可選擇：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03×0.5mm
可配多個(gè)或單個(gè)準(zhǔn)直器,準(zhǔn)直器大小可自動(dòng)切換
韓國(guó)先鋒XRF-2020L型,H型,PCB型
(MicropXRF-2000,XRF-2020）
