XAVU鍍層測(cè)厚儀
XAU系列能量色散X熒光光譜分析儀，是一款配備SDD探測(cè)器的高效率鍍層測(cè)厚儀！ 此款產(chǎn)品可適用于固體和液體的含量檢測(cè)，用于液體中高含量金屬成分的檢測(cè)，滿足高測(cè)試精度和高準(zhǔn)確度。 搭配微聚焦X射線發(fā)生器和*的光路轉(zhuǎn)換聚焦系統(tǒng)，以及高敏變
- 測(cè)量面積：最小0.002mm²
- 鍍層分析：23層鍍層24種元素
- 儀器特點(diǎn)：可變焦對(duì)焦
- 儀器優(yōu)勢(shì)：同元素不同層分析
- 服務(wù)宗旨：一六儀器，品質(zhì)
XAVU系列能量色散X熒光光譜分析儀，是一款配備SDD探測(cè)器的高效率光譜分析儀！
此款產(chǎn)品可適用于固體和液體的含量檢測(cè)，用于液體中高含量金屬成分的檢測(cè)，滿足高測(cè)試精度和高準(zhǔn)確度。
搭配微聚焦X射線發(fā)生器和*的光路轉(zhuǎn)換聚焦系統(tǒng)，以及高敏變焦測(cè)距裝置，可測(cè)試極微小和異形樣品。
含量分析檢出限1ppm，可檢測(cè)鍍層厚度0.005um ，最小測(cè)量面積0.04mm² · 凹槽深度測(cè)量范圍可達(dá)0至30mm，特殊要求可達(dá)90mm。
外置的高精密微型滑軌，可以快速控制樣品移動(dòng)，移動(dòng)精度0.005mm，速度10-30mm（X-Y）/圈，再小再多的樣品測(cè)試都可輕松操作。
| 技術(shù)參數(shù)： |
| 1.探測(cè)器：半導(dǎo)體冷卻硅漂移SDD探測(cè)器 |
| 2.探測(cè)器分辨率：130±5ev |
| 3.涂鍍層分析范圍：各種元素及有機(jī)物 |
| 4.可一次性同時(shí)分析：23層鍍層，24種元素 |
| 5.最小測(cè)量面積：0.04mm² |
| 6.對(duì)焦距離：0-30mm，特殊要求可達(dá)90mm |
| 7.樣品腔尺寸：500mm×360mm×215mm |
| 8.儀器尺寸：550mm×480mm×470mm |
| 9.儀器重量：45kg |
| 儀器配置： |
| 1.微焦X射線發(fā)生器 |
| 2.光路轉(zhuǎn)換聚焦系統(tǒng) |
| 3.高敏變焦測(cè)距裝置 |
| 4.半導(dǎo)體冷卻硅漂移SDD探測(cè)器 |
| 5.*的數(shù)字多道分析 |
| 6.高精度微型移動(dòng)滑軌 |
| 7.標(biāo)準(zhǔn)片Ni/Fe 5um |
| 8.標(biāo)準(zhǔn)片Au/Ni/Cu 0.1um/2um |
