深圳市恩陽(yáng)電子有限公司是一家集X熒光光譜儀（RoHS檢測(cè)儀，膜厚測(cè)試儀）維修、鹵素升級(jí)、光譜儀買(mǎi)賣(mài)租賃及儀器數(shù)據(jù)校正為一體的綜合服務(wù)企業(yè)。公司成立于2012年10月，坐落于深圳市松崗鎮(zhèn)。公司本著“客戶*、高效快捷、誠(chéng)信務(wù)實(shí)、價(jià)格合理”的經(jīng)營(yíng)合作理念,為您提供快速優(yōu)質(zhì)的技術(shù)服務(wù)。深圳恩陽(yáng)電子有限公司由原各大儀器廠商技術(shù)專家和營(yíng)銷(xiāo)精英組建，目前已經(jīng)與眾多優(yōu)秀的企業(yè)合作,致力打造X熒光光譜儀*質(zhì)的服務(wù)平臺(tái)！

深圳市恩陽(yáng)電子供應(yīng)二手天瑞儀器，二手Fisher儀器。XULM,EDX1800/EDX2800/EDX3000C型和EDX3000B型等設(shè)備，成色新，能應(yīng)付公司工廠的ROHS品質(zhì)篩選，并可*/短期審廠租賃，能檢重金屬，鹵素，鍍層分析，玩具指令等。為你的生產(chǎn)保駕護(hù)航

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介在線詢價(jià)

XAU-4CS光譜分析儀性能優(yōu)勢(shì)：1.微小樣品檢測(cè)：最小測(cè)量面積0.03mm（加長(zhǎng)測(cè)量時(shí)間可小至0.01mm）2.變焦裝置算法：可改變測(cè)量距離測(cè)量凹凸異形樣品，變焦距離可達(dá)0-30mm3.的EFP算法：Li(3)-U(92)元素的涂鍍層，多層多元素，甚至有同種元素在不同層也可精準(zhǔn)測(cè)量

XAU-4CS光譜分析儀產(chǎn)品詳情

XAU-4CS光譜分析儀

性能優(yōu)勢(shì)：1.微小樣品檢測(cè)：最小測(cè)量面積0.03mm²（加長(zhǎng)測(cè)量時(shí)間可小至0.01mm²）2.變焦裝置算法：可改變測(cè)量距離測(cè)量凹凸異形樣品，變焦距離可達(dá)0-30mm3.的EFP算法：Li(3)-U(92)元素的涂鍍層，多層多元素，甚至有同種元素在不同層也可精準(zhǔn)測(cè)量。 4.*的解譜技術(shù)：減少能量相近元素的干擾，降低檢出限。 5.高性能探測(cè)器：S

測(cè)量面積：最小0.03mm²
鍍層分析：23層鍍層24種元素
儀器特點(diǎn)：RoHS鹵素有害元素檢測(cè)
儀器優(yōu)勢(shì)：同元素不同層分析
服務(wù)宗旨：專注研發(fā)，專業(yè)生產(chǎn)，專精服務(wù)

儀器簡(jiǎn)介：

XAU-4CS是一款設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)緊湊，模塊精密化程度的光譜分析儀，采用了下照式C型腔體設(shè)計(jì)，是一款一機(jī)多用型光譜儀。

應(yīng)用核心EFP算法和微光聚集技術(shù)，既保留了專用測(cè)厚儀檢測(cè)微小樣品和凹槽的性能，又可滿足微區(qū)RoHS檢測(cè)及成分分析。

被廣泛用于各類(lèi)產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來(lái)料檢驗(yàn)和對(duì)生產(chǎn)工藝控制的測(cè)量使用。

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：

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技術(shù)參數(shù)：

1. 成分分析范圍：鋁（Al）- 鈾（U）

2. 成分檢出限：1ppm

3. 涂鍍層分析范圍：鋰（Li）- 鈾（U）

4. 涂鍍層檢出限：0.005μm

5. 最小測(cè)量直徑□0.1*0.3mm（最小測(cè)量面積0.03mm²）

標(biāo)配：最小測(cè)量直徑0.3mm（最小測(cè)量面積0.07mm²）

6. 對(duì)焦距離：0-30mm

7. 樣品腔尺寸：500mm*360mm*215mm

8. 儀器尺寸：550mm*480mm*470mm

9. 儀器重量：45KG

10. XY軸工作臺(tái)移動(dòng)范圍：50mm*50mm

11. XY軸工作臺(tái)承重：5KG

應(yīng)用領(lǐng)域：

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多元迭代EFP核心算法（號(hào)：2017SR567637）

專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)在Alpha和Fp法的基礎(chǔ)上，計(jì)算樣品中每個(gè)元素的一次熒光、二次熒光、靶材熒光、吸收增強(qiáng)效應(yīng)、散射背景等多元優(yōu)化迭代開(kāi)發(fā)出EFP核心算法，結(jié)合*的光路轉(zhuǎn)換技術(shù)、變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)，只需要少量的標(biāo)樣來(lái)校正儀器因子，可測(cè)試重復(fù)鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機(jī)物層的厚度及成分含量。

單涂鍍層應(yīng)用：如Ni/Fe、Ag/Cu等

多涂鍍層應(yīng)用：如Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn等

合金鍍層應(yīng)用：如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等

合金成分應(yīng)用：如NiP/Fe，通過(guò)EFP算法，在計(jì)算鎳磷鍍層厚度的同時(shí)，還可精準(zhǔn)分析出鎳磷含量比例。

重復(fù)鍍層應(yīng)用：不同層有相同元素，也可精準(zhǔn)測(cè)量和分析。

如釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB，層Ni和第三層Ni的厚度均可測(cè)量。

有害元素檢測(cè)：RoHS檢測(cè)，可滿足鉛（Pb）、汞（Hg）、鎘（Cd）、六價(jià)鉻（Cr VI）等有害元素的成分檢測(cè)及含量分析

選擇一六儀器的四大理由：

1.一機(jī)多用，無(wú)損檢測(cè)（涂鍍層檢測(cè)-環(huán)保RoHS-成分分析）

2.最小測(cè)量面積0.002mm²

3.可檢測(cè)凹槽0-30mm的異形件

4.輕元素，重復(fù)鍍層，同種元素不同層亦可檢測(cè)

配置清單：

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關(guān)鍵詞：光譜儀測(cè)厚儀

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產(chǎn)品名稱	參考價(jià)	地區(qū)	公司名稱	更新時(shí)間
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