Agilent B1500A 半導體器件分析儀是一款真正意義上的參數分析儀
Ø 嵌入式 Windows 7 和功能強大的 EasyEXPERT 軟件借助*的圖形用戶界面（GUI），可讓您執(zhí)行高效、深入、數據可恢復的器件表征。
Ø 這款*佳表征解決方案可對器件、材料、半導體、有源/無源元件以及任意電氣器件進行各種電氣表征和評測。
Ø 根據您的測試需求，模塊化結構可升級至 10 插槽配置。
**的測量能力和的測量可靠性
Ø Agilent B1500A 針對基礎和上等器件表征提供以下功能。
| 測量功能 | 主要技術指標/特性 | 測量模塊 | |
| 電流/電壓（IV）測量 | 電源和測量范圍高達 200 V/1 A *低測量分辨率為 0.1 fA / 0.5 µV 針對基礎和上等 IV 測量提供點測量、掃描測量等功能 | B1511B /B1511B /B1511B SMU（電源/測量單元） | |
| 準靜態(tài) CV（QS-CV） | **的準靜態(tài)電容-電壓（QS-CV）測量，具有泄露電流補償 | ||
| 采樣測量 | 采樣（時域）測量間隔為 100 µs | B1510A/B1511A/B1517A SMU（電源/測量單元） | |
| 脈沖測量 | 低至 500 µs | 在 500 µs 脈寬、2 μs 分辨率的條件下執(zhí)行脈沖測量 | |
| 低至 100 ns | 適用于脈沖 IV 和瞬時 IV 的超快速 IV 測量功能，例如 NBTI/PBTI、RTN（隨機電報信號噪聲）等 脈沖測量，脈寬為 50 μs 電源和測量范圍高達 30 V / 1 A（0.1 A 直流） 支持示波器視圖 利用 10 ns 編程分辨率生成波形 同時執(zhí)行高速 IV 測量（200 MSa/s，采樣率為 5 ns） 10V 峰峰值輸出 利用動態(tài) SMU 技術，負載線不會影響脈沖 IV 測量的精度 | B1514A 50 µs 脈沖 MCSMU （中等電流電源/測量單元） | |
| 低至 10 ns | 適用于高 k/SOI 脈沖 IV 的表征解決方案 選**沖寬度是 10 ns 至 1 µs，上升和下降時間*小值為 2 ns | B1542A 10 ns 脈沖 IV 參數測試解決方案 | |
| 脈沖生成 | 高壓輸出可達±40 V，適用于非易失存儲器測試 為單通道提供二電平和三電平脈沖 利用 10 ns 分辨率靈活地生成任意波形（任意線性波形生成功能） 每個模塊具有兩個通道 | B1525A HV-SPGU（高電壓半導體脈沖發(fā)生器單元） | |
| 交流阻抗（CV）測量 | 交流阻抗測量（C-V、C-f、C-t） 頻率范圍 1 kHz 至 5 MHz SMU 提供 25 V 內置直流偏置和 100 V 直流偏置 SCUU 能夠快捷、**地改變 IV 和 CV 自動連接 | B1520A MFCMU（多頻率電容測量單元） | |
在研發(fā)的各個階段中（從探測到自動化）實現高效、數據可恢復的器件表征
Ø EasyEXPERT 軟件在嵌入式 Windows 7 中運行
Ø 數百種測量程序庫在需要時即可使用（應用測試）
Ø -15 英寸觸摸屏支持您在器件表征時采取直觀的操作、分析與探測
Ø 自動數據記錄特性支持測試數據和測試條件的恢復，可使您輕松地進行探測
Ø 利用曲線追蹤（旋鈕操作）和自動記錄特性來實現實時交互表征
Ø -EasyEXPERT 的曲線追蹤儀測試模式通過旋鈕來控制可變掃描，與傳統(tǒng)的曲線追蹤儀類似
Ø -示波器視圖能夠顯示施加到器件中的電壓和電流波形，從而幫助用戶優(yōu)化測試條件、觀察器件的瞬時現象
Ø 利用便捷的在線/離線測試環(huán)境完成測試開發(fā)與分析，從而*大限度地發(fā)揮儀器效用
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在訂貨前*好還是致電我們，以確定貨期和數量。
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