概述

本質(zhì)安全型Parsum IPP 70-SE可用于化學(xué)、食品及醫(yī)藥行業(yè)中的終點(diǎn)檢測(cè)、工藝控制/優(yōu)化以及實(shí)時(shí)質(zhì)量控制。 適合在如磨碎、團(tuán)聚、造粒、篩分以及噴霧干燥等設(shè)備操作中使用。

• 輕巧且便于安裝，可與新型加工設(shè)備或現(xiàn)有加工設(shè)備快速整合。
• 動(dòng)態(tài)檢測(cè)范圍寬—粒度為50 - 6000µm的顆粒，高達(dá)50m/s的速率檢測(cè)。
• 對(duì)高固體負(fù)荷測(cè)量結(jié)果重復(fù)性高，即使是無(wú)規(guī)律移動(dòng)的顆粒，是流化床監(jiān)測(cè)的理想產(chǎn)品。
• 通過(guò)綜合型、客制化軟件進(jìn)行實(shí)時(shí)測(cè)量及反饋。
• 無(wú)需采樣或校準(zhǔn)。
• 多種附件，可應(yīng)用于研磨類、油脂類、粘性及附著性顆粒。
• 經(jīng)ATEX 100認(rèn)證。

工作原理

Parsum IPP 70-SE探頭采用成熟的空間濾波測(cè)速測(cè)量理論。 無(wú)需校準(zhǔn)或采樣且無(wú)顆粒為球型的假設(shè)。 探頭本身可用于0、1以及2、20、21與22區(qū)，配有用于1區(qū)及21區(qū)的電子器件外殼。

空間濾波測(cè)速是一種以數(shù)字為基礎(chǔ)的弦長(zhǎng)測(cè)定法，通過(guò)收集各個(gè)顆粒的數(shù)據(jù)，得出顆粒粒度分布。

穿過(guò)激光束墜落的顆粒投射出一片陰影，中斷了至線性監(jiān)測(cè)器陣列（由光纖組成）的光線流。 由空間濾波檢測(cè)器線性相鄰纖維元件的連續(xù)中斷來(lái)計(jì)算顆粒的速度。 采用第二信號(hào)—脈沖信號(hào)來(lái)確定粒度，即測(cè)量顆粒阻擋一個(gè)信號(hào)光纖的時(shí)間長(zhǎng)度。

測(cè)量大量顆粒可得出令人滿意的可靠結(jié)果，從而根據(jù)用戶需要，導(dǎo)出各種粒度參數(shù)以及體積分布的參數(shù)。

Parsum IPP 70-SE可直接安裝在管線內(nèi)或容器內(nèi)。 雖然無(wú)需備制樣品，但可采用內(nèi)部壓縮空氣來(lái)分散聚顆粒，保持樣品池與光學(xué)器件無(wú)附著的顆粒，同時(shí)可在高固體負(fù)荷及高溫下進(jìn)行測(cè)量。

信息從測(cè)量區(qū)域通過(guò)光纖電纜傳遞至探頭的電子外殼，增加了儀器的穩(wěn)健性。 然后，數(shù)據(jù)可傳遞至控制室或現(xiàn)有的控制系統(tǒng)，進(jìn)行工藝監(jiān)測(cè)及控制。 由于該儀器在傳感區(qū)進(jìn)行集中測(cè)量，可采用適合的關(guān)聯(lián)性對(duì)流量的變化進(jìn)行預(yù)測(cè)。

技術(shù)指標(biāo)

顆粒粒度

測(cè)量范圍：:

50-6000µm

顆粒速度

測(cè)量范圍：:

0.01 – 50m/s

常規(guī)

測(cè)量原理：:

空間濾波測(cè)速儀

光源:

670nm

激光安全：:

1 類

運(yùn)行環(huán)境

溫度:

10°C – 60°C

濕度:

35% - 80%無(wú)冷凝

外殼防護(hù)等級(jí):

IP 65

支持

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