運(yùn)行
測(cè)試主體: ERT-電阻層析成像儀器
點(diǎn)擊數(shù)及分布: 32個(gè)電極: 每個(gè)面 16電極 x 1個(gè)測(cè)試斷面, 16 x 2 planes, 8 x2 或8x4分布.
傳感測(cè)量協(xié)議:非導(dǎo)圓形容器圖像重建算法:線性反投影法(LBP)
重復(fù)性(測(cè)量精度%)
Cycle no. | 4.7kohm/ 2.2kohm Resistor network (%) | 10kohm/ 22kohm Resistor network (%) |
1 | 0.713 | 0.660 |
2 | 0.405 | 0.425 |
4 | 0.248 | 0.284 |
5 | 0.184 | 0.238 |
采集速度(基于每個(gè)位面16個(gè)電極)
Cycle no. | 每幀速度(104測(cè)量點(diǎn)@mS) | 每秒幀數(shù)(幀/秒) |
1 | 1.6 | 625* |
2 | 3.2 | 312 |
4 | 6.4 | 156 |
5 | 8 | 125* |
*幀采集速度:
a)。 625幀/ S @ 1周期和125幀/秒,5個(gè)周期@一個(gè)通道,16個(gè)電極
b)2500幀/ S,1個(gè)周期@一個(gè)通道,8個(gè)電極
硬件
輸入:非導(dǎo)通相鄰,0V至5V
注入頻率:10kHz
輸出:-10V(pp)至+ 10V(pp)
內(nèi)存:8MB RAM
模擬輸入通道數(shù)和分辨率:40個(gè)不同通道或80個(gè)單端通道,16位分辨率
輸入范圍:±10V,±5V,±2,±1,±0.5V,±0.2V,±0.1V
采樣率:750kS / s多通道
模擬輸出通道數(shù)和分辨率:2,16位分辨率I / O端口數(shù)量:24個(gè)(8個(gè)有波形特性)
外部模擬IO盒:4通道輸入4-20 mA,3通道4-20 mA輸出。
設(shè)計(jì)
DAS板:NI USB 6255
振蕩器:80MHz(8個(gè)采樣周期)
激勵(lì)次數(shù):1,2,4,5
測(cè)量模式:順序
靈敏度:3.2uV @增益x50
解調(diào)類型:相敏解調(diào)
轉(zhuǎn)換接口
串行數(shù)據(jù)接口:USB 2.0高速接口
相移補(bǔ)償:0.1o至180.0o
電源
輸入: 100 – 240 V a/c, 50/60 Hz 1.5A
消耗功率: DC 24 V 45W
軟件
GUI圖形用戶界面: LabVIEW
儀器控制:相鄰傳感協(xié)議測(cè)量
重建圖像:LBP顯示
數(shù)據(jù)分析:查看斷層掃描數(shù)據(jù)
輸出:輸出原始電壓測(cè)量和電壓曲線
控制計(jì)算機(jī)配置要求
GUI: Windows 7 (32 bit)
CPU: Pentium 4 or above
Memory: 16GB